[發(fā)明專利]電極進(jìn)樣DBD微等離子體原子發(fā)射光譜檢測(cè)系統(tǒng)及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110181815.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112986219B | 公開(公告)日: | 2022-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于永亮;劉雙;王建華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東北大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/73 | 分類號(hào): | G01N21/73 |
| 代理公司: | 沈陽東大知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 21109 | 代理人: | 馬海芳 |
| 地址: | 110819 遼寧*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電極 dbd 等離子體 原子 發(fā)射光譜 檢測(cè) 系統(tǒng) 方法 | ||
一種電極進(jìn)樣DBD微等離子體原子發(fā)射光譜檢測(cè)系統(tǒng)及方法,屬于原子發(fā)射光譜檢測(cè)設(shè)備和分析領(lǐng)域。該檢測(cè)系統(tǒng)包括DBD微等離子體激發(fā)源、光譜檢測(cè)系統(tǒng);DBD微等離子體激發(fā)源中的樣品電極用于富集待測(cè)物;樣品電極富集待測(cè)物的一端插入石英管的管內(nèi);連接調(diào)壓器的霓虹燈電源的輸出端分別和高壓導(dǎo)線以及樣品電極未富集待測(cè)物的一端連接;石英管上帶有的支管和氣路系統(tǒng)連接;光譜檢測(cè)系統(tǒng)包括透鏡、光纖和微型光譜儀,透鏡通過光纖和微型光譜儀連接。其方法為:通過蠕動(dòng)泵以恒定流速將含有待測(cè)物的樣品溶液流過樣品電極表面預(yù)濃縮,干燥,然后進(jìn)行測(cè)量。該系統(tǒng)和方法能夠原位分析電極表面所吸附的待測(cè)物,非常適合批量樣品的快速高通量分析。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于原子發(fā)射光譜檢測(cè)設(shè)備和分析技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種電極進(jìn)樣DBD微等離子體原子發(fā)射光譜檢測(cè)系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)
原子發(fā)射光譜分析法是食品、環(huán)境等科學(xué)領(lǐng)域中元素含量檢測(cè)十分常用的分析技術(shù),也是生態(tài)建設(shè)和環(huán)境保護(hù)的重要手段。實(shí)驗(yàn)室中的大型光譜分析儀器能夠?qū)崿F(xiàn)元素的穩(wěn)定、準(zhǔn)確、高靈敏檢測(cè),但因其高能耗、體積大等缺點(diǎn)往往只能在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行分析檢測(cè)無法滿足野外現(xiàn)場(chǎng)分析檢測(cè)的需求。由于重金屬的毒性、致癌性和生物積累性,重金屬污染對(duì)人類健康的危害已引起世界各國的廣泛關(guān)注。重金屬污染事故時(shí)有發(fā)生,如意外泄漏或非法排放,甚至經(jīng)過處理的純凈水也可能由于從管道浸出而含有重金屬。環(huán)境水中重金屬污染的檢測(cè)通常需要采集、保存和運(yùn)輸大量水樣(250-1000mL)到實(shí)驗(yàn)室用基準(zhǔn)法分析,例如原子吸收光譜法(Atomic Absorption Spectrometry,AAS)、原子熒光光譜法(AtomicFluorescence Spectrometry,AFS)以及電感耦合等離子體發(fā)射光譜/質(zhì)譜(InductivelyCoupled Plasma-Optical Emission Spectrometry/Mass Spectrometry,ICP-OES/MS)等。這種檢測(cè)方式不僅增加了物流運(yùn)輸?shù)膲毫?,而且樣品與氧氣、容器壁的接觸或溫度和壓力的物理變化將不可避免地導(dǎo)致樣品存儲(chǔ)過程中分析物的損失和樣品的污染,這將嚴(yán)重影響分析結(jié)果準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。因此,迫切需要開發(fā)便攜式分析儀器來滿足現(xiàn)場(chǎng)重金屬污染分析的需求。
目前,一些基于便攜式檢測(cè)器的重金屬分析方法,例如陽極溶出伏安法(AnodicStripping Voltammetry,ASV)和比色法(Colorimetry)可用于野外痕量重金屬的檢測(cè),但由于存在未知共存金屬離子的干擾,不能完全適用于復(fù)雜真實(shí)水樣中重金屬的檢測(cè)。X射線熒光光譜法(X-ray Fluorescence,XRF)和激光誘導(dǎo)擊穿光譜法(Laser InducedBreakdown Spectroscopy,LIBS)在直接取樣時(shí)可分析元素特征,特別適用于重金屬的快速現(xiàn)場(chǎng)分析,但受到樣品異質(zhì)性和檢測(cè)靈敏度不足的限制。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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