[發明專利]測量三維尺寸的方法、裝置、系統、電子設備和存儲介質有效
| 申請號： | 202110222601.7 | 申請日： | 2021-03-01 |
| 公開（公告）號： | CN112556580B | 公開（公告）日： | 2021-09-03 |
| 發明（設計）人： | 凌云;崔忠偉 | 申請（專利權）人： | 北京領邦智能裝備股份公司 |
| 主分類號： | G01B11/00 | 分類號： | G01B11/00;G01B11/03;G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 李飛 |
| 地址： | 100082 北京市海淀區永*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量 三維 尺寸 方法 裝置 系統 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種測量三維尺寸的方法，用于測量具有斜面的工件的三維尺寸，所述斜面為所述工件的相對基準面具有斜度的表面，其特征在于，包括：
以第一方向采集工件的第一圖像，所述第一方向垂直于工件的基準面或與所述基準面的法線的夾角在第一預設值以內；
以第二方向采集所述工件的第二圖像，所述第二方向與最大梯度投影線平行或與所述最大梯度投影線的夾角在第二預設值以內，所述最大梯度投影線是指所述斜面上距離所述基準面最遠頂點與距離所述基準面最近頂點連線形成的最大梯度線在所述基準面上的投影線；
以與所述第一方向相反的方向對所述工件進行照明；和/或，以與所述第二方向相反的方向對所述工件進行照明；
根據所述第一圖像和所述第二圖像，確定所述工件的三維尺寸，
其中，所述根據所述第一圖像和所述第二圖像，確定所述工件的三維尺寸，包括：
根據所述第一圖像確定所述斜面的特征點的二維坐標；
基于所述特征點的二維坐標和所述第二圖像，確定所述特征點中第一部分特征點的三維坐標；
基于所述斜面為平面和所述第一部分特征點的三維坐標，擬合得到第二部分特征點的三維坐標；
根據所述第一部分特征點的三維坐標和所述第二部分特征點的三維坐標，得到所述工件的三維尺寸；
或者，
所述根據所述第一圖像和所述第二圖像，確定所述工件的三維尺寸，包括：
獲取所述斜面的曲率；
根據所述第一圖像確定所述斜面的特征點的二維坐標；
基于所述特征點的二維坐標和所述第二圖像，確定所述特征點中部分特征點的三維坐標；
基于所述斜面的曲率和所述部分特征點的三維坐標，擬合得到所述斜面的三維模型；
基于所述斜面的三維模型，確定所述工件的三維尺寸。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一預設值為15°，和/或，所述第二預設值為30°。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一預設值為10°，和/或，所述第二預設值為20°。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一預設值為5°，和/或，所述第二預設值為10°。
5.根據權利要求1-4任一項所述的方法，其特征在于，以第二方向采集所述工件的第二圖像，包括：
以多個第二方向采集所述工件的第二圖像，所述多個第二方向與所述最大梯度投影線的夾角不同，和/或，所述多個第二方向上采集點的位置距所述工件的距離不同。
6.一種測量三維尺寸的裝置，該裝置基于如權利要求1-5任一項所述的測量三維尺寸的方法測量具有斜面的工件的三維尺寸，所述斜面為所述工件的相對基準面具有斜度的表面，其特征在于，包括：
第一圖像采集模塊，被配置為以第一方向采集工件的第一圖像，所述第一方向垂直于工件的基準面或與所述基準面的法線的夾角在第一預設值以內；
第二圖像采集模塊，被配置為以第二方向采集所述工件的第二圖像，所述第二方向與最大梯度投影線平行或與所述最大梯度投影線的夾角在第二預設值以內，所述最大梯度投影線是指所述斜面上距離所述基準面最遠頂點與距離所述基準面最近頂點連線形成的最大梯度線在所述基準面上的投影線；
尺寸求解模塊，被配置為根據所述第一圖像和所述第二圖像，確定所述工件的三維尺寸。
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