[發明專利]一種校正雜散射線的方法

在審

• 申請號: 202110149758.1
• 申請日: 2017-08-31
• 公開（公告）號: CN112971823A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 季敏
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 成都七星天知識產權代理有限公司 51253
• 代理人: 楊永梅

本申請公開了一種校正雜散射線的方法，該方法包括獲取探測器第一通道上的第一信號，以及第二通道上的第二信號；其中，所述第一通道對應于所述探測器的第一視角，所述第二通道對應于所述探測器的第二視角，所述第二視角通過至少部分獲取探測器各通道的位置而確定；基于所述第二信號，確定散射線在所述探測器第一通道的第一投影值；以及基于所述第一信號和第一投影值，確定主射線在所述探測器第一通道上的第二投影值。該方法通過校正雜散射線，減少或消除了雜散射線導致的圖像偽影，提高了成像的質量。

本申請是申請號為CN201710776974.2(發明名稱為“一種校正雜散射線的方法”，申請日為2017.08.31)的發明專利的分案申請。

技術領域

本申請涉及一種校正雜散射線的方法，尤其是涉及一種計算機斷層掃描成像(computed tomography,CT)中雜散X射線的校正方法。

背景技術

在計算機斷層掃描成像(CT)過程中，射線濾過板、形狀濾過板、X射線球管內的射線窗和/或準直器等部件會對來自射線源的X射線進行散射而形成雜散射線。所述雜散射線可以降低重建圖像的質量，特別是對于投影值較大的區域，嚴重時重建圖像可能出現偽影。而現有的技術并沒有提供有效的散射射線校正方法和/或系統。因此，需要一種校正所述雜散射線，消除或減少圖像中由于散射導致的偽影的方法。

發明內容

針對上述雜散射線降低重建圖像質量的問題，本申請的目的在于提供一種有效消除或減少雜散射線的圖像重建方法。

為達到上述發明目的，本申請提供的技術方案如下：

一種校正雜散射線的方法，該方法包括獲取探測器第一通道上的第一信號，以及第二通道上的第二信號；其中，所述第一通道對應于所述探測器的第一視角，所述第二通道對應于所述探測器的第二視角，所述第二視角通過至少部分獲取探測器各通道的位置而確定；基于所述第二信號，確定散射線在所述探測器第一通道的第一投影值；以及基于所述第一信號和第一投影值，確定主射線在所述探測器第一通道上的第二投影值。

在一些實施例中，所述基于所述第一信號和第一投影值，確定主射線在所述探測器第一通道上的第二投影值包括：至少基于所述第一投影值確定所述探測器第一通道上的散射線信號；基于所述第一信號和所述散射線信號確定所述主射線在所述探測器第一通道上的主射線信號；以及基于所述主射線信號確定所述主射線在所述探測器第一通道上的第二投影值。

在一些實施例中，所述方法進一步包括：確定散射線在所述探測器第一通道上的第一分布值；以及基于所述第一信號、第一分布值和第一投影值，確定主射線在所述探測器第一通道上的第三信號，其中，所述第一分布值通過蒙特卡羅方法或實驗的方式獲得。

在一些實施例中，所述基于所述第一信號、第一分布值和第一投影值，確定主射線在所述探測器第一通道上的第三信號包括：基于所述第一分布值和所述第一投影值確定所述探測器第一通道上的所述散射線信號；將所述第一信號與所述散射線信號相減，得到所述探測器第一通道上的所述第三信號。

在一些實施例中，所述主射線來自X射線球管。

在一些實施例中，所述散射線由X射線球管內的射線窗、射線濾過板、形狀濾過板、準直器中的至少一個對射線源所產生的射線進行散射而形成。

在一些實施例中，所述射線過濾板用于減少或消除來自所述射線源的射線中的至少部分成分，所述形狀濾過器用于允許來自所述射線源的至少部分角度的射線通過。

在一些實施例中，所述探測器包括單排CT探測器或多排CT探測器。

在一些實施例中，所述方法進一步包括：確定所述探測器所有通道的第二投影值；以及至少基于部分所述探測器所有通道的第二投影值，重建CT圖像。

在一些實施例中，所述第一信號和/或第二信號通過所述探測器采集獲得或對至少一個重建的CT圖像進行正投影獲得。