[發(fā)明專利]一種金屬結(jié)構(gòu)腐蝕監(jiān)測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110205245.8 | 申請日: | 2021-02-24 |
| 公開(公告)號: | CN112964629B | 公開(公告)日: | 2022-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張樂;史澤地;陳俊羽;袁明星;邵岑;康健;周天元;陳浩 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇師范大學 |
| 主分類號: | G01N17/02 | 分類號: | G01N17/02 |
| 代理公司: | 北京淮海知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 32205 | 代理人: | 周淑淑 |
| 地址: | 221116 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 金屬結(jié)構(gòu) 腐蝕 監(jiān)測 裝置 | ||
一種金屬結(jié)構(gòu)腐蝕監(jiān)測裝置,包括工作電極導線(2)、對電極(3)、參比電極(4)、中央控制模塊(5)、傳輸線圈(6)、接收線圈(7)、讀寫器模塊(8)、上位機(9),工作電極導線的一端連接待測金屬(1),另一端連接中央控制模塊的工作電極端口;對電極、參比電極分別通過磁石吸附在待測金屬的底部外壁上,并分別通過工作電極導線對應連接中央控制模塊的對電極端口、參比電極端口;中央控制模塊與讀寫器模塊通過傳輸線圈、接收線圈的電感耦合效應進行通信;讀寫器模塊將接收到的測試數(shù)據(jù)發(fā)送到上位機進行信號分析;本發(fā)明能夠?qū)饘俳Y(jié)構(gòu)腐蝕狀態(tài)進行快速實時、準確監(jiān)測,監(jiān)測精度高。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種監(jiān)測裝置,具體是一種金屬結(jié)構(gòu)腐蝕監(jiān)測裝置,屬于金屬大氣腐蝕監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
隨著科技的發(fā)展,金屬材料的應用領(lǐng)域得到了極大提升,并且其應用環(huán)境更加復雜多樣。在嚴酷惡劣的運用環(huán)境中,如高溫、高濕、高污染等,金屬及其復合材料構(gòu)件發(fā)生電化學腐蝕的概率大大提升。腐蝕將會破壞建筑金屬材料原有的機械性能,同時還會降低集成電路電子材料的電氣性能,從而造成不必要的安全事故。據(jù)統(tǒng)計,全球每年生產(chǎn)的鋼鐵約有30%遭受腐蝕,10%的鋼鐵將變?yōu)闊o用的鐵銹,且每年腐蝕造成的經(jīng)濟損失約占我國國民生產(chǎn)總值GDP的4%。
為避免金屬腐蝕可能帶來的各方面潛在威脅,采取實時、無損壞的監(jiān)測技術(shù)具有重要的意義,傳統(tǒng)的金屬材料腐蝕監(jiān)測方法主要包括:電化學阻抗譜法(EIS)、電化學噪聲(EN)、線性極化法等,這些監(jiān)測方法局限性較大,難以適應戶外的腐蝕監(jiān)測。
目前,腐蝕監(jiān)測技術(shù)朝著“高”穩(wěn)定性、“高”精準性和“高”適配性的方向快速發(fā)展,中國發(fā)明專利2020年10月23日公開的一種公開號為CN111812019A的“金屬大氣腐蝕監(jiān)測傳感器”,通過金屬基材、導電材料層以及零阻電流表之間的回路測定電荷轉(zhuǎn)移量,實現(xiàn)待測金屬基材腐蝕速率和腐蝕程度的監(jiān)測;中國發(fā)明專利2020年10月23日公開的一種公開號為CN111812018A的“一種金屬大氣腐蝕在線監(jiān)測傳感器及監(jiān)測方法”,其是將薄金層、待測金屬樣品與零阻型微電流表連接,以微電流表的數(shù)據(jù)作為金屬腐蝕速率的評定標準,但是,兩種方法前期制備過程繁瑣,同時測試結(jié)果準確性較差。
發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本發(fā)明提供一種金屬結(jié)構(gòu)腐蝕監(jiān)測裝置,能夠?qū)饘俳Y(jié)構(gòu)腐蝕狀態(tài)進行快速實時、準確監(jiān)測,監(jiān)測精度高。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種金屬結(jié)構(gòu)腐蝕監(jiān)測裝置,工作電極導線的一端連接待測金屬,另一端連接中央控制模塊的工作電極端口;對電極、參比電極分別通過磁石吸附在待測金屬的底部外壁上,并分別通過電極導線對應連接中央控制模塊的對電極端口、參比電極端口;中央控制模塊與讀寫器模塊通過傳輸線圈、接收線圈的電感耦合方式進行通信連接;讀寫器模塊將接收到的測試數(shù)據(jù)發(fā)送到上位機進行信號分析;
中央控制模塊包括運算放大電路、低通濾波電路和A/D轉(zhuǎn)換電路,所述的對電極端口直接與運算放大器的反向輸入端相連,A/D轉(zhuǎn)換電路的輸入端與運算放大器的輸出端相連;所述的參比電極端口直接與一級運算放大電路的正向輸入端連接,一級放大電路的輸出端與二級放大電路的正向輸入端相連,A/D轉(zhuǎn)換電路的輸入端與二級放大電路的輸出端連接;所述的工作電極端口直接連接低通濾波電路的輸入端,中央處理模塊的A/D轉(zhuǎn)換電路的輸入端與低通濾波電路的輸出端相連。
作為本發(fā)明的進一步改進,待測金屬為磁性金屬,工作電極導線的連接端采用夾子結(jié)構(gòu)。
作為本發(fā)明的進一步改進,對電極包括鉑金電極、絕緣塑料網(wǎng)Ⅰ和磁石Ⅰ,所述的參比電極包括飽和甘汞電極、絕緣塑料網(wǎng)Ⅱ和磁石Ⅱ,在鉑金電極的外表面依次設(shè)有絕緣塑料網(wǎng)Ⅰ、磁石Ⅰ,飽和甘汞電極的外表面依次設(shè)有絕緣塑料網(wǎng)Ⅱ、磁石Ⅱ。
作為本發(fā)明的進一步改進,絕緣塑料網(wǎng)Ⅰ和絕緣塑料網(wǎng)Ⅱ均為絕緣性、吸濕性和微孔性的材料,厚度為0.5-1.5cm。
作為本發(fā)明的進一步改進,鉑金電極外表面的磁石Ⅰ成對稱性分布,飽和甘汞電極外表面的磁石Ⅱ成對稱性分布。
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