[發(fā)明專利]基于LBF的衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片表面疵病檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110174979.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112907526B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-04-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邱根;陳薇;殷春;程玉華;王胤澤;陳凱;馮怡婷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/62;G06T7/66;G01N21/95;G06V10/762;G06V10/764;G06K9/62 |
| 代理公司: | 成都行之專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 溫利平 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 lbf 衛(wèi)星 望遠(yuǎn)鏡 鏡片 表面 檢測(cè) 方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于LBF的衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片表面疵病檢測(cè)方法,首先對(duì)聚類目標(biāo)函數(shù)添加權(quán)重項(xiàng)和收斂項(xiàng)對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化,并采用迭代的方法,對(duì)光學(xué)疵病圖像進(jìn)行分類處理,去除噪聲的同時(shí)使得疵病輪廓得到增強(qiáng);然后經(jīng)過(guò)分類處理后的圖像,采用LBF主動(dòng)輪廓模型,通過(guò)水平集函數(shù)演化并取零水平集分割出疵病圖像;最后對(duì)提取出來(lái)的疵病圖像進(jìn)行量化,對(duì)疵病圖像采用二值鏈碼技術(shù)對(duì)其疵病輪廓線進(jìn)行標(biāo)記,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)疵病區(qū)域面積、重心、長(zhǎng)短徑和周長(zhǎng)的量化。本發(fā)明將優(yōu)化聚類目標(biāo)函數(shù)進(jìn)行迭代、LBF主動(dòng)輪廓模型進(jìn)行疵病圖像分割以及疵病量化相結(jié)合,來(lái)增強(qiáng)衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片表面疵病的損傷特征,顯現(xiàn)其輪廓特征信息,提高了檢測(cè)精度的同時(shí)完成對(duì)疵病的量化分析。
技術(shù)鄰域
本發(fā)明屬于表面疵病檢測(cè)技術(shù)鄰域,更為具體地講,涉及一種基于LBF的衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片表面疵病檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
超精密光學(xué)元件是很多高精尖儀器及設(shè)備系統(tǒng)的重要組成部分。在航空航天鄰域中,大量光學(xué)元件運(yùn)用于衛(wèi)星,最為顯著的就是衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡,且直徑通常為米量級(jí)。對(duì)于衛(wèi)星而言,其主要功能就是對(duì)地面進(jìn)行拍攝、偵察、監(jiān)測(cè),因此對(duì)衛(wèi)星使用的太空望遠(yuǎn)鏡要求其成像靈敏度高、精度高、分辨能力強(qiáng)。衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡在大氣環(huán)境中,氣體不會(huì)對(duì)拍攝過(guò)程造成影響。但在太空中,由于其溫度很低,星云里的氣體(如氫氣、甲烷)會(huì)固化成顆粒物,附著在鏡片上,形成表面疵病。為了防止氣體固化顆粒物附著在鏡片上,通常會(huì)在鏡片附近添加吸附裝置。同樣的,在加工或者模擬實(shí)驗(yàn)中,出現(xiàn)的外界物體的擦掛,外界環(huán)境的沖擊造成的劃痕,以及后續(xù)操作處理不當(dāng),都會(huì)使其表面不可避免的留下麻點(diǎn)、裂口、劃痕、氣泡以及破邊等不同種類的表面疵病。對(duì)于衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片來(lái)說(shuō),表面劃痕等表面疵病的存在會(huì)對(duì)入射到表面的光束造成散射,同時(shí)表面疵病的尺寸較小,使得衍射現(xiàn)象也較為嚴(yán)重導(dǎo)致元件表面受到損傷,影響到元件使用的效率甚至導(dǎo)致元件的報(bào)廢。因此衛(wèi)星在發(fā)射之前通常會(huì)在地面上進(jìn)行太空環(huán)境模擬實(shí)驗(yàn),以保證衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡的拍攝功能在太空中正常運(yùn)行。
為了驗(yàn)證吸附裝置的功效或檢測(cè)鏡片制作過(guò)程中有沒(méi)有造成損失,需要對(duì)其進(jìn)行疵病檢測(cè)。對(duì)于傳統(tǒng)檢測(cè)表面疵病的精密系統(tǒng)而言,其檢測(cè)精度雖高,但設(shè)備組裝復(fù)雜、成本高,且各部件之間的位置關(guān)系和運(yùn)動(dòng)情況等有嚴(yán)格的要求,如果特定姿態(tài)發(fā)生改變,則該方向性指示也相應(yīng)地隨之改變,因此要求操作人員有一定的光學(xué)鄰域知識(shí)基礎(chǔ)。精密系統(tǒng)最大的弊端在于檢測(cè)光學(xué)元件的尺寸有限制,被測(cè)物通常在厘米或者分米量級(jí),無(wú)法對(duì)大尺寸光學(xué)器件進(jìn)行原位非接觸疵病檢測(cè)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種基于LBF的衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片表面疵病檢測(cè)方法,用于大尺寸衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片的原位非接觸疵病檢測(cè)時(shí)拍攝被測(cè)衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片獲得光學(xué)疵病圖像的處理,以提高檢測(cè)精度。
為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明基于LBF的衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片表面疵病檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
(1)、拍攝被測(cè)衛(wèi)星望遠(yuǎn)鏡鏡片,獲得光學(xué)疵病圖像;
(2)、像素點(diǎn)分類
2.1)、設(shè)置迭代閾值ε、類數(shù)G、調(diào)整參數(shù)m,初始化迭代次數(shù)k=0;
2.2)、構(gòu)建優(yōu)化的聚類目標(biāo)函數(shù)JFCM:
其中,Wxy,i為權(quán)重,Wxy,i=(Mxy,i×Gxy,i)/Zxy,Mxy,i為隸屬度系數(shù),Gxy,i為光照強(qiáng)度系數(shù),Zxy為歸一化常數(shù),其值為:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于電子科技大學(xué),未經(jīng)電子科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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