[發明專利]磁粒子成像設備和用于產生磁場的方法

在審

• 申請號: 202110191000.4
• 申請日: 2021-02-19
• 公開（公告）號: CN113281688A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: J·弗蘭克;V·尼曼
• 申請（專利權）人: 布魯克碧奧斯平MRI有限公司
• 主分類號: G01R33/38
• 分類號: G01R33/38
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 董華林

1.一種用于在試樣體積(PV)中對待檢查對象進行成像的磁粒子成像設備，所述磁粒子成像設備包括磁體組件，所述磁體組件構造成，在試樣體積中產生具有梯度B1和無場線(FFL)的磁粒子磁場，其中，所述磁體組件包括第一磁體環對，所述第一磁體環對具有兩個以海爾貝克偶極子結構的磁體環(R1、R2)，這兩個磁體環同軸地布置在延伸穿過試樣體積(PV)的共同的Z軸線上，其特征在于，所述磁體組件包括第二磁體環對，所述第二磁體環對具有兩個另外的以海爾貝克偶極子結構的磁體環(R3、R4)，所述第二磁體環對布置成與第一磁體環對同軸，其中，各所述磁體環(R1、R2、R3、R4)布置成能繞Z軸線相對于彼此轉動。

2.如權利要求1所述的磁粒子成像設備，其特征在于，在各所述磁體環對內部的磁體環(R1、R2、R3、R4)能機械耦合，從而第一磁體環對和第二磁體環對能繞Z軸線相對于彼此轉動。

3.如上述權利要求中任一項所述的磁粒子成像設備，其特征在于，所述磁體組件的所有磁體環(R1、R2、R3、R4)能機械耦合，從而磁體組件能作為整體繞Z軸線轉動。

4.如上述權利要求中任一項所述的磁粒子成像設備，其特征在于，所述設備包括用于產生至少一個磁性激勵場的磁粒子激勵線圈系統(DF)。

5.如上述權利要求中任一項所述的磁粒子成像設備，其特征在于，所述設備包括偏移場線圈系統，所述偏移場線圈系統設計成，使無場線至少沿著一個空間方向、優選地沿著所有空間方向，準靜態地或者以偏移頻率在試樣體積(PV)內部移動。

6.如上述權利要求中任一項所述的磁粒子成像設備，其特征在于，所述磁粒子成像設備設計成，在磁粒子模式中并且在至少一個另外的成像模式中運行。

7.如權利要求6所述的磁粒子成像設備，其中，所述另外的成像模式是用于拍攝核磁共振成像圖像的MRI模式，并且所述磁體組件構造成，在MRI模式中產生具有B0等角點的適合用于MRI測量的B0場，其方式為，至少一個磁體環對的磁體環的偶極子磁化方向在MRI模式中平行于XY平面定向。

8.如權利要求7所述的磁粒子成像設備，其中，所述第一磁體環對和第二磁體環對分別具有平行地定向的偶極子磁化方向，并且通過所述兩個磁體環對相對于彼此的轉動能改變B0場的振幅。

9.一種用于借助如上述權利要求中任一項所述的磁粒子成像設備在試樣體積(PV)中產生磁場的方法，所述磁場具有梯度B1和無場線(FFL)，其特征在于，所述第一磁體環對的磁體環(R1、R2)彼此定向成，使得第一磁體環對的各磁體環具有反平行的偶極子磁化方向。

10.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述第二磁體環對的磁體環(R3、R4)彼此定向成，使得第二磁體環對的各磁體環具有平行的偶極子磁化方向。

11.如權利要求10所述的方法，其特征在于，各所述磁體環對彼此定向成，使得第二磁體環對的磁體環(R3、R4)的偶極子磁化方向平行于第一磁體環對的磁體環(R1、R2)中的一個磁體環的偶極子磁化方向定向。

12.如權利要求10所述的方法，其特征在于，所述磁體環對彼此定向成，使得第二磁體環對(R3、R4)的磁體環的偶極子磁化方向與第一磁體環對(R1、R2)的磁體環的偶極子磁化方向包夾0°＜α＜180°的角度。

13.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述第二磁體環對的磁體環(R3、R4)彼此定向成，使得第二磁體環對的各磁體環具有反平行的偶極子磁化方向。