[發明專利]測試方法、測試設備和測試系統

在審

• 申請號: 202110181279.8
• 申請日: 2021-02-08
• 公開（公告）號: CN113009248A
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 李一路;楊榮康;郭啟云;李峰輝;李興國;王鵬程;溫凱;劉永成;黃滿義;付乃峰;張小飛
• 申請（專利權）人: 天津云遙宇航科技有限公司;中國氣象局氣象探測中心
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種測試方法，應用于測試設備，其特征在于，所述測試設備包括上位機和下位機，所述上位機通過外設部件互連標準PCI總線與所述下位機連接，所述測試方法包括：

所述上位機生成時序測試指令，并將所述時序測試指令發送給所述下位機，所述時序測試指令中包括指令發送時刻；

所述下位機存儲所述時序測試指令，通過中斷觸發處理器在所述指令發送時刻向被測設備轉發所述時序測試指令，以及將所述被測設備的時序反饋指令轉發給所述上位機。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述上位機生成時序測試指令，包括：

所述上位機在接收到所述下位機發送的脈沖開始指令時，生成所述時序測試指令，其中，所述下位機在接收到信號發生器產生的第一脈沖信號并檢測到所述第一脈沖信號的起始沿時，向所述上位機發送所述脈沖開始指令。

3.根據權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述下位機通過中斷觸發處理器在所述指令發送時刻向被測設備轉發所述時序測試指令，包括：

所述下位機在接收到所述信號發生器產生的第二脈沖信號時，產生所述中斷，并利用所述中斷觸發所述處理器在所述指令發送時刻向所述被測設備轉發所述時序測試指令，所述第二脈沖信號比所述第一脈沖信號晚一個脈沖周期產生。

4.根據權利要求3所述的測試方法，其特征在于，所述下位機利用所述中斷觸發所述處理器在所述指令發送時刻向所述被測設備轉發所述時序測試指令，包括：

所述下位機利用所述中斷觸發所述處理器開啟定時器，并根據所述定時器的定時時長周期性地查找需要在所述指令發送時刻轉發的時序測試指令，按照所述指令發送時刻向所述被測設備轉發查找到的時序測試指令。

5.根據權利要求4所述的測試方法，其特征在于，所述下位機包括至少兩個板卡，所述至少兩個板卡的接口類型不同，所述下位機利用所述中斷觸發所述處理器開啟定時器，并根據所述定時器的定時時長周期性地查找需要在所述指令發送時刻轉發的時序測試指令，按照所述指令發送時刻向所述被測設備轉發查找到的時序測試指令，包括：

所述下位機查找與所述被測設備接口類型相同的板卡，通過所述中斷觸發查找到的板卡的處理器開啟定時器，并根據所述定時器的定時時長周期性地查找需要在所述指令發送時刻轉發的時序測試指令，按照所述指令發送時刻向所述被測設備轉發查找到的時序測試指令。

6.根據權利要求5所述的測試方法，其特征在于，所述至少兩個板卡包括1553B接口板卡、控制器局域網絡CAN接口板卡、低電壓差分信號LVDS接口板卡、422接口板卡中的至少兩個。

7.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述上位機生成通用測試指令，并將所述通用測試指令發送給所述下位機；

所述下位機實時向所述被測設備轉發所述通用測試指令，以及將所述被測設備的通用反饋指令轉發給所述上位機。

8.一種測試設備，其特征在于，所述測試設備包括上位機和下位機，所述上位機通過外設部件互連標準PCI總線與所述下位機連接；

所述上位機，用于生成時序測試指令，并將所述時序測試指令發送給所述下位機，所述時序測試指令中包括指令發送時刻；

所述下位機，用于存儲所述時序測試指令，通過中斷觸發處理器在所述指令發送時刻向被測設備轉發所述時序測試指令，以及將所述被測設備的時序反饋指令轉發給所述上位機。

9.一種測試系統，其特征在于，包括權利要求8所述的測試設備、被測設備和信號發生器；

所述被測設備，用于接收所述下位機轉發的所述時序測試指令，并通過所述下位機向所述上位機發送所述時序反饋指令；

所述信號發生器，用于產生脈沖信號，所述脈沖信號用于將所述上位機、所述下位機與所述被測設備進行時序同步。

10.根據權利要求9所述的測試系統，其特征在于，所述被測設備為衛星有效載荷。