[發明專利]MCU模式控制電路、控制方法及MCU在審
| 申請號: | 202110101672.1 | 申請日: | 2021-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN112882422A | 公開(公告)日: | 2021-06-01 |
| 發明(設計)人: | 王浩遠 | 申請(專利權)人: | 廣州巨晟微電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G05B19/042 | 分類號: | G05B19/042 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 張志輝 |
| 地址: | 510700 廣東省廣州*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | mcu 模式 控制電路 控制 方法 | ||
本發明涉及微電子技術領域,公開了一種MCU模式控制電路、控制方法及MCU,MCU模式控制電路包括:模式檢測模塊(100),包括:第一模式選擇信號端、第二模式選擇信號端及第三模式選擇信號端,分別用于接收第一模式選擇信號、第二模式選擇信號及第三模式選擇信號;頻率檢測模塊(200),頻率檢測模塊(200)輸入端與第三模式選擇信號端連接,輸出端與模式檢測模塊(100)連接,用于檢測所述第三模式選擇信號的頻率。本發明至少具有以下有益效果:能夠使MCU可以更加穩定地工作在期望的模式下,適應不同的場景需求。
技術領域
本發明涉及微電子技術領域,特別涉及一種MCU模式控制電路、控制方法及MCU。
背景技術
隨著信息化的快速發展,人們生活中的智能電子產品越來越多,像智能電飯煲、電磁爐、熱水壺等電子產品日益滲透人們的日常生活當中,電子產品普及的同時也帶動了MCU產業的發展,每一個智能家電產品里面都有一顆MCU主控芯片。在技術發展與競爭推進的過程中,客戶對產品的質量要求越來越嚴格,對MCU性能的要求也越來越高,比如芯片的安全性能、良率要求、工作穩定性等。
現有技術中,在MCU芯片設計時,一般會基于MCU的各種使用場景設定不同的啟動模式,比如量產測試模式、eflash測試模式、eflash擦寫模式等等。在啟動過程中根據需要,可以選擇不同的啟動模式,現有技術的普遍做法是通過在啟動時對芯片的IO施加不同的電平組合從而進入不同的模式,通過該方法可以比較方便地改一下IO電平就能夠進入不同的模式,但同時也有明顯的缺點,就是容易誤入模式,造成不可挽回的后果。
發明內容
本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此,本發明提出一種MCU模式控制電路,能夠使MCU可以更加穩定地工作在期望的模式下,適應不同的場景需求。
本發明還提出一種具有上述MCU模式控制電路的MCU模式控制方法。
本發明還提出一種具有上述MCU模式控制電路及包括MCU模式控制方法的MCU。
根據本發明的第一方面實施例的MCU模式控制電路,包括:模式檢測模塊100,所述模式檢測模塊100包括:第一模式選擇信號端、第二模式選擇信號端及第三模式選擇信號端,分別用于接收第一模式選擇信號、第二模式選擇信號及第三模式選擇信號;頻率檢測模塊200,所述頻率檢測模塊200輸入端與所述第三模式選擇信號端連接,輸出端與所述模式檢測模塊100連接,用于檢測所述第三模式選擇信號的頻率。
根據本發明的一些實施例,還包括:嵌入式閃存控制模塊300,所述嵌入式閃存控制模塊300的一端與所述模式檢測模塊100雙向連接,用于生成控制信號,所述控制信號包括第一控制信號、第二控制信號與第三控制信號;嵌入式閃存400,所述嵌入式閃存400的一端與所述嵌入式閃存控制模塊300的另一端雙向連接;時鐘管理模塊500,輸入端與所述模式檢測模塊100連接;復位管理模塊600,輸入端與所述模式檢測模塊100連接。
根據本發明的一些實施例,所述模式檢測模塊100還包括:第一模式選擇單元110,所述第一模式選擇單元110的第一輸入端與所述第二模式選擇信號端連接,第二輸入端與所述第三模式選擇信號端連接;第二模式選擇單元120,所述第二模式選擇單元120的第一輸入端與所述第一模式選擇單元110連接,第二輸入端與所述第一模式選擇信號端連接;第三模式選擇單元130,所述第三模式選擇單元130的第一輸入端與所述第二模式選擇單元120連接,第二輸入端與所述嵌入式閃存控制模塊300的第二控制信號端連接,第三輸入端與所述嵌入式閃存控制模塊300的第三控制信號端連接;數據選擇單元140,所述數據選擇單元140的第一輸入端與所述第三模式選擇信號端連接,第二輸入端與所述頻率檢測模塊200連接,控制端與所述嵌入式閃存控制模塊300的第一控制信號端連接。
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