[發明專利]光學相干層析成像快速空間自適應去卷積方法在審
| 申請號: | 202110181508.6 | 申請日: | 2021-02-08 |
| 公開(公告)號: | CN112927317A | 公開(公告)日: | 2021-06-08 |
| 發明(設計)人: | 任尚杰;杜藝娜;董峰 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | G06T11/00 | 分類號: | G06T11/00;G06T3/40;G06T5/00 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人: | 程毓英 |
| 地址: | 300072*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 相干 層析 成像 快速 空間 自適應 卷積 方法 | ||
1.一種光學相干層析成像快速空間自適應去卷積方法,包括下列步驟:
步驟一:構建OCT圖像去卷積的數學模型:
o(x,y)=h(x,y,w)*ι(x,y)
式中,*為卷積算子,o(x,y)為觀測到的OCT信號,ι(x,y)為待探測的折射率分布函數,(x,y)為探測點的坐標,w為探測點的深度,h(x,y,w)為基于高斯光束模型得到的點擴散函數:
將上述數學模型離散化得到下述線性模型:
式中,為信號o(x,y)所對應的模糊圖像,為折射率函數ι(x,y)所對應的清晰圖像,為卷積核h(x,y,w)及卷積操作所對應的線性矩陣,代表符號兩邊具有等價關系。
步驟二:構建去卷積優化問題的最小二乘形式:
式中,||O||2表示向量O的二范數,為由OCT信號離散化生成的模糊圖像,為待探測折射率分布函數離散化得到的清晰圖像,為卷積核矩陣,w為成像深度,和分別為對I和w的正則化項,λ和μ為正則化參數;
步驟三:設t=0,由理查德森-露西算法得到成像深度和清晰圖像的初始估計wt和It,并設定最大迭代次數Tmax及圖像殘差閾值τ;
步驟四:設第t步迭代中,成像深度和清晰圖像的估計值分別為wt和It;固定wt則步驟二中為常數,I的估計值與無關,步驟二中的優化問題簡化為下述形式:
式中,是當成像深度為wt時的卷積算子,為第t步迭代中關于圖像的正則化項,選用Tikhnonv正則化形式,根據高斯-牛頓迭代解的形式,得到加速迭代優化的解為:
其中,表示點擴散函數所對應的n×n離散化圖像,和分別表示二維圖像的傅里葉變化和傅里葉反變換;
步驟五:固定It+1則步驟二中為常數,w的估計值與無關,步驟二中的優化問題簡化為下述形式:
式中,選用Tikhnonv正則化項,即wp為成像深度的先驗值;
根據高斯-牛頓迭代解的形式可得,目標函數wt的高斯-牛頓迭代解為:
式中,O't和O”t滿足
步驟六:重復步驟四與步驟五,直至圖像殘差或迭代次數tTmax。
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