[發(fā)明專利]用于檢查晶體管組件的功能性的方法和電子電路在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110182194.1 | 申請日： | 2021-02-09 |
| 公開（公告）號： | CN113341290A | 公開（公告）日： | 2021-09-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | A·格拉夫 | 申請（專利權(quán)）人： | 英飛凌科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人： | 閆昊 |
| 地址： | 德國諾伊*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 檢查 晶體管 組件 功能 方法 電子電路 | ||
1.一種用于檢查晶體管組件(1)的功能性的方法，其中所述方法包括：
對所述晶體管組件的驅(qū)控端子(G，S)之間存在的內(nèi)部電容(11)的充電狀態(tài)的第一改變；
基于所述充電狀態(tài)的所述第一改變，確定所述內(nèi)部電容(11)的電容值(CGS)；
對所述內(nèi)部電容(11)的所述充電狀態(tài)的第二改變；以及
基于所確定的所述電容值(CGS)和對所述充電狀態(tài)的所述第二改變，評估所述驅(qū)控端子(G，S)之間存在的內(nèi)部的電阻(12)的電阻值(RGS)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，
其中，所述晶體管組件(1)具有閾值電壓(Vth)，以及
其中，對所述內(nèi)部電容(11)的所述充電狀態(tài)進(jìn)行所述第一改變，使得在所述驅(qū)控端子(G，S)之間施加的驅(qū)控電壓(VGS)與所述閾值電壓(Vth)之間的差增大。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，
其中，當(dāng)所述驅(qū)控電壓(VGS)具有接通電平(VON)時，對所述內(nèi)部電容(11)的所述充電狀態(tài)進(jìn)行所述第一改變和所述第二改變。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，其中，確定所述電容值(CGS)包括：
在對所述充電狀態(tài)的所述第一改變期間測量一時間段，在該時間段期間，在所述驅(qū)控端子(G，S)之間施加的驅(qū)控電壓(VGS)從第一定義電壓電平(V1)改變到第二定義電壓電平。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，對所述充電狀態(tài)的所述第一改變包括：
以基本恒定的充電電流對所述內(nèi)部電容充電。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，對所述充電狀態(tài)的所述第一改變包括：
向具有所述內(nèi)部電容(11)和充電電阻(37)的串聯(lián)電路施加基本恒定的電壓(VSUP2)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，
其中，對所述充電狀態(tài)的所述第一改變包括借助于充電脈沖對所述內(nèi)部電容(11)逐步充電，以及
其中，確定所述電容值(CGS)包括在對所述充電狀態(tài)的所述第一改變期間的以下一項：
確定一時間段，在該時間段期間，在所述驅(qū)控端子(G，S)之間施加的驅(qū)控電壓(VGS)從第一定義電壓電平(V1)改變到第二定義電壓電平；或者
確定多個充電脈沖，通過所述充電脈沖，在所述驅(qū)控端子(G，S)之間施加的所述驅(qū)控電壓(VGS)從所述第一定義電壓電平(V1)改變到所述第二定義電壓電平。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，
其中，對所述內(nèi)部電容(11)的所述充電狀態(tài)的所述第二改變包括：
僅通過在所述驅(qū)控端子(G，S)之間存在的所述電阻(12)對所述內(nèi)部電容(11)放電。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中，評估所述驅(qū)控端子(G，S)之間存在的所述電阻(12)包括：
確定一時間段，在該時間段期間，在所述驅(qū)控端子(G，S)之間施加的驅(qū)控電壓(VGS)從第三定義電壓電平(V2)變?yōu)榈谒亩x電壓電平(V1；V3)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其中，所述第三定義電壓電平等于所述第一定義電壓電平(V1)，并且所述第四定義電壓電平等于所述第二定義電壓電平(V2)。
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