[發明專利]一種低散射特性吸波角錐結構

在審

• 申請號: 202110189917.0
• 申請日: 2021-02-18
• 公開（公告）號: CN112986934A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 胡益民;李新濤;郭濤;劉文明;樊迪剛
• 申請（專利權）人: 南京航天波平電子科技有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40;G01R29/08
• 代理公司: 南京蘇博知識產權代理事務所(普通合伙) 32411
• 代理人: 伍兵

本發明公開了一種低散射特性吸波角錐結構，包括錐體底部和錐體中部；錐體底部具有第一菱形面；錐體中部具有第二菱形面和錐尖，第二菱形面和錐尖位于錐體中部兩側；第二菱形面和錐體底部遠離第一菱形面一側連接，錐體中部和錐體底部一體成型；通過將常規的角錐吸波材料的正方形底部橫截面調整為第一菱形面，并且通過在錐體底部上設置的錐體中部，通過調整第一菱形面的尺寸和第二菱形面的尺寸，以及調整第一菱形面與第二菱形面的垂直距離、第二菱形面與錐尖的垂直距離，能夠獲得更好的低散射特性，進而能夠將暗室背景噪聲分貝值進一步降低。

技術領域

本發明涉及吸波角錐結構技術領域，尤其涉及一種低散射特性吸波角錐結構。

背景技術

緊縮場電波暗室是用來測量物體的低散射特性的一種暗室。其暗室內部有電磁波金屬反射面，具有測試距離短的特點。它是測量被測設備的雷達截面積的測量設備，雷達截面積的大小就是隱身值，雷達截面積計算值由設備的實測的雷達截面積的分貝值與暗室的背景噪聲分貝值扣減獲得。如果暗室背景噪聲分貝值越低，那么暗室能夠測量雷達截面積也就越低，測量的系統不確定度越低，因此該值大小是衡量緊縮場暗室技術水平的重要指標。為了提高暗室技術水平，如何解決降低暗室背景噪聲分貝值成為暗室用角錐吸波材料發展重點。目前降低暗室背景噪聲分貝值是通過改變暗室背景墻的傾斜角度，將主墻與地面的90°垂直方式改成8°～12°傾斜方式，減少電磁波在背景墻反射入暗室靜區的能量來實施，也可以通過扭轉45°角錐吸波材料的鋪設方式減少角錐吸波材料的向前散射特性來獲得背景噪聲分貝值的降低。但是由于現有的角錐吸波材料的低散射特性不足，獲得背景分貝值只能達到-30dB～-40dB，導致獲得暗室背景噪聲分貝值降低十分有限。

發明內容

本發明的目的在于提供一種低散射特性吸波角錐結構，旨在解決現有的角錐吸波材料的低散射特性不足問題。

為實現上述目的，本發明提供了一種低散射特性吸波角錐結構，包括錐體底部和錐體中部；所述錐體底部具有第一菱形面，所述第一菱形面的兩條對角線比值為1:0.3～0.8；所述錐體中部具有第二菱形面和錐尖，所述第二菱形面和所述錐尖位于所述錐體中部兩側；所述第二菱形面和所述錐體底部遠離所述第一菱形面一側連接，所述錐體中部和所述錐體底部一體成型；所述第二菱形面的兩條對角線比值為1：0.3～0.8。

其中，所述第二菱形面距所述錐尖的垂直長度與所述第一菱形面距所述錐尖的垂直長度比值為0.3～0.8:1。

其中，所述第一菱形面和所述錐尖的垂直距離為400～700毫米。

其中，所述第一菱形面面積為14cm²～1344cm²；所述第二菱形面面積為1cm²～1000cm²。

本發明的一種低散射特性吸波角錐結構，通過將常規的角錐吸波材料的正方形底部橫截面調整為所述第一菱形面，并且在所述錐體底部上設置有所述錐體中部，通過調整所述第一菱形面的尺寸和所述第二菱形面的尺寸，以及調整所述第一菱形面與所述第二菱形面的垂直距離、所述第二菱形面與所述錐尖的垂直距離，能夠獲得更好的低散射特性，進而能夠將暗室背景噪聲分貝值進一步降低。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明的一種低散射特性吸波角錐結構的實施例的結構示意圖；

圖2是本發明的一種低散射特性吸波角錐結構的另一實施例的結構示意圖；

圖3是本發明的一種低散射特性吸波角錐結構的另一實施例的結構示意圖。

1-錐體底部、2-錐體中部、10-第一菱形面、20-第二菱形面、21-錐尖。