[發(fā)明專利]一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110147150.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-02-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112945379A | 公開(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫曉娟;王加旺;黎大兵;蔣科;賁建偉;賈玉萍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01J1/44 | 分類號(hào): | G01J1/44 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)春眾邦菁華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 22214 | 代理人: | 寧曉丹 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光子 探測(cè)器 時(shí)間 設(shè)置 噪聲 系統(tǒng) | ||
1.一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng),其特征在于,包括:搭載有探測(cè)芯片(2)的淬滅電路模塊(3)、偏壓模塊(1)、信號(hào)放大模塊(4)、甄別模塊(5)、單穩(wěn)模塊(6)、FPGA控制模塊(7)和死時(shí)間模塊(8);所述偏壓模塊(1)用于為探測(cè)芯片(2)提供反向偏置電壓;淬滅電路模塊(3)用于配置探測(cè)芯片(2)的工作方式使得探測(cè)芯片(2)能夠工作在蓋革模式下,用于根據(jù)死時(shí)間信號(hào)使探測(cè)芯片(2)退出蓋革模式;信號(hào)放大模塊(4)用于接收并放大探測(cè)芯片(2)產(chǎn)生的雪崩信號(hào)得到放大后雪崩模擬信號(hào),用于輸出放大后雪崩模擬信號(hào)至甄別模塊(5);甄別模塊(5)用于在放大雪崩模擬信號(hào)大于甄別模塊(5)上的甄別閾值時(shí)輸出數(shù)字脈沖信號(hào)至單穩(wěn)模塊(6);單穩(wěn)模塊(6)用于統(tǒng)一數(shù)字脈沖信號(hào)的脈沖寬度得到雪崩數(shù)字脈沖信號(hào)并輸出至FPGA控制模塊(7);FPGA控制模塊(7)用于根據(jù)雪崩數(shù)字脈沖信號(hào)輸出能夠控制甄別模塊(5)關(guān)閉一定時(shí)間的甄別器使能信號(hào)至甄別模塊(5)、輸出死時(shí)間觸發(fā)信號(hào)至死時(shí)間模塊(8);死時(shí)間模塊(8)用于基于死時(shí)間觸發(fā)信號(hào)生成死時(shí)間信號(hào)并輸出至淬滅電路模塊(3)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng),其特征在于,所述死時(shí)間觸發(fā)信號(hào)的上升沿和下降沿均會(huì)產(chǎn)生微分信號(hào);當(dāng)微分信號(hào)的時(shí)間到達(dá)甄別模塊(5)時(shí),甄別模塊(5)處于關(guān)閉狀態(tài)。
3.如權(quán)利要求1所述的一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng),其特征在于,所述FPGA控制模塊(7)能夠通過產(chǎn)生的甄別器使能信號(hào)控制甄別模塊(5)開啟和關(guān)閉,當(dāng)雪崩模擬信號(hào)到達(dá)甄別模塊(5)時(shí)甄別模塊(5)處于開啟狀態(tài)。
4.如權(quán)利要求1所述的一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng),其特征在于,所述偏壓模塊(1)連接探測(cè)芯片(2),淬滅電路模塊(3)連接信號(hào)放大模塊(4),信號(hào)放大模塊(4)連接甄別模塊(5),甄別模塊(5)連接單穩(wěn)模塊(6),單穩(wěn)模塊(6)連接FPGA控制模塊(7),F(xiàn)PGA控制模塊(7)連接甄別模塊(5)和死時(shí)間模塊(8)。
5.如權(quán)利要求1所述的一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng),其特征在于,所述死時(shí)間模塊(8)包括電平轉(zhuǎn)換芯片和放大器,所述FPGA控制模塊(7)產(chǎn)生的死時(shí)間觸發(fā)信號(hào)為差分信號(hào),F(xiàn)PGA控制模塊(7)輸出的死時(shí)間觸發(fā)信號(hào)經(jīng)電平轉(zhuǎn)換芯片轉(zhuǎn)換為單端信號(hào),再經(jīng)放大器放大后得到死時(shí)間信號(hào)。
6.如權(quán)利要求1所述的一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng),其特征在于,所述偏壓模塊(1)采用高壓模塊芯片,所述探測(cè)芯片(2)采用AlGaN探測(cè)芯片(2)。
7.如權(quán)利要求1所述的一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng),其特征在于,所述信號(hào)放大模塊(4)采用低噪聲放大器,所述甄別模塊(5)采用電壓比較器,所述單穩(wěn)模塊(6)采用D觸發(fā)器。
8.如權(quán)利要求1所述的一種單光子探測(cè)器死時(shí)間設(shè)置與噪聲濾除的系統(tǒng),其特征在于,所述淬滅電路模塊(3)采用被動(dòng)淬滅模式使探測(cè)芯片(2)退出蓋革模式。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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