[發明專利]一種電子元件性能檢測試驗臺

在審

• 申請號: 202110070603.9
• 申請日: 2021-01-19
• 公開（公告）號: CN112871760A
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 黃麗瑩
• 申請（專利權）人: 廣州高慧網絡科技有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/36;B07C5/02
• 代理公司: 深圳市蘭鋒盛世知識產權代理有限公司 44504
• 代理人: 羅炳鋒

1.一種電子元件性能檢測試驗臺，包括實驗臺，其特征在于：所述實驗臺內設有傳送機構，所述傳送機構包括設置在所述實驗臺內的實驗腔，所述實驗腔上側內壁上下貫通設有置物框，所述置物框內上下貫通設有置物腔，所述實驗腔后側內壁左右對稱轉動設有兩個第一傳送軸，左側所述第一傳送軸后端面轉動設有工作電機，所述工作電機固定設置在所述實驗腔后側內壁，所述第一傳送軸上固定設有第一傳送帶輪，所述第一傳送帶輪上繞有第二傳送帶，所述第二傳送帶上設有置物槽，所述實驗腔后側內壁左右對稱轉動設有兩個第二傳送軸，所述第二傳送軸上固定設有第二傳送帶輪，所述第二傳送帶輪上繞有所述第二傳送帶；

所述實驗腔內設有檢測機構，所述檢測機構包括固定設置在所述第二傳送帶上的工作框，所述工作框內設有工作腔，所述工作腔下側內壁設有開口向下的半環形腔，所述工作腔下側內壁固定設有光學傳感器，所述工作腔下側內壁固定設有轉動電機，所述轉動電機與所述光學傳感器電連接，所述轉動電機上端面轉動設有豎軸，所述工作腔左側內壁固定設有固定塊，所述固定塊內上下貫通設有扭簧槽，所述轉動電機上端面轉動設有豎軸，所述豎軸與所述扭簧槽間設有復位扭簧，所述豎軸上摩擦設有圓盤，所述圓盤上上下貫通設有壓碎槽與頂動槽，所述壓碎槽內能夠上下移動設有壓碎桿，所述壓碎桿上從上往下依次固定設有復位板與壓碎板，所述復位板下端面與所述圓盤上端面間連接有伸縮彈簧，所述壓碎桿前端面固定設有傳動齒條。

2.根據權利要求1所述的一種電子元件性能檢測試驗臺，其特征在于：所述實驗腔下側內壁放置有雜物框與收集框，所述雜物框放置在所述收集框左側，所述雜物框內設有開口向上的雜物腔，所述光學傳感器內設有開口向上的收集腔，左側所述第一傳送軸上固定設有第一帶輪，所述第一帶輪上繞有皮帶，右側所述第二傳送軸上固定設有第二帶輪，所述第二帶輪上繞有所述皮帶，所述實驗腔前側內壁與后側內壁固定設有兩組導電條，兩組導電條的正負極相反，所述實驗腔后側內壁固定設有推動塊，所述推動塊設置在所述導電條左側。

3.根據權利要求2所述的一種電子元件性能檢測試驗臺，其特征在于：所述頂動槽內能夠上下移動設有推動桿，所述推動桿后端面固定設有接觸齒條，所述推動桿上固定設有限制板，所述限制板下端面與所述圓盤上端面間連接有限制彈簧，所述圓盤下端面固定設有帶動板，所述帶動板左側內壁設有開口向下的收納腔，所述收納腔內能夠上下移動設有升降板，所述升降板上端面與所述收納腔上側內壁間連接有連接彈簧，所述升降板內設有升降腔，所述升降腔前側內壁前后貫通設有連通口，所述升降腔內能夠上下移動設有推動板，所述升降腔下側內壁設有開口向上的斜面槽，所述推動板下端面固定設有斜面塊，所述推動板內設有限制槽，所述限制槽內能夠前后移動設有限位塊，所述限位塊上端面連接有彈性繩，所述彈性繩另一端連接在所述收納腔上側內壁上，所述斜面塊內設有滑動槽，所述滑動槽內能夠上下移動設有滑動塊，所述滑動塊后端面與所述斜面槽后側內壁間連接有推動彈簧。

4.根據權利要求3所述的一種電子元件性能檢測試驗臺，其特征在于：所述工作腔后側內壁前后貫通設有推動口，所述推動口內能夠前后移動設有頂桿，所述頂桿前端面固定設有載物塊，所述載物塊后端面與所述工作腔后側內壁間連接有復位彈簧，所述載物塊左側內壁固定設有傳動電機，所述傳動電機右端面轉動設有主動軸，所述主動軸上固定設有電機齒輪。

5.根據權利要求4所述的一種電子元件性能檢測試驗臺，其特征在于：所述第一傳送帶輪轉動的線速度與所述第二傳送帶輪轉動的線速度相同，即轉動時，所述工作框能與所述置物槽相對應。