[發明專利]針對特效的檢測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202110202348.9
• 申請日: 2021-02-23
• 公開（公告）號: CN112807694B
• 公開（公告）日: 2023-06-23
• 發明（設計）人: 暨惠;張海濤;龍懌飛;楚培林;楊文
• 申請（專利權）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: A63F13/60
• 分類號: A63F13/60;A63F13/77;A63F13/52
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 祝亞男

1.一種針對特效的檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取用于特效檢測的資源配置信息，所述資源配置信息包括特效資源路徑和特效檢測規則；

基于所述特效資源路徑，獲取待檢測特效；

獲取所述待檢測特效的多細節層次LOD層數，以及，將所述待檢測特效中的材質替換為像素值統一的透明材質，得到替換后的待檢測特效；

基于所述LOD層數，對所述待檢測特效進行逐層播放；

對于所述LOD層數中的第一LOD層，在所述替換后的待檢測特效的播放過程中，對單幀圖像進行像素遍歷，獲取單幀圖像對應的第一LOD層中各個像素點的像素值；

對于所述第一LOD層數中的各個像素點，獲取所述各個像素點的紅色通道參數，以及所述透明材質的紅色通道參數；

分別采用所述各個像素點的紅色通道參數除以所述透明材質的紅色通道參數，得到所述各個像素點的重繪數；其中，所述重繪數用于指示所述透明材質在像素點上的使用次數；

對所述第一LOD層中各個像素點的重繪數進行求平均處理，得到所述第一LOD層的單幀平均重繪數；

從所述第一LOD層中各個像素點的重繪數中選擇數值最大的重繪數，得到所述第一LOD層的單幀最大重繪數；

從所述第一LOD層的每一幀圖像的單幀最大重繪數中選擇最大的重繪數，得到所述第一LOD層的特效最大重繪數；其中，所述第一LOD層的屬性信息包括：所述第一LOD層的單幀平均重繪數、所述第一LOD層的單幀最大重繪數和所述第一LOD層的特效最大重繪數；

根據所述待檢測特效的各個LOD層的屬性信息，確定所述待檢測特效的屬性信息；其中，所述待檢測特效的屬性信息包括：所述待檢測特效的單幀平均重繪數、所述待檢測特效的單幀最大重繪數和所述待檢測特效的特效最大重繪數；

基于所述特效檢測規則對所述待檢測特效的屬性信息進行檢測，生成所述待檢測特效的特效檢測信息；其中，所述特效檢測信息包括不符合所述特效檢測規則的屬性信息。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述資源配置信息還包括特效白名單；其中，所述特效白名單中包括至少一個特效的標識；

所述基于所特效資源路徑，獲取待檢測特效之后，還包括：

響應于所述待檢測特效的標識在所述特效白名單中，基于所述特效資源路徑，獲取下一個待檢測特效；

響應于所述待檢測特效的標識不在所述特效白名單中，執行所述對所述待檢測特效進行播放處理，并獲取所述待檢測特效的屬性信息的步驟。

3.根據權利要求1至2任一項所述的方法，其特征在于，所述屬性信息還包括最大粒子數和粒子發射器數量；

所述方法還包括：

采用特效播放插件對所述待檢測特效進行播放處理；

基于所述特效播放插件中的函數，獲取所述最大粒子數和所述粒子發射器數量。