[發明專利]模型生成、圖像分割方法、裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202110090537.1 | 申請日: | 2021-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN112750124B | 公開(公告)日: | 2021-11-09 |
| 發明(設計)人: | 唐雯;張榮國;李新陽;陳寬;王少康 | 申請(專利權)人: | 推想醫療科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06K9/34;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 100085 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 模型 生成 圖像 分割 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種模型生成方法,其特征在于,包括:
將獲取到的樣本圖像輸入至原始分割模型中,根據所述原始分割模型輸出的分割特征圖確定增強特征圖和分類向量;所述樣本圖像包括第一圖像和第二圖像;
根據所述增強特征圖中的第三特征圖和第四特征圖確定相似性損失函數,且根據所述分類向量和針對于已知目標的分類標簽確定分類損失函數;
將所述分類損失函數和所述相似性損失函數反向輸入到所述原始分割模型,調節所述原始分割模型的網絡參數,生成圖像分割模型;
其中,所述第三特征圖中的目標信息多于所述分割特征圖中與所述樣本圖像中的第一圖像對應的第一特征圖,且所述第四特征圖中的所述目標信息多于所述分割特征圖中與所述樣本圖像中的第二圖像對應的第二特征圖,所述第二圖像是對所述第一圖像進行降維后得到的圖像;
所述根據所述增強特征圖中的第三特征圖和第四特征圖確定相似性損失函數,且根據所述分類向量和針對于已知目標的分類標簽確定分類損失函數之前,還包括:所述第一特征圖和所述第二特征圖分別由所述第一圖像和所述第二圖像輸入至所述原始分割模型獲得;根據所述第一特征圖確定的增強特征圖為所述第三特征圖;根據所述第二特征圖確定的增強特征圖為所述第四特征圖。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述原始分割模型輸出的分割特征圖確定增強特征圖,包括:
獲取所述原始分割模型輸出的分割特征圖、以及包含所述目標信息的信息特征圖,其中,所述信息特征圖包括下述中的至少一個:所述樣本圖像、在將所述樣本圖像輸入至所述原始分割模型之后,經由所述原始分割模型內各分割網絡中的預設分割網絡輸出的特征圖、及將所述樣本圖像和所述預設分割網絡輸出的特征圖進行拼接后得到的特征圖;
根據所述信息特征圖和所述分割特征圖確定全局注意力圖,并根據所述全局注意力圖和所述分割特征圖得到增強特征圖。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述增強特征圖中的第三特征圖和第四特征圖確定相似性損失函數,包括:
根據所述增強特征圖中的第三特征圖和第四特征圖確定第一損失函數;和/或,根據所述第一特征圖和所述第四特征圖確定第二損失函數,并且根據所述第二特征圖和所述第三特征圖確定第三損失函數;
相應的,所述將所述分類損失函數和所述相似性損失函數反向輸入到所述原始分割模型,包括:
將所述分類損失函數和所述第一損失函數、或是所述分類損失函數、所述第二損失函數和所述第三損失函數、或所述分類損失函數、所述第一損失函數、所述第二損失函數和所述第三損失函數反向輸入到所述原始分割模型中。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,還包括:
針對所述分割特征圖中的每個目標像素點,從所述分割特征圖中分別獲取所述目標像素點的目標分割向量和與所述目標像素點臨近的臨近像素點的臨近分割向量,并根據所述目標分割向量和所述臨近分割向量確定分割損失函數;
將各所述分割損失函數反向輸入到所述原始分割模型。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述目標像素點是所述分割特征圖中滿足預設分割策略的分割概率對應的像素點,且所述目標像素點包括目標前景點或是目標背景點;
所述臨近像素點是所述分割特征圖中以所述目標像素點為中心的預設范圍內的滿足所述預設分割策略的所述分割概率對應的像素點,且所述臨近像素點包括臨近前景點或是臨近背景點;
所述根據所述目標分割向量和所述臨近分割向量確定分割損失函數,包括:
確定所述目標像素點和所述臨近像素點的像素點類別是否一致,根據確定結果、所述目標分割向量和所述臨近分割向量確定分割損失函數。
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