[發明專利]一種快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀

在審

• 申請號: 202110167053.2
• 申請日: 2021-02-05
• 公開（公告）號: CN112985228A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 王芝;蔡錦浩;謝國兵;付曉慶;翁鍇強;張永寧;黃玉;張明;韓俊;王慧娜;薛永剛;馮攀;馬彰鑫
• 申請（專利權）人: 西安應用光學研究所
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 中國兵器工業集團公司專利中心 11011
• 代理人: 劉二格

1.一種快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀，其特征在于，包括角度板底板(1)、表頭支架(5)、測量尺(4)、表頭支架導軌(6)；角度板底板(1)一端開設有頂角為60°的V型開口槽，待測透鏡(3)放置在V型開口槽處且與V型開口槽的兩側邊相切；V型開口槽兩側的角度板底板(1)上表面設置有表頭支架導軌(6)，表頭支架(5)套設在角度板底板(1)上，表頭支架(5)的頂框兩側與表頭支架導軌(6)配合且可沿表頭支架導軌(6)往復滑動，表頭支架(5)的底框位于角度板底板(1)底部，表頭支架(5)的頂框上還設置有千分尺表頭(2)，表頭支架(5)沿表頭支架導軌(6)往復滑動時，千分尺表頭(2)沿V型開口槽頂角平分線方向運動；角度板底板(1)底部還設置有測量尺(4)，測量尺(4)沿V型開口槽頂角平分線方向布置；表頭支架(5)的底框和測量尺(4)同步同方向運動，且表頭支架(5)和測量尺(4)的運動速度比為2:1；初始時，測量尺(4)與表頭支架(5)均位于角度板底板(1)的V型開口槽的頂點位置，表頭支架(5)和測量尺(4)同步運動至測量尺(4)接觸待測透鏡(3)時，測量尺(4)運動距離為待測透鏡(3)的半徑r，此時表頭支架(5)上的千分尺表頭(2)運動距離為2r，位于待測透鏡(3)的中心上方。

2.如權利要求1所述的快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀，其特征在于，所述表頭支架(5)的底框和測量尺(4)通過齒輪傳動機構連接，由齒輪傳動機構驅動表頭支架(5)和測量尺(4)同步同方向運動。

3.如權利要求2所述的快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀，其特征在于，還包括：回位彈簧，測量尺(4)與回位彈簧連接，沿V型開口槽頂角平分線方向克服回位彈簧的拉力推動測量尺(4)。

4.如權利要求3所述的快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀，其特征在于，所述表頭支架(5)為長方形框架。

5.如權利要求3所述的快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀，其特征在于，所述角度板底板(1)上為關于V型開口槽頂角平分線對稱的平板。

6.如權利要求3所述的快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀，其特征在于，兩條所述表頭支架導軌(6)關于V型開口槽頂角平分線對稱固定在角度板底板(1)上。

7.如權利要求3所述的快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀，其特征在于，所述V型開口槽底部具有透鏡承載體(7)，其上布置待測透鏡(3)。

8.基于權利要求1-7中任一項所述快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀的光學元件中心厚度測量方法，其特征在于，測量過程為：

將測量儀置于光學平臺上，推動待測透鏡3向測量儀角度板底板頂點方向靠攏并最終貼緊V型開口槽兩側；

推動測量尺直至測量尺頂端與待測透鏡3邊緣貼合，此時測量尺運動距離為待測透鏡3半徑r；

表頭支架5運動速度為測量尺4的兩倍且運動方向相同，此時正好滑動到待測透鏡3中心位置，壓下千分尺表頭2，測量中心厚度并記錄。

9.如權利要求1-7中任一項所述的快速定心的光學元件中心厚度精密測量儀在光學精密測量技術領域中的應用。

10.如權利要求8所述的光學元件中心厚度測量方法在光學精密測量技術領域中的應用。