[發明專利]一種磁共振溫度成像方法及相關裝置

有效

• 申請號: 202110171662.5
• 申請日: 2021-02-08
• 公開（公告）號: CN114910855B
• 公開（公告）日: 2023-07-18
• 發明（設計）人: 韓萌;劉文博;曠雅唯;吳朝
• 申請（專利權）人: 華科精準（北京）醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/58
• 分類號: G01R33/58;G01K11/00;A61B5/055
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱宗力

1.一種磁共振溫度成像方法，其特征在于，包括：

使用含有i個不同回波時間的梯度回波序列對待測目標進行掃描，得到與所述回波時間對應的相位圖，所述i為大于或等于2的正整數；

選取至少兩組對應不同回波時間的相位圖獲得對應的溫度差圖，其中，使用任一時刻的相位圖減去基準時刻的相位圖得到該時刻的相位差圖，選取至少一個回波時間對應的相位差圖作為參考相位差圖，基于所述參考相位差圖對其他回波時間對應的待校準相位差圖進行校準，得到經校準的相位差圖，所述參考相位差圖對應的回波時間小于其所校準的相位差圖對應的回波時間，使用所述參考相位差圖和經校準的相位差圖計算該時刻的溫度差圖；

根據所述溫度差圖獲得溫度圖。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述得到經校準的相位差圖包括以下步驟：

根據相位差與回波時間成正比例的關系，基于回波時間和參考相位差圖的相位差，計算得到所述待校準相位差圖的相位差的估計值；然后使用所述估計值，根據相位周期性對所述待校準相位差圖進行解包裹，得到經校準后的相位差圖。

3.根據權利要求1或2中任一項所述的方法，其特征在于，還包括消除磁共振系統引起的相位漂移的步驟，所述消除磁共振系統引起的相位漂移的步驟在相位差圖或溫度圖上進行。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在相位差圖上進行消除磁共振系統引起的相位漂移的步驟包括：

選取多個熱參考點，通過從每個相位差圖減去所述熱參考點的平均相位差；

在溫度差圖上消除磁共振系統引起的相位漂移的步驟包括：

在溫度差圖中減去所述熱參考點的平均溫度差，進行校正。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其特征在于，還包括磁化率校正的步驟，磁化率校正的步驟在相位差圖或溫度差圖上進行；

在溫度差圖上進行磁化率校正的步驟包括：

根據所述參考相位差圖得到第一溫度圖，根據所述經校準相位差圖得到對應的第二溫度圖，

判斷所述第二溫度圖中每個像素對應的溫度值與所述第一溫度圖中相應像素對應的溫度值的差值的絕對值是否超過預設溫度閾值，如果是，則對所述第二溫度圖中相應像素對應的溫度值進行校正；

在相位差圖上進行磁化率校正的步驟包括：

判斷所述經校準相位差圖中每個像素對應的相位差值與所述參考相位圖中相應像素對應的相位差值的差值絕對值是否超過預設相位差閾值，如果是，則對經校準相位差圖中相應像素對應的相位差進行校正。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，還包括在相位差圖或溫度差圖上進行的校正運動引起的相位誤差的步驟；

在相位差圖上進行的校正運動引起的相位誤差的步驟包括：

在相位差圖的每個像素處的線性最小二乘擬合將運動引起的相位誤差去除；

在溫度差圖上進行的校正運動引起的相位誤差的步驟包括：

在溫度差圖的每個像素處用線性最小二乘擬合將運動引起的相位誤差去除。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述溫度差圖獲得對應時刻的溫度圖包括：

使用所述參考相位差圖和經校準的相位差圖計算溫度差，并進行加權以獲得待測目標的溫度圖；

或

使用對所述參考相位差圖和經校準的相位差圖進行加權平均以獲得平均溫度差，并根據所述平均溫度差計算所述待測目標的溫度圖。

8.一種磁共振溫度成像系統，其特征在于，包括：

數據傳輸模塊，其設置成接收磁共振序列圖像，并判斷圖像完整性；

溫度計算模塊，其設置成用于選擇序列、計算相位差、校準相位差、計算溫度；

溫度顯示模塊，其設置成將溫度以偽彩圖或等溫線的模式展示；

其中，所述系統進行一次完整計算的時間不超過1s。

9.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質上存儲有程序代碼，所述程序代碼被執行時實現權利要求1-7任一項所述的磁共振溫度成像方法。