[發明專利]一種MEMS絕壓式壓力傳感器及其加工方法有效
| 申請號: | 202110070350.5 | 申請日: | 2021-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN112897450B | 公開(公告)日: | 2022-11-11 |
| 發明(設計)人: | 郭偉龍;焦海龍;陳家林;楊挺;王曉宇;張曉永;張洪濤;張皓;王健 | 申請(專利權)人: | 北京遙測技術研究所;航天長征火箭技術有限公司 |
| 主分類號: | B81B7/00 | 分類號: | B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00;G01L1/14;G01L9/12 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 陳鵬 |
| 地址: | 100076 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 mems 絕壓式 壓力傳感器 及其 加工 方法 | ||
1.一種MEMS絕壓式壓力傳感器,其特征在于,包括玻璃蓋板(100)、硅感壓膜(200)和玻璃襯底(300);所述硅感壓膜(200)的一面與玻璃襯底(300)陽極鍵合,并形成兩個連通的真空參考腔,硅感壓膜(200)的另一面與玻璃蓋板(100)陽極鍵合,并形成兩個獨立的開放式氣體感壓結構,兩個連通的真空參考腔與兩個獨立的開放式氣體感壓結構上下對應,兩個連通的真空參考腔與硅感壓膜(200)構成串聯互感雙電容結構,硅感壓膜(200)上加工有引線電極(202),用于引出氣壓檢測信號;
所述玻璃蓋板(100)上加工有兩個引壓通孔(101)和兩個分別與引壓通孔(101)靠近的電極通孔(102),引壓通孔(101)用于硅感壓膜(200)與玻璃蓋板(100)陽極鍵合后與硅感壓膜(200)形成兩個獨立的開放式氣體感壓結構,電極通孔(102)用于在硅感壓膜(200)上形成引線電極(202),使電極引線自傳感器上部引出;
所述硅感壓膜(200)與玻璃蓋板(100)的鍵合面的背面上刻蝕兩處分立的硅電極板(201),硅感壓膜(200)與玻璃蓋板(100)陽極鍵合后硅電極板(201)的覆蓋范圍包括引壓通孔(101)和電極通孔(102)對應區域,兩個電極通孔(102)底面包圍的硅電極板(201)上分別加工有引線電極(202);
所述玻璃襯底(300)的中心區域加工有兩個坑槽(301),硅感壓膜(200)與玻璃蓋板(100)、玻璃襯底(300)陽極鍵合后坑槽(301)與引壓通孔(101)靠近硅感壓膜(200)側的孔形一致,且位于硅電極板(201)的區域內,并與硅電極板(201)形成真空參考腔;坑槽(301)中間有長條形溝槽連通,整體形似啞鈴,兩個坑槽(301)的底面濺射小于坑槽(301)底面積的電極膜(302)。
2.根據權利要求1所述的MEMS絕壓式壓力傳感器,其特征在于,所述兩個引壓通孔(101)靠近硅感壓膜(200)側的孔形為圓形,且孔徑相同。
3.根據權利要求1所述的MEMS絕壓式壓力傳感器,其特征在于,所述硅感壓膜(200)的基體材料為晶圓級N型單晶硅,電阻率<0.001Ω·cm。
4.根據權利要求1所述的MEMS絕壓式壓力傳感器,其特征在于,所述坑槽(301)的深度為5μm~100μm,且兩個坑槽(301)的深度相同;和/或
所述電極膜(302)的材料為吸氣劑金屬。
5.根據權利要求1至4之一所述的MEMS絕壓式壓力傳感器,其特征在于,所述硅感壓膜(200)的厚度為0.5±0.1μm至2000±0.3μm,引壓通孔(101)靠近硅感壓膜(200)側的孔徑為0.5~5mm,傳感器的測壓量程為1kpa~50Mpa。
6.根據權利要求1所述的MEMS絕壓式壓力傳感器,其特征在于,所述坑槽(301)的深度為5μm~100μm,電極膜(302)的厚度為100nm-1μm,傳感器電容的本征值大小為1pF~15pF。
7.一種權利要求1至6之一所述的MEMS絕壓式壓力傳感器的加工方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1,對玻璃晶圓雙面濺射金屬薄膜層和涂覆光刻膠,作為抗干法刻蝕或濕法腐蝕的掩模層,利用光刻及金屬腐蝕在玻璃晶圓上完成引壓通孔(101)和電極通孔(102)掩膜圖形化,并使用濕法腐蝕完成引壓通孔(101)和電極通孔(102)的制備;
步驟2,將經過濕法清洗和干法活化后的玻璃蓋板(100)與硅感壓膜(200)進行陽極鍵合,其中玻璃蓋板(100)的鍵合面為引壓通孔(101)錐形孔孔徑較小的一面,硅感壓膜(200)晶圓則任選一面;
步驟3,利用光刻圖形化結合干法刻蝕,將與玻璃蓋板(100)鍵合后的硅感壓膜(200)的未鍵合面刻蝕出分立的硅電極板(201);
步驟4,對玻璃晶圓濺射金屬薄膜層和涂覆光刻膠,作為抗干法刻蝕或濕法腐蝕的掩模層,經曝光顯影并對掩膜層金屬腐蝕圖形化后,使用濕法腐蝕或干法刻蝕玻璃襯底(300)得到兩個相等大小的坑槽(301),坑槽(301)直徑與引壓通孔(101)錐形孔小徑相同,均小于硅電極板(201);經涂覆光刻膠、曝光、顯影、濺射吸氣劑金屬、lift-off工藝在所述各個坑槽(301)的底面完成電極膜(302)的制備;
步驟5,經濕法清洗、干法活化的硅感壓膜(200)的硅面與玻璃襯底(300)加工了硅電極板(201)的一面陽極鍵合,然后在惰性氣氛下高溫退火激活電極膜(302)獲得真空參考腔;
步驟6,在玻璃蓋板(100)非鍵合的一面涂覆光刻膠、曝光、顯影后采用等離子濺射方法沉積金屬材料,而后通過lift-off工藝去除光刻膠及其上的多余金屬,在電極通孔(102)中留下引線電極(202),經退火后與硅感壓膜(200)形成歐姆接觸。
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