[發明專利]圖像傳感器

在審

• 申請號: 202110176983.4
• 申請日: 2021-02-09
• 公開（公告）號: CN112822382A
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發明（設計）人: 曲濤;劉振翔
• 申請（專利權）人: 威海華菱光電股份有限公司
• 主分類號: H04N5/225
• 分類號: H04N5/225;H04N5/357
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 劉娜

本發明提供了一種圖像傳感器。圖像傳感器包括：框體；電路板，電路板設置在框體內；透鏡結構；透鏡結構設置在框體上，透鏡結構與電路板間隔設置，電路板位于透鏡結構的光軸的延伸方向上；光源結構，光源結構設置在透鏡結構遠離電路板的一側，光源結構包括至少一個第一光源結構和至少一個第二光源結構，第一光源結構與第二光源結構在透鏡結構的光軸的延伸方向上間隔設置，圖像傳感器的檢測物面位于光源結構遠離透鏡結構的一側，第一光源結構的照射區域與第二光源結構的照射區域至少部分重合于檢測物面上。本發明解決了現有技術中的圖像傳感器存在成像質量差的問題。

技術領域

本發明涉及圖像傳感器設備領域，具體而言，涉及一種圖像傳感器。

背景技術

機器視覺領域中模擬生物視覺成像和處理信息的方式，幫助機器人提取，處理和理解所提取的信息，從而讓其準確，高效且安全的自動化作業。機器視覺的重要性主要體現在：引導定位，外觀檢測，高精度監測以及圖像識別。其中在工業自動化檢測中，在提高效率的同時對微小缺陷的檢測要求越來越高，未來這方面的市場還會不斷擴大。

基于高速高分辨的檢測需求，設計了一種鏡頭成像的產品。該產品在實際測試中需要有足夠強的光照亮度，才能清晰的檢測到檢測物。但是在實際測試中，因檢測條件的不同，需要把產品提高到一定的高度對檢測物進行掃描，這就同時需要提高光源的亮度，但是由于鏡頭的設計特性，拍攝的圖像中心亮度高，四周亮度低，整幅圖像明暗不均勻，對后續的算法補正造成了很大的困擾。

也就是說，現有技術中的圖像傳感器存在成像質量差的問題。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種圖像傳感器，以解決現有技術中的圖像傳感器存在成像質量差的問題。

為了實現上述目的，本發明提供了一種圖像傳感器，包括：框體；電路板，電路板設置在框體內；透鏡結構；透鏡結構設置在框體上，透鏡結構與電路板間隔設置，電路板位于透鏡結構的光軸的延伸方向上；光源結構，光源結構設置在透鏡結構遠離電路板的一側，光源結構包括至少一個第一光源結構和至少一個第二光源結構，第一光源結構與第二光源結構在透鏡結構的光軸的延伸方向上間隔設置，圖像傳感器的檢測物面位于光源結構遠離透鏡結構的一側，第一光源結構的照射區域與第二光源結構的照射區域至少部分重合于檢測物面上。

進一步地，圖像傳感器還包括殼體，框體和光源結構位于殼體內，殼體的一側具有檢測物面，第一光源結構與框體連接，第二光源結構與框體間隔設置。

進一步地，第一光源結構與檢測物面之間的距離大于等于168毫米且小于等于172毫米；第二光源結構與檢測物面之間的距離大于等于38毫米且小于等于42毫米。

進一步地，第一光源結構和第二光源結構在檢測物面上的照射寬度大于等于168毫米且小于等于172毫米。

進一步地，第一光源結構包括多個第一LED，多個第一LED首尾順次間隔設置，以形成第一光源圈。

進一步地，第二光源結構包括多個第二LED，多個第二LED首尾順次間隔設置，以形成第二光源圈，第二光源圈圍成的面積大于第一光源圈圍成的面積，且第一光源圈在第二光源圈上的正投影位于第二光源圈的內部。

進一步地，第一光源結構還包括第一容置框架，第一容置框架為中部鏤空的第一四邊形框架結構，第一容置框架朝向檢測物面的一側具有多個第一沉槽，多個第一沉槽沿第一四邊形框架結構的周向間隔設置，多個第一LED一一對應地設置在多個第一沉槽內，透鏡結構的至少一部分容置在第一容置框架的鏤空區域內，以使透鏡結構遠離電路板一側的表面與第一LED平齊。

進一步地，第二光源結構還包括第二容置框架，第二容置框架為中部鏤空的第二四邊形框架結構，第二容置框架朝向檢測物面的一側具有多個第二沉槽，多個第二沉槽沿第二四邊形框架結構的周向間隔設置，多個第二LED一一對應地設置在多個第二沉槽內。