[發明專利]一種準垂直二極管在審
| 申請號: | 202110064652.1 | 申請日: | 2021-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN112750894A | 公開(公告)日: | 2021-05-04 |
| 發明(設計)人: | 王中旭 | 申請(專利權)人: | 陜西君普新航科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/20;H01L29/45;H01L29/47;H01L29/861 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 王海棟 |
| 地址: | 712000 陜西省西安市西咸*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 垂直 二極管 | ||
本發明公開了一種準垂直二極管,包括:襯底層;緩沖層,所述緩沖層位于所述襯底層上;勢壘層,所述勢壘層位于所述緩沖層上,所述勢壘層具有N面;溝道層,所述溝道層位于所述勢壘層上,所述溝道層具有N面;第一陰極、陽極、第二陰極,所述第一陰極、所述陽極、所述第二陰極均位于所述溝道層上,且所述陽極位于所述第一陰極和所述第二陰極之間,所述第一陰極、所述第二陰極與所述溝道層之間為歐姆接觸,所述陽極與所述溝道層之間為肖特基接觸。本發明的準垂直二極管具有N面勢壘層和溝道層,勢壘層在2DEG下方,因此可以形成天然的背勢壘,將2DEG限制在界面處,同時由于第一陰極與第二陰極直接與禁帶寬度較小的溝道層接觸,能夠形成電阻較低且質量較高的歐姆接觸。
技術領域
本發明屬于半導體技術領域,具體涉及一種準垂直二極管。
背景技術
以Si、GaAs等傳統半導體材料為基礎的器件由于受到材料本身屬性的限制,在功率和耐擊穿電壓等器件指標上很難再有進一步的提高。近年來以Ⅲ族氮化物為代表的新一代寬禁帶半導體材料發展迅猛,具有寬帶隙、高飽和電子漂移速度、高臨界擊穿場強、高熱導率和化學性質穩定的優點,在毫米波、亞毫米波大功率電子器件領域極具發展潛力。GaN材料作為寬禁帶半導體材料的典型代表,非常適合制備高溫、抗輻射、高工作頻率和大功率器件,在航空航天、雷達、通信等領域得到了廣泛應用,目前基于GaN的二極管器件的研究是目前國際上的熱點之一。
通常,GaN的二極管器件中的異質結結構為Ga面AlGaN/GaN結構,由于極化效應,AlGaN/GaN界面處會形成面密度極高且具有較高遷移率的二維電子氣(2DEG)。盡管Ga面AlGaN/GaN二極管具有諸多優勢,但其仍存在如下缺點:要實現陰極與2DEG連接,需要通過阻值較大且禁帶寬度較寬的AlGaN勢壘層,歐姆接觸形成難度大,質量較差。
發明內容
為了解決現有技術中存在的上述問題,本發明提供了一種準垂直二極管。本發明要解決的技術問題通過以下技術方案實現:
一種準垂直二極管,包括:
襯底層;
緩沖層,所述緩沖層位于所述襯底層上;
勢壘層,所述勢壘層位于所述緩沖層上,所述勢壘層具有N面;
溝道層,所述溝道層位于所述勢壘層上,所述溝道層具有N面;
第一陰極、陽極、第二陰極,所述第一陰極、所述陽極、所述第二陰極均位于所述溝道層上,且所述陽極位于所述第一陰極和所述第二陰極之間,所述第一陰極、所述第二陰極與所述溝道層之間為歐姆接觸,所述陽極與所述溝道層之間為肖特基接觸。
在本發明的一個實施例中,所述襯底層的材料為藍寶石、SiC、Si和GaN中的任意一種。
在本發明的一個實施例中,所述緩沖層的材料為GaN、AlN、AlGaN和InGaN中的至少一種。
在本發明的一個實施例中,所述勢壘層的材料為N面AlScN,所述溝道層為N面GaN。
在本發明的一個實施例中,所述勢壘層的晶向為N面所述溝道層的晶向為N面
在本發明的一個實施例中,所述勢壘層中的Sc組分范圍為0-55%。
在本發明的一個實施例中,所述第一陰極和所述第二陰極的材料均為Ti/Al/Ni/Au或者Ti/Al/Pt/Au。
在本發明的一個實施例中,所述準垂直二極管還包括插入層,所述插入層位于所述勢壘層與溝道層之間。
在本發明的一個實施例中,所述插入層的材料為AlN、InAlN、AlGaN中的任意一種。
本發明的有益效果:
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