[發(fā)明專利]一種板級GaN半橋功率器件及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110146626.3 | 申請日: | 2021-02-03 |
| 公開(公告)號: | CN112967932A | 公開(公告)日: | 2021-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙鐵良;樊嘉杰;張國旗 | 申請(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號: | H01L21/48 | 分類號: | H01L21/48;H01L23/498;H01L27/088 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245 | 代理人: | 陸惠中;趙旭 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 gan 功率 器件 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了板級GaN半橋功率器件及其制備方法,屬于電氣領(lǐng)域,方法包括:S1獲取包括金屬芯板和絕緣底板的PCB板;S2在金屬芯板的頂面加工出第一圖形,在第一圖形上生長金屬形成第一圖形層;S3將GaN MOS Die固定在第一圖形層上;S4將銅箔通過固化片壓合在固晶后的PCB板的頂面上;S5在銅箔上鉆孔,且鉆孔的深度止于GaN MOS Die或金屬芯板;S6通過生長金屬填平鉆孔;S7在銅箔上加工出第二圖形,在第二圖形上生長金屬形成第二圖形層;S8將驅(qū)動IC及被動元件固定在第二圖形層上;S9從頂面壓合絕緣頂板進(jìn)行頂面密封;S10去除絕緣底板,在金屬芯板的底面加工出第三圖形,在第三圖形上生長金屬形成與銅箔連接的第三圖形層。本發(fā)明能夠提高加工效率,還能夠降低寄生電感。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電氣技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種板級GaN半橋功率器件及其制備方法。
背景技術(shù)
隨著封裝技術(shù)和集成電路的發(fā)展,小型化、模塊化已成為功率半導(dǎo)體器件的重要發(fā)展方向和趨勢之一,目前已在白色家電,消費電子等領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
GaN半橋功率器件因其小型化和模塊化的特點,已成為目前使用較為廣泛的功率器件。現(xiàn)有技術(shù)中,GaN半橋功率器件在生成時,多是采用銅框架結(jié)構(gòu),再塑封料灌封封裝,其中,功率GaN Mos、驅(qū)動IC和框架在同一層,并且采用打線(銅線或鋁線)互聯(lián),這就導(dǎo)致:寄生電感大;加工效率低,制作成本高,可靠性低;灌封封裝過程中需要塑封模具,脫模相對比較困難,從而影響GaN半橋功率器件的使用效果和生成效率。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)存在的GaN半橋功率器件生成效率低、寄生電感影響使用的問題,本發(fā)明的目的在于提供一種板級GaN半橋功率器件及其制備方法。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案為:
一方面,本發(fā)明提供一種板級GaN半橋功率器件的制備方法,包括以下步驟:
S1、獲取PCB板,所述PCB板包括金屬芯板和覆蓋在所述金屬芯板的底面的絕緣底板;
S2、在所述金屬芯板的頂面加工出第一圖形,并在所述第一圖形上生長金屬,形成第一圖形層;
S3、將GaN MOS Die固定在所述第一圖形層上;
S4、再將銅箔通過固化片壓合在固定好GaN MOS Die后的PCB板的頂面上;
S5、在銅箔上鉆孔,且鉆孔的深度止于所述GaN MOS Die或者所述金屬芯板;
S6、通過生長金屬填平所述鉆孔,使GaN MOS Die和金屬芯板均與銅箔導(dǎo)通;
S7、在銅箔上加工出第二圖形,并在所述第二圖形上生長金屬,形成第二圖形層;
S8、將驅(qū)動IC以及相應(yīng)的被動元件固定在所述第二圖形層上;
S9、再從頂面壓合絕緣頂板進(jìn)行頂面密封;
S10、去除金屬芯板底面覆蓋的絕緣底板,在金屬芯板的底面加工出第三圖形,并在第三圖形上生長金屬,形成第三圖形層,其中第三圖形層與銅箔連接。
優(yōu)選的,在S2、S6、S7和S10中,通過電鍍的方式生長金屬。
優(yōu)選的,在S2、S7和S10中,均通過刻蝕的方式加工所述第一圖形、所述第二圖形和所述第三圖形。
優(yōu)選的,在S5中,通過激光進(jìn)行鉆孔。
優(yōu)選的,在S2中,第一圖形層的厚度在2oz以上。
優(yōu)選的,在S3中,通過SMT或者固晶機(jī)將GaN MOS Die固定在所述第一圖形層上。
優(yōu)選的,在將GaN MOS Die固定在所述第一圖形層上之前,先在第一圖形層上印刷錫膏。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于復(fù)旦大學(xué),未經(jīng)復(fù)旦大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110146626.3/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





