[發明專利]一種基于X射線成像的圖像采集設備及方法有效
| 申請號: | 202110226403.8 | 申請日: | 2021-03-01 |
| 公開(公告)號: | CN113030131B | 公開(公告)日: | 2022-10-28 |
| 發明(設計)人: | 鄭建;胡美琴;王存 | 申請(專利權)人: | 浙江雙元科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/04 | 分類號: | G01N23/04 |
| 代理公司: | 杭州天勤知識產權代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡紅娟 |
| 地址: | 310005 浙江省杭州市上城區*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 射線 成像 圖像 采集 設備 方法 | ||
本發明公開了一種基于X射線成像的圖像采集設備及方法,包括射線源、X射線相機和機座,機座設有可在其上作X向往復運動的X座,X座設有可在其上作Y向往復運動的Y座,Y座設有可在其上作Z向往復運動的Z座;Z座上設有沿垂直Z向旋轉的θ座,θ座上設有沿垂直X向擺動的R座;R座包括R座支架,R座支架上設有固定被測物的工件放置區,工件放置區的上方設有壓緊件,工件放置區的側面設有定位件。被測物進行圖像采集時,擺動R座使被測物與有效成像面始終保持重合,同時調整Y座和Z座的位置,使得被測物的各個待測點與射線源的距離均保持一致。本發明可對層狀物的各層結構進行準確測量,適用于疊片電池的錯位數據采集。
技術領域
本發明涉及工業檢測技術領域,特別是一種基于X射線成像的圖像采集設備及方法。
背景技術
X射線圖像采集設備,一般是由射線源和相機組成。圖像采集時,將被測物放在射線源和相機之間,射線源發射X射線穿過被測物后,在相機上成像。眾所周知,只有射線完全貫穿整個被測物時,成像才清晰,所采集的圖像數據才可靠。另外,為公眾所知的是,在X射線相機成像時,如圖1所示,射線源1發生的多個有效成像面3是成放射狀投射在相機上的,整個有效成像面3區域從側面看呈扇形分布。當被測物是層狀物時,扇形分布的有效成像面3無法保證被測物4的每層結構都和有效成像面3重合,從而不能保證每層結構都被射線完全貫穿,因此,目前的X射線圖像采集方法,很難采集到每一層的準確圖像數據。
層狀物包括單個物體具有多層結構和多個物體層疊在一起兩種情況。圖1、圖2是單個物體具有多層結構,在用現有X射線成像方法采集數據時的示意圖,由圖可知,顯然不能保證每層結構都與有效成像面3重合,所以無法準確采集到每一層結構的真實數據。圖3、圖4是多個物體層疊在一起,在用現有X射線成像方法采集數據時的示意圖,由圖可知,顯然也不能保證每層結構都與有效成像面3重合,所以也無法準確采集到每一層結構的真實數據。
目前,層狀物的工業檢測需求越來越多,比如鋰電行業中的疊片電池,其對各層之間對齊尺寸有較高要求,如果各層之間的錯位尺寸不在合理的范圍內,疊片電池就有爆炸等安全隱患。所以需對電池各片進行拍照并通過公式計算每層間錯位尺寸,以此來判定各層對齊情況。而目前的X射線圖像采集方法無法準確測得疊片電池各層的真實數據。
如中國專利CN101813642A-具有三自由度運動控制的顯微CT成像設備及其校準方法所公開,該被測物雖然可以在水平方向、豎直方向、旋轉方向可以運動,但是其在運動過程中,不能保證被測物與射線源的距離不變,不能讓被測物各層結構依次旋轉至其軸線與有效成像面重合,顯然該成像設備不能應用于層狀物的成像,不能觀察到層狀物的各層真實數據。
如中國專利CN104655660A公開的一種基于機器視覺的印制電路板自動檢測系統,該檢測系統用于檢測多層印刷電路板層與層之間出現的相對位移,但是該檢測系統只是讓被測物作X方向、Y方向的運動,其運動僅僅局限于水平面內的運動,只能讓水平面內的各觀測點成像清晰,所以該檢測系統有局限性,不適用于疊片電池的錯位檢測。特別的,由于疊片電池各層是柔性的,所以會產生在垂直方向上的彎曲,如圖5所示,所以對檢測系統提出了更高的要求。
綜上所述,目前的圖像采集設備無法對層狀物的各層數據進行準確測量,尤其在被測物各層是柔性物質易變形的情況下,更大大增加了檢測的難度。
發明內容
本發明的發明目的在于提供了一種基于X射線成像的圖像采集設備,能夠實現五維度的運動功能,實現對被測物的圖像數據的精準采集,尤其是針對層狀物的各層結構數據的精準采集,從而對疊片電池的各層錯位現象進行準確測量。
一種基于X射線成像的圖像采集設備,包括射線源、X射線相機和機座,所述機座由下往上依次設有X向往復運動的X座、Y向往復運動的Y座和Z向往復運動的Z座;Z座上設有沿垂直Z向旋轉的θ座,θ座上設有沿垂直X向擺動的R座;R座包括R座支架,R座支架上設有固定被測物的工件放置區,工件放置區的上方設有壓緊件,工件放置區的側面設有定位件;工作時,所述射線源發出的射線經過被測物后到達X射線相機。
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