[發明專利]一種微電機磁瓦裝配質量自動檢測機構

有效

• 申請號: 202110204046.5
• 申請日: 2021-02-24
• 公開（公告）號: CN112945167B
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發明（設計）人: 吳建軍;陳建國;周濤;陳宏煒
• 申請（專利權）人: 廣汽零部件有限公司
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08;G01B5/12
• 代理公司: 廣州知友專利商標代理有限公司 44104
• 代理人: 劉小敏;尤健雄

1.一種微電機磁瓦裝配質量自動檢測機構，用于檢測微電機半成品(1)的裝配質量，所述微電機半成品(1)包括微電機鐵殼(1-1)和通過涂膠粘貼在該微電機鐵殼(1-1)的內壁(1-1a)上的多塊磁瓦(1-2)；

其特征在于：

所述微電機磁瓦裝配質量自動檢測機構包括固定在機架(2)上的仿形基座(3)，該仿形基座(3)由上下相連的仿形塊(3-1)和支撐座(3-2)構成，所述仿形塊(3-1)適于與所述微電機鐵殼(1-1)的內腔沿上下方向滑動配合；

所述仿形塊(3-1)對應所述微電機半成品(1)的每一塊磁瓦(1-2)沿上下方向滑動的安裝有一根高度檢測桿(4)，且該高度檢測桿(4)的上端伸出至所述仿形塊(3-1)的頂面之外，使得在所述微電機鐵殼(1-1)套在仿形塊(3-1)上時，每一根所述高度檢測桿(4)的上端位于對應磁瓦(1-2)的正下方；

所述支撐座(3-2)對應每一根所述高度檢測桿(4)安裝有一套傳動機構，所述機架(2)對應每一套所述傳動機構固定有一個位移傳感器(5)，所述位移傳感器(5)的探測頭(5-1)沿上下方向延伸，所述高度檢測桿(4)的上下運動能夠通過對應傳動機構帶動對應位移傳感器(5)的探測頭(5-1)上下運動；

在控制器的控制下，所述微電機磁瓦裝配質量自動檢測機構按以下方式工作：

步驟S1、控制機械手將被檢測的微電機半成品(1)倒扣放置在所述仿形基座(3)上，使得所述微電機半成品(1)的微電機鐵殼(1-1)套在所述仿形基座(3)的仿形塊(3-1)上；

步驟S2、控制所述機械手將所述微電機半成品(1)向下壓，直至所述微電機鐵殼(1-1)的開口部(1-1b)被壓緊在所述支撐座(3-2)的頂面(3-2b)時，接收每一個所述位移傳感器(5)輸出的位移數據，以計算得到每一塊所述磁瓦(1-2)的裝配高度c＝a-b，其中，a為磁瓦(1-2)所對應高度檢測桿(4)的頂面與所述支撐座(3-2)的頂面(3-2b)之間沿上下方向的距離，b為磁瓦(1-2)所對應位移傳感器(5)輸出的位移數據；

步驟S3、待所述微電機半成品(1)完成檢測后，控制所述機械手將所述微電機半成品(1)從所述仿形基座(3)上取走。

2.根據權利要求1所述微電機磁瓦裝配質量自動檢測機構，其特征在于：所述仿形基座(3)對應所述微電機半成品(1)的每一塊磁瓦(1-2)設有一組腔體，且每一組腔體均由安裝腔、導向孔和導向槽(3-2a)組成，所述安裝腔設置在所述支撐座(3-2)的底面，所述導向孔設置在所述仿形塊(3-1)的頂面并沿上下方向延伸至所述安裝腔，所述導向槽(3-2a)沿上下方向延伸的設置在所述支撐座(3-2)的側面并與所述安裝腔連通；

所述傳動機構包括檢測桿基座(6)、復位彈簧(7)和連接桿(8)，所述高度檢測桿(4)與所述導向孔滑動配合，所述檢測桿基座(6)固定在所述高度檢測桿(4)的下端并位于所述安裝腔內，所述復位彈簧(7)連接在所述檢測桿基座(6)的底面與所述機架(2)之間，所述連接桿(8)與導向槽(3-2a)滑動配合，且所述連接桿(8)固定連接在所述檢測桿基座(6)與位移傳感器(5)的探測頭(5-1)之間。

3.根據權利要求1所述微電機磁瓦裝配質量自動檢測機構，其特征在于：所述微電機磁瓦裝配質量自動檢測機構還包括光電傳感器(9)，用于檢測所述微電機鐵殼(1-1)的開口部(1-1b)是否與所述支撐座(3-2)的頂面(3-2b)接觸。