[發明專利]實現主動勻場和量子計算的方法、系統及介質

有效

• 申請號: 202110143221.4
• 申請日: 2021-02-02
• 公開（公告）號: CN112946004B
• 公開（公告）日: 2022-04-29
• 發明（設計）人: 鄒宏洋
• 申請（專利權）人: 深圳量旋科技有限公司
• 主分類號: G01N24/08
• 分類號: G01N24/08;G01R33/38;G01R33/44;G06N10/20
• 代理公司: 深圳金偉創新專利代理事務所(普通合伙) 44628
• 代理人: 唐敏

1.一種基于內置單一樣品實現主動勻場和量子計算的方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

選擇一種用來作為主動勻場和量子計算的樣品，將所述樣品密封在核磁共振探頭內部，所述樣品為亞磷酸二甲酯；

在未開啟主動勻場的情況下，觀測所述樣品的¹H NMR信號；

在主動勻場的過程中，調節各階勻場線圈中的電流，觀察¹H NMR信號的變化，記錄不同電流下，譜線的峰高、半高寬以及20％峰高處的寬度；

對比改變電流前后峰高變化的百分比、半高寬和20％峰高寬度變化的百分比，根據這三個變化百分比來衡量改變電流后磁場是否更均勻，并得到利用所述樣品找到的磁場最均勻狀態對應的主動勻場參數；

在磁場最均勻狀態下，再次觀測所述樣品的¹H NMR信號；

通過射頻電磁場分別操控所述樣品的¹H NMR信號中直接耦合的兩原子核，利用該兩原子核的核磁矩進行量子計算門操作，以及讀取該兩原子核的最終狀態，得到量子計算參數。

2.根據權利要求1所述的基于內置單一樣品實現主動勻場和量子計算的方法，其特征在于，所述對比改變電流前后峰高變化的百分比、半高寬和20％峰高寬度變化的百分比，根據這三個變化百分比來衡量改變電流后磁場是否更均勻包括：

對比改變電流前后峰高變化的百分比、半高寬和20％峰高寬度變化的百分比，對這三個變化百分比加權求和來衡量改變電流后磁場是否更均勻。

3.根據權利要求1所述的基于內置單一樣品實現主動勻場和量子計算的方法，其特征在于，磁場越均勻，譜線的峰高越高，半高寬和20％峰高處的寬度越小。

4.根據權利要求1所述的基于內置單一樣品實現主動勻場和量子計算的方法，其特征在于，所述選擇一種用來作為主動勻場和量子計算的樣品，將所述樣品密封在核磁共振探頭內部包括：

選擇一種用來作為主動勻場和量子計算的樣品，將所述樣品直接密封在核磁共振探頭內部；或者，選擇一種用來作為主動勻場和量子計算的樣品，將所述樣品密封在標準核磁試管中，將密封好樣品的標準核磁試管密封在核磁共振探頭內部。

5.根據權利要求4所述的基于內置單一樣品實現主動勻場和量子計算的方法，其特征在于，所述標準核磁試管為直徑為5mm的標準核磁試管。

6.一種基于內置單一樣品實現主動勻場和量子計算系統，其特征在于，包括：核磁共振探頭，所述核磁共振探頭內密封有用來作為主動勻場和量子計算的樣品，所述系統還包括存儲器和處理器，所述存儲器上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-5中任一項所述的基于內置單一樣品實現主動勻場和量子計算的方法。

7.一種計算機存儲介質，其特征在于，所述計算機存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-5中任一項所述的基于內置單一樣品實現主動勻場和量子計算的方法。