[發明專利]一種渦輪葉片三波長輻射測溫裝置及方法有效
| 申請號： | 202110168504.4 | 申請日： | 2021-02-07 |
| 公開（公告）號： | CN112964365B | 公開（公告）日： | 2022-05-10 |
| 發明（設計）人： | 梁靜秋;呂金光;鄭凱豐;趙瑩澤;王惟彪;秦余欣;陶金;王超 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01J5/00 | 分類號： | G01J5/00;G01J5/52;G01J5/06;G01J5/90 |
| 代理公司： | 長春中科長光知識產權代理事務所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明;郭婷 |
| 地址： | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 渦輪 葉片 波長 輻射 測溫 裝置 方法 | ||
1.一種利用渦輪葉片三波長輻射測溫裝置的渦輪葉片三波長輻射測溫方法，所述渦輪葉片三波長輻射測溫裝置包括反射鏡、光學視管、分光探測系統和信號處理控制模塊；
所述反射鏡用于使探針分別采集到渦輪葉片表面輻射和環境表面輻射；
所述光學視管用于匯聚輻射光；
所述分光探測系統用于分波段探測渦輪葉片的輻射能；
所述信號處理控制模塊用于處理由所述輻射能轉換的電壓信號，建立誤差函數；
其特征在于，渦輪葉片三波長輻射測溫方法包括：
S1、建立探測器的輻射模型：
Sk＝εbkSBk(T)+(1-εbk)Sek+SDk (2)
其中，k＝1，2，3；
Sk為所述渦輪葉片三波長輻射測溫裝置實際輸出的電平信號；
εbk為目標表面發射率；
SDk為探測器噪聲；
Sek為目標表面受到的環境輻射引起的電平信號；
SBk(T)為高溫計測量與目標表面相同溫度的黑體熱輻射輸出的電平信號；
S2、利用高溫黑體對所述渦輪葉片三波長輻射測溫裝置進行標定，得到黑體溫度和三波長輻射模型的關系式SBk(T)和探測器噪聲SDk；
S3、建立誤差函數：
其中：
S4、對所述渦輪葉片的實際工作溫度范圍進行劃分，得到劃分區域端點溫度值Tn(n＝1，2，3....)代入到式(1)中，使用L-M算法求解不同所述區域端點溫度值對應的誤差函數值和相應的溫度值；
S5、取所述誤差函數值中的最小值，取其所對應的溫度值為所測表面的真實溫度。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，未經中國科學院長春光學精密機械與物理研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110168504.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
