[發明專利]三軸磁力計測試裝置及其方法在審
| 申請號: | 202110208271.6 | 申請日: | 2021-02-25 |
| 公開(公告)號: | CN113156353A | 公開(公告)日: | 2021-07-23 |
| 發明(設計)人: | 黃良 | 申請(專利權)人: | 江蘇中科院智能科學技術應用研究院 |
| 主分類號: | G01R35/00 | 分類號: | G01R35/00 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224 | 代理人: | 韓紅莉 |
| 地址: | 213164 江蘇省常州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁力計 測試 裝置 及其 方法 | ||
1.三軸磁力計測試方法,其特征在于,包括以下步驟:
在三軸磁力計的X、Y和Z三個相互垂直方向上都固定設置有線圈;
測定通過線圈的電流和線圈的磁場值比值,構建二元一次方程;
構建支持三軸磁力計的外圍電路,將三軸磁力計放置在三軸磁力計測試裝置上;
基于線圈所需要的磁場值和二元一次方程,計算出三軸磁力計中應當通過的電流值,并分別在三軸磁力計的X、Y和Z三個方向上給三軸磁力計提供該電流值對應的電流,從而給三軸磁力計所需的磁場值,測量三軸磁力計輸出的磁感應強度。
2.根據權利要求1所述的三軸磁力計測試方法,其特征在于,同一時間只在一個方向上施加磁場。
3.根據權利要求1所述的三軸磁力計測試方法,其特征在于,測定通過線圈的電流和線圈的磁場值比值包括以下步驟:
以0.5-1.5A為間隔改變通過線圈的電流的大小,并用高斯計記錄線圈的磁場值,將電流和對應的磁場值記錄保存,擬合出通過線圈的電流和線圈的磁場值的線性關系,得到通過線圈的電流和線圈的磁場值的斜率,得到通過線圈的電流和線圈的磁場值的截距。
4.根據權利要求1所述的三軸磁力計測試方法,其特征在于,采用數字萬用表測量三軸磁力計的電流,測試范圍最小為1μA,分辨率為pA。
5.基于權利要求1的三軸磁力計測試裝置,其特征在于,包括線圈、電源和測試用PCB,測試用PCB上安裝外圍電路,線圈和三軸磁力計均電連接外圍電路,電源電串聯數字萬用表后電連接測試用PCB,在三軸磁力計的X、Y和Z三個方向上都固定設置有線圈。
6.根據權利要求5所述的三軸磁力計測試裝置,其特征在于,包括I2C接口,外圍電路包括上拉2.2k電阻、電容C1、電容C2、電容C3和電容C4,
三軸磁力計的VDD引腳串聯電容C4后接地,三軸磁力計的VDDIO引腳電連接上位機I2C接口的VDD引腳,三軸磁力計的VDDIO串聯電容C3后接地,三軸磁力計的S1引腳電連接三軸磁力計的VDDIO引腳,上位機I2C接口的VSS引腳和三軸磁力計的GND引腳均接地,三軸磁力計的SCL引腳電連接上位機I2C接口的I2C_CLK引腳,三軸磁力計的SDA引腳電連接上位機I2C接口的I2C_DATA引腳,上位機I2C接口的I2C_CLK引腳和上位機I2C接口的I2C_DATA引腳均上拉2.2k電阻連接至上位機I2C接口的VDD引腳,三軸磁力計的SETP引腳串聯電容C2后電連接三軸磁力計的SETC引腳,三軸磁力計的C1引腳串聯電容C1后接地。
7.根據權利要求5所述的三軸磁力計測試裝置,其特征在于,線圈為亥姆霍茲線圈。
8.根據權利要求5所述的三軸磁力計測試裝置,其特征在于,電容C1為4.7uF,電容C2為0.22uF,電容C3為0.1uF,電容C4為0.1uF。
9.根據權利要求5所述的三軸磁力計測試裝置,其特征在于,電源型號為AGILENTN5744A。
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