[發明專利]一種繼電保護模擬量采樣控制方法及裝置

在審

• 申請號: 202110221223.0
• 申請日: 2021-02-26
• 公開（公告）號: CN113037286A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 王智勇;李寶偉;倪傳坤;趙劍松;朱付強;王志偉;胡沙沙;陳繼瑞;董新濤;周東杰;肖鋒;王凡;呂利娟;王東興;甘霖;楊振良
• 申請（專利權）人: 許繼集團有限公司;許繼電氣股份有限公司;許昌許繼軟件技術有限公司
• 主分類號: H03M1/34
• 分類號: H03M1/34
• 代理公司: 北京中政聯科專利代理事務所(普通合伙) 11489
• 代理人: 朱曉娟

1.一種模擬量采樣控制方法，其特征在于，包括步驟：

FPGA接收AD采樣芯片發出的狀態信息，根據狀態信息判斷AD采樣芯片的狀態是否正常；

若狀態正常，則將采樣數據對應的標識位置1；若狀態不正常，則將采樣數據對應的標識位置0，并啟動復位邏輯對AD采樣芯片進行復位；

將采樣數據及其狀態信息進行封裝組成數據幀，將該數據幀通過GMAC發送至處理器；

通過GMAC接口獲取采樣數據，并做二級緩存，實時判斷緩存區空間，若空間不夠判為溢出，則將本次發送數據丟棄并進行溢出累計；若未發生溢出則對AD中斷寄存器進行配置，AD采樣完成；

CPU接收采樣數據后，針對CRC校驗和數據傳輸間隔進行有效性判別，若CRC校驗通過且數據傳輸間隔不超差則認為數據有效，反之，有任一錯誤時認為數據異常。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述狀態信息包括芯片狀態信號BUSY和第一組采樣信號指示信號FrstData。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據狀態信息判斷AD采樣芯片的狀態是否正常，包括：

芯片狀態信號BUSY的高電平狀態持續時間T₁大于第一預設時間T_thrd；

或者，在采樣使能信號有效后，第二組采樣時鐘脈沖信號開始之前，第一組采樣信號指示信號FrstData未出現上升沿和下降沿；

AD采樣芯片的狀態不正常。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在啟動復位邏輯對AD采樣芯片進行復位后，至少間隔第二預設時間T_delay進行下一次采樣。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，對發送至處理器的數據幀進行CRC校驗和數據傳輸間隔檢查，如果CRC校驗不通過或數據間隔超差，則將數據幀丟棄。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述CRC校驗包括CRC碼錯誤校驗、通道特征碼校驗、通道個數校驗。

7.一種模擬量采樣控制裝置，其特征在于，包括AD采樣芯片狀態判斷模塊、AD采樣芯片狀態處理模塊、AD采樣數據傳輸模塊、AD采樣數據傳輸溢出處理模塊、AD數據有效判別模塊；其中，

所述AD采樣芯片狀態判斷模塊，接收AD采樣芯片發出的狀態信息，根據狀態信息判斷AD采樣芯片的狀態是否正常；

所述AD采樣芯片狀態處理模塊，若狀態正常，則將采樣數據對應的標識位置1，若狀態不正常；則將采樣數據對應的標識位置0，并啟動復位邏輯對AD采樣芯片進行復位；

所述AD采樣數據傳輸模塊，將采樣數據及其狀態信息進行封裝組成數據幀，將該數據幀通過GMAC發送至處理器；

所述AD采樣數據傳輸溢出處理模塊，通過GMAC接口獲取采樣數據，并做二級緩存，實時判斷緩存區空間，若空間不夠判為溢出，則將本次發送數據丟棄并進行溢出累計；若未發生溢出則對AD中斷寄存器進行配置，AD采樣完成；

所述AD數據有效判別模塊，在CPU接收采樣數據后，針對CRC校驗和數據傳輸間隔進行有效性判別，若CRC校驗通過且數據傳輸間隔不超差則認為數據有效，反之，有任一錯誤時認為數據異常。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述狀態信息包括芯片狀態信號BUSY和第一組采樣信號指示信號FrstData。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述AD采樣芯片狀態判斷模塊，根據狀態信息判斷AD采樣芯片的狀態是否正常，包括：

芯片狀態信號BUSY的高電平狀態持續時間T₁大于第一預設時間T_thrd；

或者，在采樣使能信號有效后，第二組采樣時鐘脈沖信號開始之前，第一組采樣信號指示信號FrstData未出現上升沿和下降沿；

AD采樣芯片的狀態不正常。

10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，在啟動復位邏輯對AD采樣芯片進行復位后，至少間隔第二預設時間T_delay進行下一次采樣。