[發(fā)明專利]一種反應(yīng)堆單晶硅輻照控制系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110069471.8 | 申請日: | 2021-01-19 |
| 公開(公告)號: | CN112885493B | 公開(公告)日: | 2022-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蔣波;王云波;江易蔚;劉榮;李加剛;李子彥;陳夢雪;武文超;杜雙;李自強(qiáng);李普;唐錫定;羅欣;李林洪;徐兵 | 申請(專利權(quán))人: | 中國核動力研究設(shè)計院 |
| 主分類號: | G21C17/10 | 分類號: | G21C17/10;G21C17/108 |
| 代理公司: | 成都行之專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 李朝虎 |
| 地址: | 610000 四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 反應(yīng)堆 單晶硅 輻照 控制系統(tǒng) | ||
1.一種反應(yīng)堆單晶硅輻照控制系統(tǒng),其特征在于,包括輻照裝置、傳感裝置、控制裝置;
所述輻照裝置包括:豎直設(shè)置的反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)、待輻照的單晶硅;
傳感裝置包括:沿反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)的i個高度設(shè)置了對應(yīng)的i個中子探測器;i大于或等于2;
i個高度包括:沿反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)豎直方向從下往上依次設(shè)置的第1高度、第2高度、…、第N高度、第N+1高度、…、第i高度,第1高度、第2高度、…、第N高度、第N+1高度、…、第i高度對應(yīng)的瞬時中子注量率依次變小;
控制裝置包括:主控計算機(jī)(10)、單晶硅位置控制裝置;
主控計算機(jī)(10):
在單晶硅位于第N高度時、用“位于第N高度的第N中子探測器的瞬時中子注量率ZLLN”進(jìn)行積分、得到“單晶硅位于第N高度時的輻照積分總通量ZTLj,N”;
根據(jù)“單晶硅位于第N高度時的輻照積分總通量ZTLj,N”、…、“單晶硅位于第N-1高度時的輻照積分總通量ZTLj,N-1”、…、“單晶硅位于第1高度時的輻照積分總通量ZTLj,1”求和、得到“單晶硅已獲輻照總中子通量ZN”;
若“單晶硅已獲輻照總中子通量ZN”達(dá)到“第N閾值”時,輸出由第N高度移動到第N+1高度的“第N提位位移指令”;
主控計算機(jī)(10):預(yù)存有“致使中子輻照嬗變摻雜摻雜濃度達(dá)到目標(biāo)值時、單晶硅所需輻照總中子通量閾值”,預(yù)存有至少1個提位閾值,所有提位閾值均小于“致使中子輻照嬗變摻雜摻雜濃度達(dá)到目標(biāo)值時、單晶硅所需輻照總中子通量閾值”;“第N閾值”為提位閾值中的一個;
單晶硅位置控制裝置:用于根據(jù)每次提位位移指令控制單晶硅逐級提升高度、直到單晶硅移出反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種反應(yīng)堆單晶硅輻照控制系統(tǒng),其特征在于,
主控計算機(jī)(10):
在單晶硅位于照前高度時、主控計算機(jī)(10)向單晶硅位置控制裝置發(fā)出“初始高度位移指令”;
單晶硅位置控制裝置根據(jù)“初始高度位移指令”、控制單晶硅從反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)外的照前高度移動到反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)內(nèi)的初始高度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種反應(yīng)堆單晶硅輻照控制系統(tǒng),其特征在于,
初始高度對應(yīng)于第1高度。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種反應(yīng)堆單晶硅輻照控制系統(tǒng),其特征在于,
初始高度:為反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)內(nèi)“中子注量均勻分布度最佳段”所在高度;
初始高度由主控計算機(jī)(10)生成:
每個高度上設(shè)置有J個沿反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)內(nèi)壁設(shè)置的中子探測器;
主控計算機(jī)(10)根據(jù)每個高度的J個中子探測器而獲得的J個瞬時中子注量率、擬合出每個高度所對應(yīng)的中子注量均勻分布度;主控計算機(jī)(10)選出中子注量均勻分布度最佳的一段作為“中子注量均勻分布度最佳段”,主控計算機(jī)(10)根據(jù)“中子注量均勻分布度最佳段”對應(yīng)的高度作為初始高度,“初始高度位移指令”的內(nèi)容包含初始高度。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種反應(yīng)堆單晶硅輻照控制系統(tǒng),其特征在于,
初始高度:為反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)內(nèi)“中子注量均勻分布度最佳段”所在高度;
初始高度由主控計算機(jī)(10)生成;
主控計算機(jī)(10)根據(jù)每個高度的中子探測器獲得的瞬時中子注量率、擬合出整個反應(yīng)堆堆芯輻照孔道(16)的中子注量分布;主控計算機(jī)(10)從中子注量分布中標(biāo)記均勻度最佳的一段作為“中子注量均勻分布度最佳段”,主控計算機(jī)(10)根據(jù)“中子注量均勻分布度最佳段”對應(yīng)的高度作為初始高度,“初始高度位移指令”的內(nèi)容包含初始高度。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種反應(yīng)堆單晶硅輻照控制系統(tǒng),其特征在于,
主控計算機(jī)(10)輸出的指令包括:依時間先后次序的“初始高度位移指令”、“第1提位位移指令”、…、“第N提位位移指令”、“第N+1提位位移指令”、…“第i提位位移指令”。
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