[發明專利]一種評估PVA光學薄膜質量的方法有效
| 申請號: | 202110063286.8 | 申請日: | 2021-01-18 |
| 公開(公告)號: | CN112858084B | 公開(公告)日: | 2022-08-02 |
| 發明(設計)人: | 吳福勝;唐成宏;吳云柱;向學毅;劉密密;陳玉春;丁麗 | 申請(專利權)人: | 安徽皖維高新材料股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N5/04 | 分類號: | G01N5/04 |
| 代理公司: | 安徽省合肥新安專利代理有限責任公司 34101 | 代理人: | 盧敏 |
| 地址: | 238002 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 評估 pva 光學薄膜 質量 方法 | ||
1.一種評估PVA光學薄膜質量的方法,其特征在于:將PVA光學薄膜進行膨潤,通過增塑劑在PVA光學薄膜中的溶出速率與膨潤時間的關系,判斷增塑劑與膜中PVA的結合狀況,進而評估PVA光學薄膜質量;具體包括如下步驟:
步驟1、將若干等質量的待評估PVA光學薄膜在恒定溫濕度下平衡后,放入水中進行膨潤,膨潤時間分別設定為
步驟2、膨潤結束后,將薄膜取出并吸干膜面水分,然后加入到水中,加熱使薄膜充分溶解,再按照GB/T 13216.6-91測試溶液中的增塑劑甘油濃度,從而獲得膨潤
步驟3、根據步驟2的結果,計算在
步驟4、根據步驟3的結果,以膨潤時間
2.根據權利要求1所述的一種評估PVA光學薄膜質量的方法,其特征在于:設定15s≤
3.根據權利要求1所述的一種評估PVA光學薄膜質量的方法,其特征在于:若R2≥0.990,則待評估PVA光學薄膜為優級品;若0.855≤R20.990,則待評估PVA光學薄膜為中端品;若0.75≤R20.855,則待評估PVA光學薄膜為低端品;若R20.75,則待評估PVA光學薄膜為劣質品。
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