[發明專利]設備批量測試方法、裝置、計算機設備及介質

在審

• 申請號: 202110200498.6
• 申請日: 2021-02-23
• 公開（公告）號: CN112799958A
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 楊偉;田芳
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 楊明莉

本申請涉及一種設備批量測試方法、裝置、計算機設備及介質，所述方法包括：向各所述待測設備寫入對應的測試標識，其中，不同所述待測設備的測試標識不同；獲取各所述待測設備的設備標識并生成設備標識序列；根據所述設備標識序列依次向各所述待測設備發送對應的測試用例，以使得各所述待測設備執行對應的測試用例；生成各所述待測設備的測試結果，所述測試結果對應相應的測試標識。本申請通過利用待測設備本身的設備標識作為橋梁，建立待測設備的測試結果與向該待測設備寫入的測試標識的對應關系，并輸出對應相應的測試標識的測試結果，測試成本低，效率高且可移植性好。

技術領域

本申請涉及自動化測試技術領域，具體涉及一種設備批量測試方法、裝置、計算機設備及介質。

背景技術

隨著半導體與集成電路技術的快速發展，市場對芯片產品的需求量越來越大，對芯片供應商生產效率的要求越來越高。為了提高芯片的供貨質量，需要不斷地提高對制成芯片的測試能力及測試效率。

傳統的對芯片測試的方法很難實現對多個待測平臺同時控制，不適用于芯片的批量化測試，測試程序移植性差；并且對主控設備與各待測平臺之間的通訊能力要求很高，嚴重制約芯片批量化測試的能力與效率。如何實現對制成芯片的批量化高效測試，成為進一步提高芯片供應商供貨能力及供貨效率的關鍵因素之一。

發明內容

基于此，有必要針對上述背景技術中的問題，提供一種能夠對設備批量化高效測試的設備批量測試方法、裝置、計算機設備及介質，以有效提高設備產品的供貨效率及供貨質量。

為實現上述目的及其他目的，本申請的第一方面提供一種設備批量測試的方法，用于批量化測試多個待測設備，所述方法包括：

向各所述待測設備寫入對應的測試標識，其中，不同所述待測設備的測試標識不同；

獲取各所述待測設備的設備標識并生成設備標識序列；

根據所述設備標識序列依次向各所述待測設備發送對應的測試用例，以使得各所述待測設備執行對應的測試用例；

生成各所述待測設備的測試結果，所述測試結果對應相應的測試標識。

于上述實施例中的設備批量測試的方法中，通過預先設計好各待測設備的測試標識，其中，不同待測設備的測試標識不同，然后向各所述待測設備寫入對應的測試標識，再獲取各所述待測設備的設備標識并生成設備標識序列，以根據所述設備標識序列依次向各所述待測設備發送對應的測試用例，使得各所述待測設備執行對應的測試用例，從而獲取各所述待測設備的包括對應的測試標識的測試結果，實現對設備批量化高效測試，以有效提高設備產品的供貨效率及供貨質量。由于本申請通過利用待測設備本身的設備標識作為橋梁，建立待測設備的測試結果與向該待測設備寫入的測試標識的對應關系，并輸出對應相應的測試標識的測試結果，測試成本低，效率高且可移植性好。

在其中一個實施例中，在向各所述待測設備寫入對應的測試標識之前，還包括：

獲取各所述待測設備的測試標識。

在其中一個實施例中，所述測試標識為用戶自定義的測試標識。

在其中一個實施例中，所述獲取各所述待測設備的設備標識并生成設備標識序列包括：

獲取各所述待測設備的屬性數據并將所述屬性數據保存至第一預設文件；

根據所述第一預設文件利用對應的解析規則獲取具有各所述待測設備的設備標識序列的第二預設文件。

在其中一個實施例中，所述根據所述設備標識序列依次向各所述待測設備發送對應的測試用例包括：

按照所述第二預設文件中的所述設備標識序列依次向各所述待測設備發送對應的測試用例。

在其中一個實施例中，所述獲取各所述待測設備的測試結果包括：