[發明專利]自適應校準方法、裝置、電子設備和可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202110190529.4
• 申請日: 2021-02-18
• 公開（公告）號: CN113009142A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 李依桐;楊曉晞;周照輝;張志天
• 申請（專利權）人: 上海艾瑞德生物科技有限公司
• 主分類號: G01N33/58
• 分類號: G01N33/58;H05B45/10
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 李莎

1.一種自適應校準方法，其特征在于，應用于膠體金檢測系統包括的控制單元，所述方法包括：

獲取圖像采集裝置采集的標準片的圖像信息以及所述標準片的期望灰度值，其中，所述標準片處于光源設備以第一發光強度進行照射的環境中，所述圖像信息包括真實灰度值；

計算所述期望灰度值與所述真實灰度值的第一差值；

判斷所述第一差值是否小于或等于預設閾值，若所述第一差值大于所述預設閾值，則基于所述第一差值對所述光源設備的發光強度進行調節，使所述光源設備以第二發光強度照射所述標準片；

在所述光源設備以第二發光強度照射所述標準片后，再次執行所述獲取圖像采集裝置采集的標準片的圖像信息至所述基于所述第一差值對所述光源設備的發光強度進行調節的步驟，直至所述第一差值小于或等于所述預設閾值。

2.根據權利要求1所述的自適應校準方法，其特征在于，所述基于所述第一差值對所述光源設備的發光強度進行調節的步驟包括：

獲取所述光源設備的最小可調電流值；

基于所述第一差值及所述最小可調電流值，計算得到所述光源設備的待調節目標電流值；

基于所述待調節目標電流值對所述光源設備的發光強度進行調節。

3.根據權利要求2所述的自適應校準方法，其特征在于，所述控制單元保存有校準次數信息，所述基于所述第一差值及所述最小可調電流值，計算得到所述光源設備的待調節目標電流值的步驟包括：

獲取校準次數信息以及所述光源設備的當前電流值，基于所述校準次數信息判斷是否為第一次校準；

若確定為第一次校準，則判斷所述第一差值是否為正值；

若確定所述第一差值為正值，則計算所述最小可調電流值與所述當前電流值的和值，將該和值作為所述待調節目標電流值；

若確定所述第一差值為負值，則計算所述當前電流值與所述最小可調電流值的第二差值，將所述第二差值作為所述待調節目標電流值。

4.根據權利要求3所述的自適應校準方法，其特征在于，所述方法還包括：

若確定不是第一次校準，則獲取前一次校準時預設檢測線處的第一歷史真實灰度值、所述預設第一質控線處的第二歷史真實灰度值以及所述處的第三歷史真實灰度值；

獲取所述預設檢測線處的第一當前真實灰度值、所述預設第一質控線處的第二當前真實灰度值以及所述預設第二質控線處的第三當前真實灰度值；

計算所述第一歷史真實灰度值與所述第一當前真實灰度值的第一變化值，計算所述第二歷史真實灰度值與所述第二當前真實灰度值的第二變化值，計算所述第三歷史真實灰度值與所述第三當前真實灰度值的第三變化值；

基于所述第一變化值、所述第二變化值及所述第三變化值，按照以下公式獲得所述光源設備的待調節變量：

ΔC1Y＝aΔled1+bΔled2+mΔled3+nΔled4

ΔC2Y＝bΔled1+aΔled2+nΔled3+mΔled4

ΔTY＝cΔled1+cΔled2+kΔled3+kΔled4

其中，a、b、c、m、n、k均為自適應參數，ΔC1Y為所述第二變化值，ΔC2Y為所述第三變化值，ΔTY為所述第一變化值，Δled1為所述光源設備的第一待調節變量，Δled2為所述光源設備的第二待調節變量，Δled3為所述光源設備的第三待調節變量，Δled4為所述光源設備的第四待調節變量；

基于所述第一待調節變量、第二待調節變量、第三待調節變量及所述第四待調節變量，計算得到所述光源設備的待調節目標電流值。

5.根據權利要求1所述的自適應校準方法，其特征在于，所述膠體金檢測系統還包括溫度采集裝置，所述獲取圖像采集裝置采集的標準片的圖像信息的步驟包括：

獲取所述溫度采集裝置采集的當前溫度信息及上一次校準時采集的歷史溫度信息；

計算所述當前溫度信息與所述歷史溫度信息的第三差值，判斷所述第三差值是否大于第二預設閾值；

若確定所述第三差值大于所述第二預設閾值，則獲取所述圖像采集裝置采集的標準片的圖像信息。