[發明專利]天線測量系統及天線測量方法

在審

• 申請號: 202110193397.0
• 申請日: 2021-02-20
• 公開（公告）號: CN113014333A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 王衛民;高忠雄;吳永樂;張志華
• 申請（專利權）人: 北京郵電大學
• 主分類號: H04B17/10
• 分類號: H04B17/10
• 代理公司: 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413
• 代理人: 杜秀科;丁蕓

1.一種天線測量系統，其特征在于，包括：網絡分析儀、功分器、上變頻器、波導探頭和下變頻器，其中：

所述網絡分析儀，用于產生射頻信號和本振信號，將所述射頻信號發送至所述上變頻器，將所述本振信號發送至所述功分器；

所述功分器，與所述網絡分析儀電連接，用于接收所述本振信號，并將所述本振信號拆分為第一子本振信號和第二子本振信號，將所述第一子本振信號發送至所述上變頻器，將所述第二子本振信號發送至所述下變頻器；

所述上變頻器，分別與所述網絡分析儀和所述功分器電連接，用于接收所述射頻信號和所述第一子本振信號，并對所述射頻信號和所述第一子本振信號進行變頻處理，獲得經變頻后的射頻信號和參考中頻信號，將所述經變頻后的射頻信號發送至所述波導探頭，將所述參考中頻信號發送至所述網絡分析儀；

所述波導探頭，與所述上變頻器電連接，用于接收所述經變頻后的射頻信號，并將所述經變頻后的射頻信號輻射出，以使待測量天線能夠收到所述經變頻后的射頻信號；

所述下變頻器，分別與所述網絡分析儀和所述功分器電連接，用于接收所述第二子本振信號和待測量天線發射的天線測試信號，對所述第二子本振信號和所述天線測量信號進行變頻處理，獲得測試中頻信號，將所述測試中頻信號發送至所述網絡分析儀；

所述網絡分析儀，還用于接收所述參考中頻信號和所述測試中頻信號，并基于所述參考中頻信號的參數和所述測試中頻信號的參數之間的差異，獲得待測量天線的性能參數。

2.根據權利要求1所述的天線測量系統，其特征在于，所述上變頻器包括：相互電連接的第一倍頻器和第一混頻器；

所述第一倍頻器，用于接收所述射頻信號，對所述射頻信號進行變頻處理，獲得所述經變頻后的射頻信號，將所述經變頻后的射頻信號發送至所述波導探頭和所述第一混頻器；

所述第一混頻器，用于接收所述經變頻后的射頻信號和所述第一子本振信號，對所述經變頻后的射頻信號和所述第一子本振信號進行混頻處理，獲得所述參考中頻信號，將所述參考中頻信號發送至所述網絡分析儀。

3.根據權利要求1所述的天線測量系統，其特征在于，所述下變頻器包括：依次相互電連接的第二倍頻器、第二混頻器、濾波器和第一功率放大器；

所述第二倍頻器，用于接收所述第二子本振信號，對所述第二子本振信號進行變頻處理，獲得經變頻后的子本振信號，將所述經變頻后的子本振信號發送至所述第二混頻器；

所述第二混頻器，用于接收所述天線測試信號和所述經變頻后的子本振信號，對所述天線測試信號和所述經變頻后的子本振信號進行混頻處理，獲得經混頻后的測試信號，將所述經混頻后的測試信號發送至所述濾波器；

所述濾波器，用于接收所述經混頻后的測試信號，對所述經混頻后的測試信號進行濾波處理，獲得經濾波后的測試信號，將所述經濾波后的測試信號發送至所述第一功率放大器；

所述第一功率放大器，用于接收所述經濾波后的測試信號，對所述經濾波后的測試信號進行功率放大處理，獲得所述測試中頻信號，將所述測試中頻信號發送至所述網絡分析儀，其中，所述測試中頻信號的頻段與所述下變頻器的設備頻段相同。

4.根據權利要求3所述的天線測量系統，其特征在于，所述下變頻器還包括與所述第二混頻器電連接的帶通濾波器，所述第二混頻器通過所述帶通濾波器接收所述天線測試信號；

所述帶通濾波器，用于接收所述天線測試信號，對所述天線測試信號進行濾波處理，獲得經濾波后的測試信號，將所述經濾波后的測試信號發送至所述第二混頻器，其中，所述經濾波后的測試信號的頻段與所述經變頻后的射頻信號的頻段相同；

所述第二混頻器，具體用于接收所述經濾波后的測試信號和所述經變頻后的子本振信號，對所述經濾波后的測試信號和所述經變頻后的子本振信號進行混頻處理，獲得經混頻后的測試信號，將所述經混頻后的測試信號發送至所述濾波器。