[發(fā)明專利]傅里葉變換光譜儀的干涉圖亞采樣級對齊方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110211916.1 | 申請日： | 2021-02-25 |
| 公開（公告）號： | CN113063495B | 公開（公告）日： | 2022-08-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 郭玲玲;顧亦磊;趙其昌;汪少林;代海山;何軍 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海衛(wèi)星工程研究所 |
| 主分類號： | G01J3/28 | 分類號： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 上海段和段律師事務(wù)所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭國中 |
| 地址： | 200240 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 傅里葉變換 光譜儀 干涉 采樣 對齊 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種傅里葉變換光譜儀的干涉圖亞采樣級對齊方法，其特征在于，包括：
步驟S1：分別計(jì)算兩幅相同長度的干涉圖序列的快速傅里葉變換；
步驟S2：根據(jù)計(jì)算得到的兩幅相同長度的干涉圖序列的快速傅里葉變換計(jì)算兩幅干涉圖的互相位譜；
步驟S3：根據(jù)預(yù)設(shè)要求選擇參與平移量估算的光譜通道；
步驟S4：基于估算的光譜通道以及兩幅干涉圖的相互位譜計(jì)算兩幅干涉圖的相對平移量；
步驟S5：以干涉圖I1(n)對應(yīng)的復(fù)數(shù)光譜相位為基準(zhǔn)，基于相對平移量對干涉圖I2(n)對應(yīng)的復(fù)數(shù)光譜進(jìn)行相位補(bǔ)償運(yùn)算，得到補(bǔ)償后的干涉圖I2(n)的復(fù)數(shù)光譜；
所述步驟S3包括：選擇|F1(σ)F2*(σ)|大于閾值T的光譜通道，閾值T表達(dá)式如下：
T＝0.1×max(|F1(σ)F2*(σ)|)
其中，max表示取最大值；當(dāng)兩幅干涉圖序列I1(n)、I2(n)長度均為N，則快速傅里葉變換分別為F1(σ)、F2(σ)；n表示干涉圖采樣點(diǎn)序號；σ為光譜通道；F2*(σ)表示復(fù)數(shù)F2(σ)的共軛。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傅里葉變換光譜儀的干涉圖亞采樣級對齊方法，其特征在于，所述步驟S1包括：
當(dāng)兩幅干涉圖序列I1(n)、I2(n)長度均為N，則快速傅里葉變換分別為F1(σ)、F2(σ)；
F1(σ)＝fft{I1(n)}
F2(σ)＝fft{I2(n)}
其中，n表示干涉圖采樣點(diǎn)序號；σ為光譜通道；fft表示快速傅里葉變換。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傅里葉變換光譜儀的干涉圖亞采樣級對齊方法，其特征在于，所述步驟S2包括：
其中，R(σ)表示互相位譜；F2*(σ)表示復(fù)數(shù)F2(σ)的共軛。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傅里葉變換光譜儀的干涉圖亞采樣級對齊方法，其特征在于，所述步驟S4包括：對估算光譜通道的數(shù)據(jù)實(shí)施最小二乘法計(jì)算得到兩幅干涉圖的相對平移量；
其中，||·||2表示由估算的光譜通道構(gòu)成的向量二范數(shù)，δ表示相對平移量，σ表示估算的光譜通道。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的傅里葉變換光譜儀的干涉圖亞采樣級對齊方法，其特征在于，所述步驟S5包括：以干涉圖I1(n)對應(yīng)的復(fù)數(shù)光譜相位為基準(zhǔn)，將干涉圖I2(n)對應(yīng)的復(fù)數(shù)光譜進(jìn)行相位補(bǔ)償運(yùn)算；
C2(σ)＝F2(σ)·ei2πδσ
其中，C2(σ)為干涉圖I2(n)相位補(bǔ)償后的復(fù)數(shù)光譜。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海衛(wèi)星工程研究所，未經(jīng)上海衛(wèi)星工程研究所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110211916.1/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
