[發(fā)明專利]一種基于增強顯示的設(shè)備檢驗系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110174743.0
• 申請日: 2021-02-07
• 公開（公告）號: CN113160121B
• 公開（公告）日: 2023-09-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 郭晉;楊景標;顏澤鋼;高昌平;侯偉峰;張啟禮;胡華勝
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東省特種設(shè)備檢測研究院（廣東省特種設(shè)備事故調(diào)查中心）
• 主分類號: G06F16/538
• 分類號: G06F16/538;G06F16/583;G06F16/58;G06F16/51;G06T7/60;G06T7/62;G06T7/00;G06V20/20;G06T19/00;G06T17/00
• 代理公司: 合肥和瑞知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 34118
• 代理人: 王挺

本發(fā)明公開了一種基于增強顯示的設(shè)備檢驗系統(tǒng)，包括相互通信連接的客戶端和服務(wù)器；客戶端上設(shè)有攝像頭、定位系統(tǒng)、增強顯示界面；客戶端上還安裝有定位識別模塊M1、缺陷識別與尺寸測量模塊M2、檢驗輔助模塊M3、檢驗記錄模塊M4；服務(wù)器上設(shè)有設(shè)備信息數(shù)據(jù)庫D1、模型數(shù)據(jù)庫D2、檢驗方案數(shù)據(jù)庫D3。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)設(shè)備的快速識別，能夠幫助檢驗人員快速制定檢驗方案；在檢驗過程中，能夠自動對缺陷進行識別并測算缺陷的尺寸，能夠在特定的觀察時間段內(nèi)，自動記錄檢驗的圖像，并與其他檢驗記錄共同保存。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及設(shè)備檢驗技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種基于增強顯示的設(shè)備檢驗系統(tǒng)。

背景技術(shù)

目前的特種設(shè)備檢驗仍以人工全流程檢驗為主，由于特種設(shè)備的數(shù)量巨大、種類繁多、結(jié)構(gòu)復雜，導致檢驗人員工作強度大、任務(wù)繁重，且對于檢驗人員的培訓需要花費大量時間和高額成本。另外，目前的人工全流程檢驗?zāi)Ｊ酱嬖谝韵聠栴}：檢驗工作效率低下；檢驗的圖像記錄只保留不合格部位的圖像，信息匱乏；特種設(shè)備的檢驗周期間隔時間長，且歷次檢驗部位的選取有差異，使得數(shù)據(jù)可比性差，難以準確反映缺陷演變發(fā)展規(guī)律，以至于特種設(shè)備的安全狀況或剩余壽命的預(yù)測不夠準確。

增強顯示技術(shù)即AR技術(shù)是一種將虛擬信息疊加到真實世界，并可與之進行互動的技術(shù)。目前，AR技術(shù)在商業(yè)導購、游戲娛樂、地圖導航、古跡修復等方面的應(yīng)用日益廣泛，但AR技術(shù)在各個領(lǐng)域的應(yīng)用不是通用的，將AR技術(shù)應(yīng)用于特種設(shè)備檢驗中，有利于提高檢驗效率、降低成本，能夠獲得更加全面的數(shù)據(jù)，對于保證特種設(shè)備安全運行具有重要意義。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本發(fā)明提供一種基于增強顯示的設(shè)備檢驗系統(tǒng)，能夠?qū)崿F(xiàn)設(shè)備的快速識別，能夠幫助檢驗人員快速制定檢驗方案；在檢驗過程中，能夠自動對缺陷進行識別并測算缺陷的尺寸，能夠在特定的觀察時間段內(nèi)，自動記錄檢驗的圖像，并與其他檢驗記錄共同保存。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案，包括：

一種基于增強顯示的設(shè)備檢驗系統(tǒng)，包括前端客戶端和后端服務(wù)器，客戶端與服務(wù)器之間通信連接；

客戶端上設(shè)有攝像頭、定位系統(tǒng)、增強顯示界面；所述攝像頭用于獲取現(xiàn)場圖像；所述定位系統(tǒng)用于獲取客戶端當前位置信息；所述增強顯示界面用于向檢驗人員提供顯示和操作設(shè)置的功能；

客戶端上還安裝有：定位識別模塊M1、缺陷識別與尺寸測量模塊M2、檢驗輔助模塊M3、檢驗記錄模塊M4；

服務(wù)器上設(shè)有：設(shè)備信息數(shù)據(jù)庫D1、模型數(shù)據(jù)庫D2、檢驗方案數(shù)據(jù)庫D3；

所述設(shè)備信息數(shù)據(jù)庫D1中存儲有設(shè)備的基本信息，包括設(shè)備的基礎(chǔ)信息、安裝位置、結(jié)構(gòu)、標志物、歷次檢驗記錄信息；

所述模型數(shù)據(jù)庫D2中存儲有設(shè)備的模型信息，包括設(shè)備的外部模型信息和內(nèi)部模型信息；

所述檢驗方案數(shù)據(jù)庫D3中存儲有設(shè)備的檢驗方案，所述檢驗方案中設(shè)有若干個不同的檢驗項目；

所述定位識別模塊M1根據(jù)客戶端當前位置信息、現(xiàn)場圖像，以及根據(jù)設(shè)備信息數(shù)據(jù)庫D1中所存儲的各個設(shè)備的基本信息，對待檢驗設(shè)備進行設(shè)備識別，并從設(shè)備信息數(shù)據(jù)庫D1中讀取待檢驗設(shè)備的基本信息；

所述缺陷識別與尺寸測量模塊M2根據(jù)現(xiàn)場圖像對檢驗設(shè)備進行缺陷識別和缺陷尺寸測量，得到待檢驗設(shè)備的缺陷信息，所述缺陷信息包括缺陷類別和該缺陷的特征尺寸；

所述檢驗輔助模塊M3根據(jù)待檢驗設(shè)備的基本信息，從檢驗方案數(shù)據(jù)庫D3中選取待檢驗設(shè)備的最佳檢驗方案，以供檢驗人員進行參考；

所述檢驗輔助模塊M3還根據(jù)待檢驗設(shè)備的基本信息和模型信息，將待檢驗設(shè)備的模型在客戶端的增強顯示界面上進行顯示；