[發明專利]紅外線測定裝置

在審

• 申請號: 202110207963.9
• 申請日: 2021-02-24
• 公開（公告）號: CN113325485A
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 北原崇博;齊藤弘治
• 申請（專利權）人: 羅姆股份有限公司
• 主分類號: G01V8/20
• 分類號: G01V8/20
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 金蘭

1.一種紅外線測定裝置，具備：

發光部，發出紅外光；

受光部，通過接收光而輸出光電流；以及

測定部，基于所述受光部的輸出對所述受光部接收到的光進行測定，

所述受光部包括：

信號線，連接于所述測定部；

紅外受光部，連接于所述信號線，且具有紅外光電二極管，所述紅外光電二極管在波長比規定值長的紅外光波段具有靈敏度峰值，并且在波長比所述規定值短的可見光波段也具有靈敏度；

多個可見光受光部，分別具有多個可見光光電二極管，多個所述可見光光電二極管分別在所述可見光波段具有靈敏度峰值并且在所述紅外光波段也具有靈敏度；以及

多個開關，分別設置于多個所述可見光光電二極管與所述信號線之間，能夠對連接于所述測定部的所述可見光光電二極管的組合進行變更。

2.如權利要求1所述的紅外線測定裝置，其中，

在所述發光部處于不發光的狀態下，所述測定部通過控制多個所述開關，從而執行對連接于所述測定部的所述可見光光電二極管的組合進行調整使得所述受光部的輸出的大小成為最小的消除處理。

3.如權利要求2所述的紅外線測定裝置，其中，

在所述消除處理中，所述測定部執行依次切換連接于所述測定部的所述可見光光電二極管的組合并對所述受光部的輸出的大小成為最小的組合進行搜索的搜索處理，將連接于所述測定部的所述可見光光電二極管的組合變更為通過所述搜索處理獲得的組合。

4.如權利要求2所述的紅外線測定裝置，其中，

所述測定部在執行所述消除處理后，執行反射光測定處理：將所述發光部處于發光的狀態下的所述受光部的輸出作為被接近物反射的紅外反射光進行測定。

5.如權利要求4所述的紅外線測定裝置，其中，

所述測定部執行如下處理：

第一環境光測定處理，在執行所述消除處理后且在執行所述反射光測定處理前，對所述發光部處于不發光的狀態下的環境光進行測定；

第二環境光測定處理，在執行所述反射光測定處理后，對所述發光部處于不發光的狀態下的環境光進行測定；以及

校正處理，利用所述第一環境光測定處理以及所述第一環境光測定處理的結果對所述反射光測定處理的結果進行校正。

6.如權利要求1至5中任一項所述的紅外線測定裝置，其中，

在所述紅外受光部以及多個所述可見光受光部中的各個可見光受光部，從受光面的近側朝向遠側按順序層疊有由p型半導體形成的第一層、由n型半導體形成的第二層、以及由p型半導體形成的第三層，

所述可見光光電二極管由所述可見光受光部中的所述第一層與所述第二層之間的接合部形成，

所述紅外光電二極管由所述紅外受光部中的所述第二層與所述第三層之間的接合部形成。