[發明專利]一種數據生成方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202110227372.8
• 申請日: 2021-03-01
• 公開（公告）號: CN112884162A
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 柯景耀;潘征;潘燕峰;劉嵐
• 申請（專利權）人: 上海熵熵微電子科技有限公司
• 主分類號: G06N20/00
• 分類號: G06N20/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種數據生成方法，其特征在于，包括：

確定第一數據集合中各第一數據在空間凸區域中的維諾權重；

根據各所述第一數據的維諾權重，對所述第一數據集合與第二數據集合的初始映射關系進行調整，得到目標映射關系，其中，在所述第一數據集合的數據分布和所述第二數據集合的數據分布滿足的映射關系中，所述目標映射關系的傳輸代價最小；

基于所述目標映射關系和各所述第一數據的維諾權重，生成符合所述第二數據集合數據分布的偽數據。

2.根據權利要求1所述的數據生成方法，其特征在于，所述確定第一數據集合中各第一數據在空間凸區域中的維諾權重，包括：

獲取包含第一數據的第一數據集合，將包括所有第一數據的最小凸區域確定為空間凸區域；

基于各所述第一數據的數據分布，構造所述空間凸區域的維諾圖，所述維諾圖中的維諾胞腔與所述第一數據集合中的第一數據一一對應；

確定各所述第一數據所在維諾胞腔的第一胞腔相對體積，并根據各所述第一胞腔相對體積確定各所述第一數據的維諾權重。

3.根據權利要求1所述的數據生成方法，其特征在于，所述確定各所述第一數據所在維諾胞腔的第一胞腔相對體積，并根據各所述第一胞腔相對體積確定各所述第一數據的維諾權重，包括：

在所述空間凸區域中均勻采樣，得到第一總采樣點數；

確定各所述維諾胞腔中的第一胞腔采樣點數，將所述第一胞腔采樣點數與第一總采樣點數之比確定為所述維諾胞腔的第一胞腔相對體積；

取所述第一胞腔相對體積的倒數作為所述維諾胞腔內包含的第一數據的維諾權重。

4.根據權利要求2所述的數據生成方法，其特征在于，所述根據各所述第一數據的維諾權重，對所述第一數據集合與第二數據集合的初始映射關系進行調整，得到目標映射關系，包括：

依據初始映射關系，在所述空間凸區域中形成第二數據集合對應的胞腔分解圖，所述胞腔分解圖中的投影胞腔與所述第二數據集合中的第二數據一一對應；

根據所述胞腔分解圖的胞腔分布和所述維諾圖的胞腔分布，結合各所述維諾胞腔對應的維諾權重，確定各所述投影胞腔的第二胞腔相對體積；

根據各所述第二胞腔相對體積與相應第二數據的目標體積，對所述初始映射關系進行調整，并返回重新形成所述第二數據集合的胞腔分解圖，直至各所述第二胞腔相對體積與對應的目標體積相差均小于預設閾值；

將最終調整得到的初始映射關系確定為目標映射關系。

5.根據權利要求4所述的數據生成方法，其特征在于，所述依據初始映射關系，在所述空間凸區域中形成第二數據集合對應的胞腔分解圖，包括：

針對第二數據集合中的每個第二數據，根據初始映射關系，構造在所述空間凸區域的高維空間中對應的超平面；

將所有超平面的上包絡構成的凸包映射至所述空間凸區域，形成胞腔分解圖。

6.根據權利要求4所述的數據生成方法，其特征在于，所述根據所述胞腔分解圖的胞腔分布和所述維諾圖的胞腔分布，結合各所述維諾胞腔對應的維諾權重，確定各所述投影胞腔的第二胞腔相對體積，包括：

在所述空間凸區域中均勻采樣，得到第二總采樣點數；

針對每個投影胞腔，將與所述投影胞腔相交的維諾胞腔確定為所述投影胞腔的目標投影胞腔；

根據所述投影胞腔與各所述目標投影胞腔相交部分的采樣點數與所述第二總采樣點數，確定各所述目標投影胞腔對應的投影相對體積；

將各所述目標投影胞腔對應的維諾權重和投影相對體積之積的總和確定為所述投影胞腔的第二胞腔相對體積。

7.根據權利要求4所述的數據生成方法，其特征在于，所述根據各所述第二胞腔相對體積與相應第二數據的目標體積，對所述初始映射關系進行調整，包括：

針對每個投影胞腔，獲取所述投影胞腔對應的第二數據的目標體積，確定所述投影胞腔的第二胞腔相對體積與所述目標體積的體積差值；

將所述體積差值與預設學習率之積作為映射關系調整值；

基于所述映射關系調整值調整所述初始映射關系中對應的映射值。