[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置的制作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110219402.0 | 申請日: | 2021-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN113113312A | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 朱峯慶;李威養(yǎng);楊豐誠;陳燕銘 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L29/08 |
| 代理公司: | 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 謝強;黃艷 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 制作方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置的制作方法,包括:
提供自一基板延伸的一鰭狀結(jié)構(gòu);
形成一柵極結(jié)構(gòu)于該鰭狀結(jié)構(gòu)上;以及
形成一外延結(jié)構(gòu)于該鰭狀結(jié)構(gòu)上以與該柵極結(jié)構(gòu)相鄰,其中形成該外延結(jié)構(gòu)的步驟包括:
成長一第一外延部分;
形成一第二外延部分于該第一外延部分上,其中形成該第二外延部分的步驟包括導(dǎo)入一第一摻質(zhì)材料;
成長一第三外延部分于該第二外延部分上,其中成長該第三外延部分的步驟包括導(dǎo)入一第二摻質(zhì)材料;以及
進行一選擇性蝕刻工藝,移除該第二外延部分的至少一部分,以形成一中空區(qū)于該第一外延部分與該第三外延部分之間。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





