[發明專利]指紋識別方法和指紋識別裝置

在審

• 申請號: 202110162952.3
• 申請日: 2021-02-05
• 公開（公告）號: CN112784809A
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 閔瑩;白懷文;陳燕軍;鄭文硯;閆曉春
• 申請（專利權）人: 三星（中國）半導體有限公司;三星電子株式會社
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 劉超;蘇銀虹

公開了一種指紋識別方法和指紋識別裝置，其中，所述指紋識別方法包括：獲取目標指紋的初步識別結果；對所述初步識別結果進行匹配度檢驗；基于匹配度檢驗的結果，確定所述目標指紋的最終識別結果。利用本公開的技術方案，可通過獲取細節點周圍特征對初步識別結果中涉及的細節點匹配對進行匹配檢驗，并基于檢驗結果適應性調整匹配分數，從而可提高細節點匹配的準確度。

技術領域

本公開涉及指紋識別技術領域，更具體地講，涉及指紋識別方法和指紋識別裝置。

背景技術

相關技術中，指紋識別算法大部分是基于指紋細節點匹配，原因為基于指紋細節點匹配的算法復雜度低，內存要求小，延遲小，因此適用于嵌入式設備，如智能卡，指紋門鎖等。但是，現階段基于指紋細節點匹配的指紋識別算法的識別準確度較低，從而可能會導致用戶不能順利識別指紋，影響用戶的操作體驗，或者可能會導致非用戶本人操作設備識別指紋成功，存在安全隱患。

發明內容

本公開提供了指紋識別方法以及相應的指紋識別裝置，以至少解決上述相關技術中的問題，也可不解決任何上述問題。

根據本公開示例性實施方式的一個方面，提供一種指紋識別方法，其中，所述指紋識別方法包括：獲取目標指紋的初步識別結果；對所述初步識別結果進行匹配度檢驗；基于匹配度檢驗的結果，確定所述目標指紋的最終識別結果。

如上所述，通過對初步識別結果進行匹配度檢驗，基于匹配度檢驗的結果，確定所述目標指紋的最終識別結果，可以顯著提高指紋識別的準確度。

可選地，所述初步識別結果包括：所述目標指紋的至少一個細節點匹配對，以及對應所述細節點匹配對的初始匹配評分，其中，所述細節點匹配對包括從所述目標指紋提取的實時細節點，以及與該實時細節點匹配的歷史細節點。

如上所述，設置所述初始匹配評分，可便于基于匹配度檢驗的結果對初步識別結果進行量化，以確定最終的識別結果。其中，實時細節點和匹配的歷史細節點為后續的檢驗提供了基礎。

可選地，所述指紋識別方法還包括：預先建立用于檢驗所述目標指紋的至少一個細節點匹配對的數據模板，對所述初步識別結果進行匹配度檢驗的步驟包括：基于所述數據模板對所述目標指紋的至少一個細節點匹配對進行檢驗。

可選地，所述數據模板中包括歷史細節點，以及與所述歷史細節點關聯的歷史細節點周圍特征，基于所述數據模板對所述目標指紋的至少一個細節點匹配對進行檢驗的步驟包括：獲取所述目標指紋的實時細節點周圍特征；基于所述實時細節點周圍特征與所述目標指紋的歷史細節點周圍特征，對所述目標指紋的至少一個細節點匹配對進行檢驗。

如上所述，數據模板中存儲了歷史細節點，以及與所述歷史細節點關聯的歷史細節點周圍特征，可用作后續基于實時細節點周圍特征以及對應的歷史細節點周圍特征的檢驗。即，為基于“細節點周圍特征”執行檢驗的步驟提供了數據支撐。

可選地，所述實時細節點周圍特征包括實時細節點所在脊線的多個實時脊線點；所述歷史細節點周圍特征包括歷史細節點所在脊線的多個歷史脊線點；基于所述實時細節點周圍特征與所述目標指紋的歷史細節點周圍特征，對所述目標指紋的至少一個細節點匹配對進行檢驗的步驟包括：逐一對比多個實時脊線點與多個歷史脊線點之間的坐標和/或方向角；將坐標誤差小于第一門限值和/或方向角誤差小于第二門限值的一對實時脊線點和歷史脊線點確定為脊線點匹配對；計算確定的脊線點匹配對涉及的實時脊線點在所述多個實時脊線點中的數量占比，作為匹配度檢驗的結果。

可選地，逐一對比多個實時脊線點與多個歷史脊線點之間的坐標和/或方向角的步驟包括：基于所述實時細節點與所述歷史細節點，確定旋轉平移因子；利用所述旋轉平移因子對所述多個歷史脊線點進行坐標的平移和/或方向角的旋轉。