[發明專利]顯示面板的檢測方法及其檢測裝置在審
| 申請號: | 202110136234.9 | 申請日: | 2021-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN112945984A | 公開(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發明(設計)人: | 王定力 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G01N21/88;G02F1/13 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 王紅紅 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 面板 檢測 方法 及其 裝置 | ||
本發明實施例公開了一種顯示面板的檢測方法及其檢測裝置。該顯示面板的檢測方法包括:在顯示面板與拍照設備之間設置第一偏光片;調整該第一偏光片,使由該顯示面板射向該第一偏光片的光線的偏振角度與經過該第一偏光片的光線的偏振角度的差值為第一角度;利用該拍照設備對該顯示面板的第一顏色畫面拍攝,得到第一顏色畫面照片;對該第一顏色畫面照片進行核檢。本發明實施例通過轉動設置在顯示面板與照相設備之間的第一偏光片,將正常像素點的亮度變暗,增大了異常像素點與正常像素點之間的對比度,方便觀察檢測顯示面板,提高了生產良率。
技術領域
本發明涉及顯示領域,具體涉及一種顯示面板的檢測方法及其檢測裝置。
背景技術
近些年,顯示面板在人民生活中的應用越發廣泛。
目前,傳統的自動檢查利用相機拍攝顯示面板顯示區域,檢出視覺缺陷將顯示面板缺陷特征參數或/和圖檔集中傳輸至核檢處,采用該攔檢方法時,部分異物或配向類壞點成像對比不夠明顯,會導致漏放及最終顯示面板良率下降的技術問題。
因此,亟需一種顯示面板的檢測方法及其檢測裝置以解決上述技術問題。
發明內容
本發明實施例提供一種顯示面板的檢測方法及其檢測裝置,可以解決目前攔檢方法中,部分異物和配向類壞點成像對比不夠明顯,會導致漏放及最終顯示面板良率下降的技術問題。
本發明實施例提供一種顯示面板的檢測方法,包括:
在顯示面板與拍照設備之間設置第一偏光片;
調整所述第一偏光片,使由所述顯示面板射向所述第一偏光片的光線的偏振角度與經過所述第一偏光片的光線的偏振角度的差值為第一角度;
利用所述拍照設備對所述顯示面板的第一顏色畫面拍攝,得到第一顏色畫面照片;
對所述第一顏色畫面照片進行核檢。
在一實施例中,所述第一顏色畫面為白色畫面。
在一實施例中,所述第一偏光片位于所述拍照設備上。
在一實施例中,所述第一偏光片連接有轉動單元以及控制所述轉動單元的控制單元,所述調整所述第一偏光片的步驟,包括:利用所述控制單元控制所述轉動單元使所述第一偏光片轉動,使由所述顯示面板射向所述第一偏光片的光線的偏振角度與經過所述第一偏光片的光線的偏振角度的差值為第一角度。
在一實施例中,所述調整所述第一偏光片,使由所述顯示面板射向所述第一偏光片的光線的偏振角度與經過所述第一偏光片的光線的偏振角度的差值為第一角度的步驟之前,還包括:利用所述拍照設備對所述顯示面板的第二顏色畫面進行拍攝,得到第二顏色畫面照片;對所述第二顏色畫面照片進行核檢。
在一實施例中,所述顯示面板的檢測方法還包括:調整所述第一偏光片,使由所述顯示面板射向所述第一偏光片的光線的偏振角度與經過所述第一偏光片的光線的偏振角度的差值為第二角度;利用所述拍照設備對所述顯示面板的第二顏色畫面進行拍攝,得到第二顏色畫面照片;對所述第二顏色畫面照片進行核檢。
在一實施例中,所述利用所述拍照設備對所述顯示面板的第一顏色畫面拍攝的曝光時間為第一曝光時間,所述利用所述拍照設備對所述顯示面板的第二顏色畫面拍攝的曝光時間均為第二曝光時間;其中,所述第一曝光時間大于所述第二曝光時間。
在一實施例中,所述第二顏色畫面為紅色畫面、綠色畫面、藍色畫面、黑色畫面、白色畫面以及灰色畫面中的任一種。
在一實施例中,所述第一角度為80°~90°。
本發明實施例還提供了一種顯示面板的檢測裝置,包括:
拍照設備;
位于所述拍照設備與顯示面板之間的第一偏光片;
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