[發(fā)明專利]一種復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110122114.3
• 申請(qǐng)日: 2021-01-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112698102A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-04-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪政;黃振;彭向陽(yáng);余欣;于是乎;魏俊濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02;G01R31/12;G01R31/52
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 陳旭紅;呂金金

1.一種復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試方法，其特征在于，包括：

獲取待測(cè)復(fù)合絕緣子被加載測(cè)試電壓時(shí)，護(hù)套與芯棒界面的泄漏電流I₂；

根據(jù)所述待測(cè)復(fù)合絕緣子的高度d、截面周長(zhǎng)c、護(hù)套與芯棒界面的泄漏電流I₂和界面電阻率計(jì)算公式，獲得所述待測(cè)復(fù)合絕緣子的護(hù)套與芯棒界面電阻率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試方法，其特征在于，所述獲取所述待測(cè)復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面的泄漏電流I₂，具體為：

分別檢測(cè)所述待測(cè)復(fù)合絕緣子帶護(hù)套時(shí)芯棒的泄漏電流I₀和去掉護(hù)套時(shí)芯棒的泄漏電流I₁，并根據(jù)如下公式計(jì)算護(hù)套與芯棒界面的泄漏電流I₂；

I₂＝I₀-I₁ (1)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試方法，其特征在于，在所述分別檢測(cè)所述待測(cè)復(fù)合絕緣子帶護(hù)套時(shí)芯棒的泄漏電流I₀和去掉護(hù)套時(shí)芯棒的泄漏電流I₁之前，還包括：

除去所述護(hù)套表面的污穢。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試方法，其特征在于，所述界面電阻率計(jì)算公式，具體為：

其中，ρ為所述待測(cè)復(fù)合絕緣子的護(hù)套與芯棒界面電阻率，U為加載在所述待測(cè)復(fù)合絕緣子兩端的測(cè)試電壓，I₂為護(hù)套與芯棒界面的泄漏電流，d、c分別為所述待測(cè)復(fù)合絕緣子的高度和截面周長(zhǎng)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試方法，其特征在于，還包括：

分別獲取待測(cè)復(fù)合絕緣子的高度d和截面周長(zhǎng)c。

6.一種復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試裝置，其特征在于，應(yīng)用于權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試方法，所述測(cè)試裝置包括：

測(cè)試電源，包括測(cè)試電極，所述測(cè)試電極用于加載在所述待測(cè)復(fù)合絕緣子的兩端，以對(duì)所述待測(cè)復(fù)合絕緣子產(chǎn)生測(cè)試電壓；

泄漏電流檢測(cè)器，用于檢測(cè)所述待測(cè)復(fù)合絕緣子帶護(hù)套時(shí)芯棒的泄漏電流I₀和去掉護(hù)套時(shí)芯棒的泄漏電流I₁。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電極產(chǎn)生12kV的測(cè)試電壓。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括剝削器，所述剝削器用于去掉所述待測(cè)復(fù)合絕緣子的護(hù)套。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的復(fù)合絕緣子護(hù)套與芯棒界面電阻率的測(cè)試裝置，其特征在于，所述剝削器包括刀具。