[發(fā)明專利]一種基于ICT和FCT的軟失效預(yù)測(cè)方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110167707.1
• 申請(qǐng)日: 2021-02-05
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114861585A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-08-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉祖耀;顏志強(qiáng);張海貝;汪中博;劉路
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳長(zhǎng)城開(kāi)發(fā)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F30/367
• 分類號(hào): G06F30/367;G06N20/00;G06F119/02
• 代理公司: 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 44217
• 代理人: 郭偉剛

一種基于ICT和FCT的軟失效預(yù)測(cè)方法，包括以下步驟：步驟S1、從產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試項(xiàng)目中篩選出重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試項(xiàng)目；收集因重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試項(xiàng)目相關(guān)問(wèn)題而被客退的產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而組成非正常數(shù)據(jù)集；步驟S2、根據(jù)所述被客退的產(chǎn)品的生產(chǎn)時(shí)間，獲取同一批次但未被客退的產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而組成正常數(shù)據(jù)集；步驟S3、基于非正常數(shù)據(jù)集和正常數(shù)據(jù)集，構(gòu)建用于根據(jù)產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)預(yù)判產(chǎn)品是否存在軟失效的軟失效預(yù)測(cè)模型；步驟S4、根據(jù)軟失效預(yù)測(cè)模型，實(shí)時(shí)分析產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而預(yù)測(cè)產(chǎn)品是否存在軟失效。本發(fā)明的軟失效預(yù)測(cè)方法設(shè)計(jì)新穎，實(shí)用性強(qiáng)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及工業(yè)大數(shù)據(jù)挖掘領(lǐng)域，尤其涉及一種基于ICT和FCT的軟失效預(yù)測(cè)方法。

背景技術(shù)

在目前電子產(chǎn)品制造過(guò)程中，ICT(在線測(cè)試)/FCT(功能電路測(cè)試)測(cè)試結(jié)果是根據(jù)產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段須達(dá)到的電學(xué)性能、功能以及電子器件的規(guī)格范圍確定。該測(cè)試結(jié)果并沒(méi)有考慮由外力造成的測(cè)試結(jié)果可接受范圍內(nèi)的偏移，而這些偏移會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品可靠性的降低，易造成產(chǎn)品客退、返修成本上升和信譽(yù)損失。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對(duì)上述問(wèn)題，提出了一種基于ICT和FCT的軟失效預(yù)測(cè)方法。

本發(fā)明所提出的技術(shù)方案如下：

本發(fā)明提出了一種基于ICT和FCT的軟失效預(yù)測(cè)方法，包括以下步驟：

步驟S1、從產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試項(xiàng)目中篩選出重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試項(xiàng)目；收集因重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試項(xiàng)目相關(guān)問(wèn)題而被客退的產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而組成非正常數(shù)據(jù)集；

步驟S2、根據(jù)所述被客退的產(chǎn)品的生產(chǎn)時(shí)間，獲取同一批次但未被客退的產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而組成正常數(shù)據(jù)集；

步驟S3、基于非正常數(shù)據(jù)集和正常數(shù)據(jù)集，構(gòu)建用于根據(jù)產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)預(yù)判產(chǎn)品是否存在軟失效的軟失效預(yù)測(cè)模型；

步驟S4、根據(jù)軟失效預(yù)測(cè)模型，實(shí)時(shí)分析產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)，從而預(yù)測(cè)產(chǎn)品是否存在軟失效。

本發(fā)明上述的軟失效預(yù)測(cè)方法中，步驟S3通過(guò)采用機(jī)器學(xué)習(xí)算法執(zhí)行。

本發(fā)明上述的軟失效預(yù)測(cè)方法中，步驟S3包括以下步驟：

步驟S3.1、對(duì)正常數(shù)據(jù)集和非正常數(shù)據(jù)集的并集中所有ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化處理，該歸一化處理算法為：

k_ij＝|(T_ij-μ_j)/σ_j|；

其中，T_ij表示正常數(shù)據(jù)集和非正常數(shù)據(jù)集的并集中第i個(gè)產(chǎn)品的第j項(xiàng)ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)；

μ_j表示正常數(shù)據(jù)集中所有產(chǎn)品的第j項(xiàng)ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)的均值；

σ_j表示正常數(shù)據(jù)集中所有產(chǎn)品的第j項(xiàng)ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差；

正常數(shù)據(jù)集和非正常數(shù)據(jù)集的并集中產(chǎn)品總個(gè)數(shù)記為n，產(chǎn)品的ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)總項(xiàng)數(shù)記為m；采用第1個(gè)產(chǎn)品歸一化處理后的第1項(xiàng)-第m項(xiàng)ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)、第2個(gè)產(chǎn)品歸一化處理后的第1項(xiàng)-第m項(xiàng)ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)、…、第n個(gè)產(chǎn)品歸一化處理后的第1項(xiàng)-第m項(xiàng)ICT和FCT測(cè)試數(shù)據(jù)構(gòu)建A_nm；其中，