[發(fā)明專利]一種電阻測試筆和電阻測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110147543.6 | 申請日： | 2021-02-03 |
| 公開（公告）號： | CN112946364A | 公開（公告）日： | 2021-06-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 王嘉誠;狄浩成 | 申請（專利權(quán)）人： | 神威超算（北京）科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/02 | 分類號： | G01R27/02;G05B19/042 |
| 代理公司： | 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人： | 張一軍;韓黎捷 |
| 地址： | 100086 北京市海淀區(qū)中*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 電阻 測試 方法 | ||
1.一種電阻測試筆，其特征在于，包括：殼體、微控制單元MCU、電源模塊、電阻采樣電路、數(shù)據(jù)存儲模塊、輸出模塊、正極測試探針、負(fù)極測試線和轉(zhuǎn)接頭；
其中，所述MCU、所述電阻采樣電路和所述數(shù)據(jù)存儲模塊分別設(shè)置于所述殼體內(nèi)，所述輸出模塊固定于所述殼體上；
所述數(shù)據(jù)存儲模塊，用于保存若干測點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)阻值；
所述正極測試探針的一端與所述電阻采樣電路相連，另一端用于與當(dāng)前測點(diǎn)接觸；
所述負(fù)極測試線的一端與所述電阻采樣電路相連，另一端固定有所述轉(zhuǎn)接頭，所述轉(zhuǎn)接頭用于與地線接觸；
所述電阻采樣電路，用于確定所述當(dāng)前測點(diǎn)的當(dāng)前阻值，并將所述當(dāng)前阻值輸出給所述MCU；
所述MCU，用于從所述數(shù)據(jù)存儲模塊獲取所述當(dāng)前測點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)阻值，根據(jù)所述當(dāng)前測點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)阻值和當(dāng)前阻值，確定所述當(dāng)前阻值是否合格，并將確定結(jié)果發(fā)送給所述輸出模塊；
所述輸出模塊，用于輸出所述確定結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的電阻測試筆，其特征在于，所述輸出模塊，包括：顯示屏；
所述顯示屏，用于展示所述確定結(jié)果。
3.如權(quán)利要求1所述的電阻測試筆，其特征在于，所述輸出模塊，包括：揚(yáng)聲器；
所述揚(yáng)聲器，用于播放所述確定結(jié)果。
4.如權(quán)利要求1所述的電阻測試筆，其特征在于，進(jìn)一步包括：操作按鈕；
所述操作按鈕設(shè)置于所述殼體上；
所述數(shù)據(jù)存儲模塊，用于保存所述若干測點(diǎn)的標(biāo)識；
所述MCU，用于響應(yīng)于所述操作按鈕的更新操作，根據(jù)所述輸出模塊前一次輸出測點(diǎn)的標(biāo)識，從所述數(shù)據(jù)存儲模塊獲取當(dāng)前測點(diǎn)的標(biāo)識，并將所述當(dāng)前測點(diǎn)的標(biāo)識發(fā)送給所述輸出模塊；
所述輸出模塊，用于輸出所述當(dāng)前測點(diǎn)的標(biāo)識；
所述電阻采樣電路，用于響應(yīng)于所述操作按鈕的選定操作，確定所述當(dāng)前測點(diǎn)的當(dāng)前阻值。
5.如權(quán)利要求4所述的電阻測試筆，其特征在于，
所述MCU，用于響應(yīng)于所述操作按鈕的保存操作，將所述確定結(jié)果發(fā)送給所述數(shù)據(jù)存儲模塊；
所述數(shù)據(jù)存儲模塊，用于保存所述確定結(jié)果。
6.如權(quán)利要求3所述的電阻測試筆，其特征在于，進(jìn)一步包括：通訊接口；
所述通訊接口，用于接收若干語音，并將所述若干語音發(fā)送給數(shù)據(jù)存儲模塊；
所述數(shù)據(jù)存儲模塊，用于存儲所述若干語音；
所述MCU，用于從所述數(shù)據(jù)存儲模塊獲取包含所述確定結(jié)果的語音，并將包含所述確定結(jié)果的語音發(fā)送給所述輸出模塊；
所述輸出模塊，用于播放包含所述確定結(jié)果的語音。
7.一種電阻測試方法，其特征在于，基于權(quán)利要求1-6任一所述的電阻測試筆，包括：
響應(yīng)于正極測試探針與當(dāng)前測點(diǎn)接觸、轉(zhuǎn)接頭與地線接觸，電阻采樣電路確定所述當(dāng)前測點(diǎn)的當(dāng)前阻值，并將所述當(dāng)前阻值輸出給MCU；
所述MCU從數(shù)據(jù)存儲模塊獲取所述當(dāng)前測點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)阻值，根據(jù)所述當(dāng)前測點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)阻值和當(dāng)前阻值，確定所述當(dāng)前阻值是否合格，并將確定結(jié)果發(fā)送給所述輸出模塊；其中，所述數(shù)據(jù)存儲模塊保存有若干測點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)阻值；
所述輸出模塊輸出所述確定結(jié)果。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，
所述輸出模塊輸出所述確定結(jié)果，包括：
顯示屏展示所述確定結(jié)果。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，
所述輸出模塊輸出所述確定結(jié)果，包括：
揚(yáng)聲器播放所述確定結(jié)果。
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