[發明專利]用于測試被測設備的方法和測試系統

在審

• 申請號: 202110088480.1
• 申請日: 2021-01-22
• 公開（公告）號: CN113300787A
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 沃爾夫岡·德萊塞;亞歷山大·羅斯;弗洛里安·拉米安
• 申請（專利權）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29;H04B17/309;H04B17/354
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 譚營營;胡彬

1.一種用于通過使用測試系統(10)來測試被測設備(12)的方法，所述方法包括以下步驟：

-通過至少一個矢量信號發生器(14)生成寬帶調制信號，

-經由至少一個定向元件(16)將所述寬帶調制信號轉發到被測設備(12)的輸入(22)，

-通過所述定向元件(16)分離在所述被測設備(12)的所述輸入(22)處反射的電磁波，

-經由所述定向元件(16)將所述反射的電磁波轉發到矢量信號分析器(24)，所述矢量信號分析器(24)與所述矢量信號發生器(14)具有定義的相位關系，

-通過所述矢量信號分析器(24)處理參考信號，其中所述參考信號與所述寬帶調制信號相關聯，以及

-通過考慮所述參考信號和所述被測設備(12)的由所述矢量信號分析器(24)確定的至少一個散射參數來確定信道響應，其中所述散射參數取決于所述反射的電磁波。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述反射的電磁波與轉發到所述被測設備(12)的所述寬帶調制信號相關聯。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中所述信道響應與在所述矢量信號發生器(14)和所述被測設備(12)之間建立的信道相關聯。

4.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中所述至少一個散射參數還取決于與所述寬帶調制信號相關聯的入射電磁波。

5.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中所述矢量信號分析器(24)從所述被測設備(12)的輸出(32)接收傳輸的信號。

6.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中通過考慮所述參考信號、所述被測設備(12)的S11參數和所述被測設備(12)的S21參數來確定所述信道響應。

7.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中同時確定調制精度和/或非線性效應，和/或其中執行熱態S參數測量。

8.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中第二定向元件(30)與所述被測設備(12)的輸出(32)連接，并且其中所述被測設備(12)的S22參數通過所述矢量信號發生器(14)和所述矢量信號分析器(24)來確定。

9.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中所述被測設備(12)的不同S參數隨后被測量，或者其中所述被測設備(12)的不同S參數被同時測量，同時將各個電磁波映射到所述矢量信號分析器(24)的不同端口。

10.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中使用系統誤差校正來定義參考平面并補償所述測試系統(10)內的至少一個非理想組件。

11.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中所述矢量信號分析器(24)經由與所述矢量信號發生器(14)連接的數據輸入端(34)和/或射頻輸入端(36)接收所述參考信號。

12.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中所述被測設備(12)的S參數、調制精度和非線性效應利用所述測試系統(10)的相同設置來確定。