[發明專利]表面缺陷顯像裝置和表面缺陷檢測設備

有效

• 申請號: 202110174946.X
• 申請日: 2021-02-07
• 公開（公告）號: CN112964727B
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 王磊
• 申請（專利權）人: 廈門威芯泰科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 廈門龍格專利事務所(普通合伙) 35207
• 代理人: 婁燁明

1.表面缺陷顯像裝置，用于顯像待測物體的待測表面上的缺陷，所述待測表面包括平坦的第一表面，所述待測物體相對所述表面缺陷顯像裝置沿平行于第一表面的第一方向運動；其特征是，包括：

光源，其發光部設有朝向所述待測表面的第一發光面和不朝向所述待測表面的第二發光面，第一發光面和第二發光面相交形成折邊，所述折邊沿平行于第一表面且垂直于第一方向的第二方向延伸，并以第一表面為平面反射鏡形成折邊虛像；和

相機，其用于連續拍攝待測物體，所述相機的光軸垂直地與所述折邊虛像相交并與第一表面交于第一點；定義過第一點且垂直于第一方向的平面為第一平面，定義第一點和所述折邊所在的平面為第二平面；所述光軸與第一平面形成的第一夾角等于第一點至所述折邊的垂線與第一平面形成的第二夾角；

所述光源還被配置為其任何部分均不位于第一平面和第二平面之間的區域內。

2.如權利要求1所述的表面缺陷顯像裝置，其特征是，所述待測表面還包括沿第二方向位于第一表面兩側的曲面或傾斜面；在第二方向上，所述折邊的寬度大于所述待測物體的寬度。

3.如權利要求1所述的表面缺陷顯像裝置，其特征是，所述折邊至第一表面的距離不超過0.2米。

4.如權利要求1所述的表面缺陷顯像裝置，其特征是，第一夾角不超過9°。

5.如權利要求1所述的表面缺陷顯像裝置，其特征是，所述相機為線掃相機，線掃方向與第二方向相同。

6.表面缺陷檢測設備，其特征是，包括如權利要求1至5中任一項所述的表面缺陷顯像裝置，所述表面缺陷檢測裝置將相機連續拍攝的圖像合成為合成圖像，并在識別到合成圖像中待測表面所在區域內灰度值變化超過閾值時判定待測表面存在缺陷。

7.如權利要求6所述的表面缺陷檢測設備，其特征是，還包括旋轉機構；所述表面缺陷顯像裝置數量為兩個，沿第一方向布設；所述旋轉機構置于兩個表面缺陷顯像裝置之間，用于使所述待測物體繞垂直于第一表面的轉動軸轉動90°，所述表面缺陷檢測裝置將兩個表面缺陷顯像裝置的相機拍攝的圖像分別合成為兩個合成圖像，并在識別到任一合成圖像中待測表面所在區域內灰度值變化超過閾值時判定待測表面存在缺陷。

8.如權利要求6或7所述的表面缺陷檢測設備，其特征是，所述閾值為動態閾值。

9.如權利要求7所述的表面缺陷檢測設備，其特征是，還包括機架和傳送機構；兩個所述表面缺陷顯像裝置均固接于所述機架上；所述傳送機構包括若干沿第一方向布設的彼此平行的傳送輥，用以驅動所述待測物體沿第一方向運動；所述旋轉機構用于從下至上穿過相鄰的所述傳送輥之間的間隔將所述待測物體頂起以脫離所述傳送機構并帶動所述待測物體旋轉90°后將其放回所述傳送機構。