[發(fā)明專利]可實(shí)現(xiàn)激光遠(yuǎn)近場(chǎng)同時(shí)測(cè)量的單光路光學(xué)系統(tǒng)及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110096680.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112903248A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 袁索超;董曉娜;達(dá)爭(zhēng)尚 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G01M11/00 | 分類號(hào): | G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 王楊洋 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 實(shí)現(xiàn) 激光 遠(yuǎn)近 同時(shí) 測(cè)量 單光路 光學(xué)系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種可實(shí)現(xiàn)激光遠(yuǎn)近場(chǎng)同時(shí)測(cè)量的單光路光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:
包括沿激光傳輸方向依次同軸設(shè)置的光闌(1)、近場(chǎng)成像鏡頭和CCD探測(cè)器(7);
所述光闌(1)中心設(shè)置有十字形遮擋條,用于提供近場(chǎng)參考位置基準(zhǔn);
所述近場(chǎng)成像鏡頭為望遠(yuǎn)鏡頭結(jié)構(gòu),包括沿激光傳輸方向依次同軸設(shè)置的多片透鏡;
所述CCD探測(cè)器(7)的探測(cè)面相對(duì)光闌(1)共軛成像,且近場(chǎng)成像鏡頭中最靠近CCD探測(cè)器(7)一側(cè)的透鏡的二階鬼光焦點(diǎn)位于CCD探測(cè)器(7)的探測(cè)面上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實(shí)現(xiàn)激光遠(yuǎn)近場(chǎng)同時(shí)測(cè)量的單光路光學(xué)系統(tǒng),其特征在于:
所述光闌(1)的通光孔徑為方形或圓形。
3.一種可實(shí)現(xiàn)激光遠(yuǎn)近場(chǎng)同時(shí)測(cè)量的方法,其特征在于:
基于權(quán)利要求1或2所述的可實(shí)現(xiàn)激光遠(yuǎn)近場(chǎng)同時(shí)測(cè)量的單光路光學(xué)系統(tǒng),包括以下步驟:
1)將所述可實(shí)現(xiàn)激光遠(yuǎn)近場(chǎng)同時(shí)測(cè)量的單光路光學(xué)系統(tǒng),對(duì)準(zhǔn)待測(cè)激光光路;
2)使待測(cè)激光依次經(jīng)光闌(1)、近場(chǎng)成像鏡頭和CCD探測(cè)器(7),在CCD探測(cè)器(7)的探測(cè)面上相對(duì)光闌(1)共軛成像,實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)a的參數(shù)采集,同時(shí)CCD探測(cè)器(7)將待測(cè)激光近場(chǎng)a的參數(shù)數(shù)據(jù)反饋給待測(cè)激光的激光準(zhǔn)直系統(tǒng);
3)利用近場(chǎng)成像鏡頭中最靠近CCD探測(cè)器(7)一側(cè)透鏡的二階剩余反射鬼光進(jìn)行遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)量,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)場(chǎng)b的參數(shù)采集,同時(shí)CCD探測(cè)器(7)將待測(cè)激光遠(yuǎn)場(chǎng)b的參數(shù)數(shù)據(jù)反饋給待測(cè)激光的激光準(zhǔn)直系統(tǒng);
4)初調(diào)激光系統(tǒng),標(biāo)記調(diào)試好的激光系統(tǒng)對(duì)應(yīng)的待測(cè)激光近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng),分別作為近場(chǎng)基準(zhǔn)位置a0和遠(yuǎn)場(chǎng)基準(zhǔn)位置b0;
5)繼續(xù)采集待測(cè)激光的近場(chǎng)參數(shù)an和遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)bn數(shù)據(jù),激光準(zhǔn)直系統(tǒng)根據(jù)待測(cè)激光的近場(chǎng)參數(shù)an和遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)bn數(shù)據(jù),對(duì)激光系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控,若待測(cè)激光的近場(chǎng)參數(shù)an和遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)bn分別與近場(chǎng)基準(zhǔn)位置a0和激光遠(yuǎn)場(chǎng)基準(zhǔn)位置b0出現(xiàn)偏差,則激光準(zhǔn)直系統(tǒng)根據(jù)反饋的偏差值調(diào)節(jié)激光系統(tǒng);
6)重復(fù)步驟5)相同的操作,直至待測(cè)激光的近場(chǎng)參數(shù)an和遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)bn與基準(zhǔn)位置一致,實(shí)現(xiàn)激光光路自動(dòng)準(zhǔn)直。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所,未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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