[發(fā)明專利]可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110190572.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113063967B | 公開(公告)日: | 2023-02-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李慧;張孟超;寇春合;劉文慶;梁雪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01Q30/20 | 分類號(hào): | G01Q30/20 |
| 代理公司: | 上海上大專利事務(wù)所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 顧勇華 |
| 地址: | 200444*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 實(shí)現(xiàn) 三維 原子 探針 陣列 樣品 轉(zhuǎn)動(dòng) 旋轉(zhuǎn) 裝置 | ||
1.一種可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置,包括固定裝置(1)、齒輪齒條傳動(dòng)裝置,其特征在于:所述固定裝置(1)為中空箱體式結(jié)構(gòu)的裝置,將固定裝置(1)設(shè)置在三維原子探針儀器的樣品臺(tái)上,在中空箱體式結(jié)構(gòu)的裝置的上側(cè)設(shè)置限位孔,齒輪齒條傳動(dòng)裝置由齒輪(2)和齒條(3)進(jìn)行嚙合連接組裝,以齒輪(2)為從動(dòng)部件,以齒條(3)為主動(dòng)部件形成齒輪齒條傳動(dòng)機(jī)構(gòu),齒條(3)從固定裝置(1)前側(cè)或后側(cè)穿過并水平設(shè)置和水平移動(dòng),齒條(3)配有限位裝置,防止齒條(3)在傳動(dòng)過程中發(fā)生脫落;
與齒輪(2)一體固定連接的轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)上部從固定裝置(1)的上側(cè)限位孔穿過,使轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)頂端高出固定裝置(1)上表面,并使轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)頂端表面形成旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái),放置三維原子探針微尖陣列樣品;轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)下部設(shè)置在固定裝置(1)的箱體內(nèi),使轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)下部與箱體底部轉(zhuǎn)動(dòng)連接;
設(shè)置所述齒輪(2)在水平面內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),從而帶動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)水平轉(zhuǎn)動(dòng);將所述旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置整體放進(jìn)三維原子探針儀器中,將三維原子探針微尖陣列樣品放置在轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)頂端表面上,當(dāng)測(cè)完三維原子探針微尖陣列上的一組樣品后,在測(cè)試另一組樣品時(shí)不需要將三維原子探針微尖陣列樣品從三維原子探針儀器中取出,只需用三維原子探針儀器內(nèi)的樣品桿推動(dòng)齒條(3)即可帶動(dòng)齒輪(2)轉(zhuǎn)動(dòng),繼而帶動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)以及轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)上的微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng),待轉(zhuǎn)動(dòng)到所需角度位置后,即可繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置,其特征在于:齒條(3)長度為14~15 mm,寬度為4~8mm,模數(shù)為1 mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置,其特征在于:齒輪(2)厚度為4~5 mm,分度圓直徑為12 mm,齒數(shù)為12,模數(shù)為1 mm,齒輪(2)中心開有直徑不小于2 mm的孔,用于與轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)進(jìn)行固定裝配。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置,其特征在于:傳動(dòng)軸(4)長為9~11 mm,直徑不小于2 mm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置,其特征在于:所述固定裝置(1)為長方體形狀的中空箱體式結(jié)構(gòu)的裝置,長為17-19mm,寬為17-19 mm,高為7~9 mm,箱體壁厚度為1~2 mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置,其特征在于:所述固定裝置(1)為長方體形狀的中空箱體式結(jié)構(gòu)的裝置,其中箱體前后兩側(cè)敞開,形成環(huán)狀長方體形狀,所述齒條(3)沿著箱體前后方向移動(dòng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置,其特征在于:在固定裝置(1)的下方一側(cè)固定連接直徑不小于2 mm,長度為7~10 mm的固定軸(5),通過固定軸(5)將固定裝置(1)放置于三維原子探針儀器的樣品臺(tái)上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述可實(shí)現(xiàn)三維原子探針微尖陣列樣品轉(zhuǎn)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)裝置,其特征在于:固定軸(5)和轉(zhuǎn)動(dòng)軸(4)錯(cuò)位設(shè)置。
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G01Q30-02 .非SPM的分析裝置,例如,SEM[掃描電子顯微鏡],分光計(jì)或光學(xué)顯微鏡
G01Q30-04 .顯示或數(shù)據(jù)處理裝置
G01Q30-08 .建立或調(diào)節(jié)樣本室所需環(huán)境條件的手段
G01Q30-18 .保護(hù)或避免樣品室內(nèi)部受到外界環(huán)境狀況影響的手段,例如振動(dòng)或電磁場(chǎng)
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