[發明專利]全自動磨拋機拋光盤型試樣的輔助夾具

在審

• 申請號: 202110228739.8
• 申請日: 2021-03-02
• 公開（公告）號: CN112757137A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: 馮一可;楊國良;張旭
• 申請（專利權）人: 核工業理化工程研究院
• 主分類號: B24B29/00
• 分類號: B24B29/00;B24B41/04
• 代理公司: 天津市宗欣專利商標代理有限公司 12103
• 代理人: 馬倩

本發明公開了一種全自動磨拋機拋光盤型試樣的輔助夾具，輔助夾具包括夾具主體，所述夾具主體頂端設置多個限位柱，底端形成至少一個裝配槽。本發明輔助夾具實現全自動磨拋機在不同的轉速和下壓力條件下，對較大尺寸圓盤型試樣進行全自動磨拋功能；保證磨拋后樣品上下兩表面的平行度；單位時間內最小可以達到同時拋光3個直徑最大為2.74英寸盤型試樣呈鏡面效果，且各盤樣間拋光效果一致，有效提高拋光效率。

技術領域

本發明屬于機械拋光裝置領域，具體涉及一種全自動磨拋機拋光盤型試樣的輔助夾具。

背景技術

參照美國材料與試驗協會制定的ASTM G99-2017 “Standard Test Method forWear Testing with a Pin-on-Disk Apparatus 用針盤儀進行磨損試驗的標準試驗方法”，為保證高轉速下磨損體系的穩定性，美、歐、日等國家在此基礎上研制的高精度摩擦磨損試驗機通常默認盤型試樣的直徑尺寸為2.74英寸（約69.6毫米）、高度為0.26英寸（約6.6毫米），并將此定為標準的盤型試樣尺寸。

在摩擦磨損試驗中，磨損的狀態和程度與被檢測樣品的表面質量直接相關聯，試驗前必須對被測樣品的表面質量進行有效的控制。機械拋光是依靠非常細小的拋光粉的研磨、滾壓作用，除去試樣磨面上極薄的一層金屬，形成平坦、小缺陷的表面質量。通過提高試樣的表面光潔度、消除細小劃痕，對表面質量達到“精確”控制，從而提高摩擦磨損試驗結果的準確性和有效性。因此在不考慮電解拋光等非環保型拋光方式的前提下，需采用具有一定加工效率的機械拋光方式對試樣的表面質量進行處理。

高精度摩擦磨損試驗機指定的標準盤型試樣外徑尺寸較大但高度較小，手持拋光方式極易造成盤型試樣的表面質量控制效果不一致，且拋光效率低下。為減小研磨拋光過程中人為造成的盤型試樣表面質量控制的效果不佳、提高拋光質量和效率，需要采用全自動磨拋機。

全自動磨拋機雖然可以實現多工位研磨拋光，但由于其圓形試樣裝卡槽的尺寸較小（最大僅適用于直徑約30mm的圓形試樣），無法滿足摩擦磨損試驗用較大尺寸盤型試樣的表面拋光，因此亟需設計一種在依靠全自動磨拋機處理較大尺寸圓盤表面拋光質量時，與之相配合的輔助夾具。

發明內容

本發明是為了克服現有技術中存在的缺點而提出的，其目的是提供一種全自動磨拋機拋光盤型試樣的輔助夾具。

本發明是通過以下技術方案實現的：

一種全自動磨拋機拋光盤型試樣的輔助夾具，包括夾具主體，所述夾具主體頂端設置多個限位柱，底端形成至少一個裝配槽。

在上述技術方案中，所述夾具主體為圓盤型。

在上述技術方案中，所述限位柱的數量與全自動磨拋機卡盤的限位孔的數量一致。

在上述技術方案中，多個所述限位柱以夾具主體圓心為中心沿圓周均布。

在上述技術方案中，所述裝配槽為多個時，多個裝配槽沿夾具主體圓心為中心沿圓周均布。

在上述技術方案中，所述裝配槽的直徑為試樣直徑的1.05~1.4倍。

在上述技術方案中，所述裝配槽的槽深為試樣高度的0.5~0.9倍。

在上述技術方案中，所述裝配槽為橫截面為圓形。

在上述技術方案中，所述限位柱的頂面與裝配槽的槽底面平行。

在上述技術方案中，所述限位柱的高度大于全自動磨拋機卡盤的限位孔的孔深。

本發明的有益效果是：