[發(fā)明專利]一種遙感影像可見光波段地形落影校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110146962.8 | 申請日: | 2021-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN112964643B | 公開(公告)日: | 2022-04-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 江洪;吳勇鋒;麻霞 | 申請(專利權(quán))人: | 福州大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/17 | 分類號: | G01N21/17;G01S7/497;G01S17/89;G06V10/24;G06V20/13;G06V10/764;G06K9/62 |
| 代理公司: | 福州元創(chuàng)專利商標(biāo)代理有限公司 35100 | 代理人: | 陳鼎桂;蔡學(xué)俊 |
| 地址: | 350108 福建省福州市*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 遙感 影像 可見光 波段 地形 校正 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種遙感影像可見光波段地形落影校正方法,主要包括影像預(yù)處理、落影提取、SCS+C計算、SEVI計算、樣本制作、機(jī)器學(xué)習(xí)、地形落影校正、地形落影校正效果評價。本發(fā)明能有效消除遙感影像紅、綠、藍(lán)波段的落影干擾,彌補(bǔ)了SEVI只能獲取消除落影干擾的單波段信息的不足,也彌補(bǔ)了常規(guī)基于DEM的地形校正方法在落影失效的不足。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及陰影補(bǔ)償技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種遙感影像可見光波段地形落影校正方法。
背景技術(shù)
地形陰影嚴(yán)重干擾山區(qū)植被信息提取精度,給山區(qū)土地覆被解譯造成巨大困難,因此研究地形陰影光譜信息補(bǔ)償方法具有極其重要的意義。目前的地形陰影校正方法主要有山地輻射傳輸模型、基于DEM數(shù)據(jù)的經(jīng)驗(yàn)校正模型以及波段組合優(yōu)化計算模型等三類。基于山地輻射傳輸模型方法同時考慮太陽直射輻射、大氣散射輻射以及周圍地形反射輻射,效果較好,但模型參數(shù)較多且計算過程復(fù)雜,推廣難度大。基于DEM數(shù)據(jù)的經(jīng)驗(yàn)校正方法以反射率與cosi的統(tǒng)計關(guān)系為基礎(chǔ)進(jìn)行經(jīng)驗(yàn)校正,包括統(tǒng)計-經(jīng)驗(yàn)?zāi)P汀w一化模型、朗伯體反射率模型以及非朗伯體反射率模型,但該類方法只對本影有效,對落影校正效果不佳。基于波段組合優(yōu)化計算模型的方法通過構(gòu)建特殊的植被指數(shù)來獲取消除地形影響后的植被信息,如波段比模型、FCD模型和VBSI指數(shù)、地形調(diào)節(jié)植被指數(shù)、歸一化差值山地植被指數(shù)、陰影消除植被指數(shù)(SEVI)等,然而該類模型只能獲取落影的指數(shù)信息,缺乏多光譜信息。而多光譜信息是遙感影像分類的基礎(chǔ),對山區(qū)土地利用分類至關(guān)重要。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種遙感影像可見光波段地形落影校正方法,能有效消除遙感影像紅、綠、藍(lán)波段的落影干擾,彌補(bǔ)了SEVI只能獲取消除落影干擾的單波段信息的不足,也彌補(bǔ)了常規(guī)基于DEM的地形校正方法在落影失效的不足。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種遙感影像可見光波段地形落影校正方法,包括以下步驟:
步驟S1:獲取研究區(qū)的衛(wèi)星遙感數(shù)據(jù)和DEM數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)規(guī)范為同一數(shù)據(jù)格式;
步驟S2:根據(jù)得到的研究區(qū)的衛(wèi)星遙感數(shù)據(jù)和DEM數(shù)據(jù),進(jìn)行落影提取;
步驟S3:對研究區(qū)地表反射率進(jìn)行SCS+C校正;
步驟S4:對研究區(qū)地表反射率進(jìn)行SEVI計算;
步驟S5:在光照區(qū)內(nèi)生成一定數(shù)目的隨機(jī)樣本點(diǎn),將隨機(jī)樣本點(diǎn)與SEVI及SCS+C校正后各波段地表反射率相結(jié)合制作樣本集,并按預(yù)設(shè)比例隨機(jī)分為訓(xùn)練樣本集和測試樣本集;
步驟S6:將訓(xùn)練樣本集的SEVI作為自變量,以訓(xùn)練樣本集SCS+C校正后單波段地表反射率為因變量構(gòu)建隨機(jī)森林回歸模型,以測試樣本集對隨機(jī)森林回歸模型進(jìn)行精度預(yù)測;
步驟S7:根據(jù)得到的隨機(jī)森林回歸模型對落影區(qū)可見光波段地表反射率進(jìn)行預(yù)測,補(bǔ)償落影區(qū)可見光波段光譜信息。
進(jìn)一步的,所述步驟S1具體為:
步驟S11:收集覆蓋研究區(qū)的衛(wèi)星遙感數(shù)據(jù)和DEM數(shù)據(jù);
步驟S12:對衛(wèi)星遙感數(shù)據(jù)進(jìn)行輻射定標(biāo)和大氣校正,采用研究區(qū)掩膜文件裁剪大氣校正后地表反射率數(shù)據(jù),得到研究區(qū)地表反射率數(shù)據(jù);
步驟S13:對DEM數(shù)據(jù)進(jìn)行投影變換、重采樣及裁剪操作,得到研究區(qū)DEM數(shù)據(jù),最后將獲取數(shù)據(jù)規(guī)范為同一數(shù)據(jù)格式。
進(jìn)一步的,所述步驟S2具體為:
步驟S21:在研究區(qū)分別選取陰影區(qū)、光照區(qū)及水體三類樣本點(diǎn);
步驟S22:采用隨機(jī)森林分類方法結(jié)合三類樣本點(diǎn)對研究區(qū)進(jìn)行分類,提取總體陰影;
步驟S23:選用如下公式提取本影;
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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