[發明專利]一種用于電子元器件老煉測試夾具

在審

• 申請號: 202110068962.0
• 申請日: 2021-01-19
• 公開（公告）號: CN112858736A
• 公開（公告）日: 2021-05-28
• 發明（設計）人: 孫芮
• 申請（專利權）人: 青島精銳人力資源管理有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供一種用于電子元器件老煉測試夾具，包括安裝結構；所述安裝結構上鉸接安裝有四組輔助結構；所述安裝結構上鉸接安裝有兩組下料結構；所述安裝結構上滑動安裝有固定結構；所述固定結構的兩端安裝有緊固結構；所述緊固結構的內端安裝有控制結構；所述安裝結構上放置有測試件，將固定條直接滑動安裝在安裝架內部，在將固定條上的緊固片設置呈傾斜結構的銅片，因為緊固片能夠與開槽相互對應，使得在滑動緊固條后能夠讓緊固片直接卡入開槽，凸出的偏心塊鉸接在固定條上，使得在轉動調節連接桿時，能夠讓固定條沿著一個半圓的圓弧的軌跡運動，從而實現對測試件的卡緊與放松運動，從而完成夾具整體的固定卡緊工作。

技術領域

本發明屬于電子檢測設備技術領域，更具體地說，特別涉及一種用于電子元器件老煉測試夾具。

背景技術

老煉也稱“老化”，是指在一定的環境溫度下、較長的時間內對元器件連續施加一定的電應力，通過電-熱應力的綜合作用來加速元器件內部的各種物理、化學反應過程，促使隱藏于元器件內部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到剔除早期失效產品的目的，且老練檢測既能夠將具有缺陷的元件剔除，還能夠對無缺陷的元器件促使其電參數穩定的效果。

申請號：CN201811282748.X的專利中，本發明公開了一種電子元器件老煉測試夾具，包括底座，所述底座頂端對應推進齒條一側位置處通過耳板安裝有固定軸，所述固定軸一端安裝有第二齒輪，固定軸另一端安裝有蝸輪，底座頂端對應蝸輪一側位置處安裝有蝸桿，蝸桿頂端安裝有調節旋鈕，本發明結構科學合理，使用安全方便，通過蝸輪蝸桿的自鎖特性，有效避免了滑塊在老練測試時可能產生的滑動，解決了現有滑塊的位置滑動，使得正極頂針脫離待測電子元器件，造成老練測試中斷的問題；避免因待測電子元器件放置后容易發生滑動或脫離等意外情況，造成老煉測試中斷或失敗。

申請號：CN201320638677.9的專利中，本實用新型公開了一種電子元器件老煉測試夾具，屬于檢測工裝；旨在提供一種操作簡單高效、使用壽命長、通電接觸可靠的電子元器件測試夾具。它包括定位裝置和夾緊機構；定位裝置為固定在底座（3）上帶有若干定位腔（8）的定位塊（11），夾緊機構由排列在底座（3）上的保險管（10）、固定在底座（3）上的導向塊（6）、設在底座（3）上的滑塊（1）、連接該滑塊與導向塊（6）的拉簧（5）、設在滑塊（1）與導向塊（6）之間的凸輪（4）、穿過導向孔固定在滑塊（1）上的正極頂針（7）、設在定位塊（11）上與各保險管（10）及各正極頂針（7）對應的負極頂針（9）構成。本實用新型是一種用于檢測電子元件老化性能的夾具。

基于上述，現有的檢測過程所使用的夾具較為單一，且在使用時隨能夠安裝對個元件進行檢測，但在拆卸元件時需要逐個拆卸較為不便，而電阻與二極管等原件兩端帶有針腳，拆卸時造成損傷的現象。

于是，有鑒于此，針對現有的結構及缺失予以研究改良，提供一種用于電子元器件老煉測試夾具，以期達到更具有更加實用價值性的目的。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供一種用于電子元器件老煉測試夾具，以解決現有檢測過程所使用的夾具較為單一，且在使用時隨能夠安裝對個元件進行檢測，但在拆卸元件時需要逐個拆卸較為不便，而電阻與二極管等原件兩端帶有針腳，拆卸時造成損傷的問題。

本發明用于電子元器件老煉測試夾具的目的與功效，由以下具體技術手段所達成：

一種用于電子元器件老煉測試夾具，包括安裝結構；所述安裝結構上鉸接安裝有四組輔助結構；所述安裝結構上鉸接安裝有兩組下料結構；所述安裝結構上滑動安裝有固定結構；所述固定結構的兩端安裝有緊固結構；所述緊固結構的內端安裝有控制結構；所述安裝結構上放置有測試件。

進一步的，所述安裝結構還包括有安裝板、安裝架、輔助板，安裝板上設置有四組安裝架，且每兩組安裝架設置呈對稱的結構，兩組對稱的安裝架之間設置有輔助板，輔助板與安裝架上均開設有開槽，開槽整體呈倒三角形的結構。