[發明專利]一種高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀在審
| 申請號: | 202110227301.8 | 申請日: | 2021-03-01 |
| 公開(公告)號: | CN113108907A | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發明(設計)人: | 孫鑫;白永林;陳震;石大蓮;李然;曹偉偉;朱軍;王博;王樂;楊凱 | 申請(專利權)人: | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28;G01J3/02;G01J3/04;G01J3/18 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人: | 王楊洋 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 通量 高信噪 靈敏 紫外 光譜 成像 | ||
1.一種高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
包括沿光路依次設置的反射式成像鏡(1)、哈達瑪模板(2)、色散單元、紫外敏感圖像增強型探測器組件(4)和一維平移臺(5);
所述反射式成像鏡(1)的一次像面與色散單元的物面相重合,哈達瑪模板(2)位于該重合面上;
所述哈達瑪模板(2)上各狹縫的長度方向與色散單元的色散方向正交,寬度方向與所述色散方向一致;哈達瑪模板(2)包括編碼窗(21)和編碼模板(22),所述一維平移臺(5)與編碼模板(22)連接,用于移動編碼模板(22);
所述紫外敏感圖像增強型探測器組件(4)包括電子學讀出系統,以及沿光路依次設置的紫外像增強器、光纖面板和可開窗探測器;光纖面板分別與紫外像增強器和可開窗探測器的探測面耦合,可開窗探測器的探測面位于色散單元的像面處;電子學讀出系統與可開窗探測器電連接;
或者,所述紫外敏感圖像增強型探測器組件(4)包括電子學讀出系統,以及沿光路依次設置的紫外像增強器、光纖錐和可開窗探測器;光纖錐分別與紫外像增強器和可開窗探測器的探測面耦合,可開窗探測器的探測面位于色散單元的像面處;電子學讀出系統與可開窗探測器電連接。
2.根據權利要求1所述的高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
所述色散單元為紫外像差校正型成像光柵(3)。
3.根據權利要求1所述的高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
所述色散單元包括沿光路依次設置的反射式準直鏡、平面閃耀光柵和會聚成像鏡。
4.根據權利要求1所述的高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
所述紫外像增強器的入射面處設置有衰減片。
5.根據權利要求1所述的高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
所述哈達瑪模板(2)為連續N階模板,N≥3。
6.根據權利要求5所述的高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
所述哈達瑪模板(2)為反射式或透射式。
7.根據權利要求3所述的高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
所述會聚成像鏡為反射式或透射式。
8.根據權利要求2所述的高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
所述反射式成像鏡(1)的半徑為600mm,面型為拋物面;
所述紫外像差校正型成像光柵(3)的半徑為200mm、面型為球面、成像級次為-1級;
所述編碼窗(21)尺寸為10mm×0.3mm,采用染黑的鋁合金制成;
所述編碼模板(22)尺寸為10mm×0.5mm,采用紫外增強熔石英制成,為3階S矩陣。
9.根據權利要求1所述的高通量、高信噪比和高靈敏的紫外光譜成像儀,其特征在于:
所述反射式成像鏡(1)和哈達瑪模板(2)均為自封閉形式。
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